測(cè)試基礎(chǔ) 文章 進(jìn)入測(cè)試基礎(chǔ)技術(shù)社區(qū)
IC測(cè)試原理解析(第四部分―射頻/無線芯片測(cè)試基礎(chǔ))
- 芯片測(cè)試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測(cè)試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測(cè)試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲(chǔ)器和邏輯芯片的測(cè)試中的應(yīng)用，第三章介紹了
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電路板測(cè)試基礎(chǔ)
- 一、為什么要關(guān)心供電質(zhì)量?在辦公室和家里的“單相”供電環(huán)境里，總希望有持續(xù)不斷的220V電源為電路中的設(shè)備供電。事實(shí)上，電壓是持續(xù)變化的。為更好地理解電能質(zhì)量，可以用路上行駛的汽車做比喻：道路質(zhì)量
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IC測(cè)試原理解析(第四部分―射頻/無線芯片測(cè)試基礎(chǔ)
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測(cè)試基礎(chǔ)介紹
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