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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試技術(shù)

          熱烈慶祝東方集成成為“安捷倫大中華南區(qū)IET產(chǎn)品”總代理

          • 自2012年11月1日起,北京東方中科集成科技股份有限公司繼華北、華東地區(qū)后,正式成為安捷倫華南地區(qū)授權(quán)分銷商!并成為安捷倫工業(yè)測(cè)試產(chǎn)品的華南地區(qū)的平臺(tái),為華南地區(qū)的工業(yè)及現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)類用戶提供全套的測(cè)試解決方案,同時(shí)也支持華南地區(qū)的二級(jí)分銷商的銷售和技術(shù)支持工作!東方集成公司將依托自身的服務(wù)優(yōu)勢(shì)
          • 關(guān)鍵字: 中科集成  安捷倫  測(cè)試技術(shù)  

          網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試技術(shù)淺談

          • 1 引 言隨著生產(chǎn)過(guò)程自動(dòng)化控制要求的不斷提高,傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)的缺點(diǎn)越來(lái)越突出。① 儀器間的匹配問(wèn)題以及儀器間的測(cè)量精度使整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)精度的提高受到限制;② 傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)由多臺(tái)測(cè)量?jī)x器組成,信號(hào)的傳輸速度受到
          • 關(guān)鍵字: 網(wǎng)絡(luò)  測(cè)試技術(shù)    

          基于AFDX總線的終端系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)

          對(duì)使用新型測(cè)試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告

          • 隨著半導(dǎo)體制造商向65納米技術(shù)轉(zhuǎn)移并展望更小節(jié)點(diǎn),嚴(yán)峻的測(cè)試挑戰(zhàn)也開(kāi)始浮出水面?,F(xiàn)在,工藝開(kāi)發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構(gòu)成的良性世界,而將自己置于由硅鍺(SiGe)、絕緣體上硅(SOI)、亞硝
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)試技術(shù)  儀器    

          高密度封裝技術(shù)推動(dòng)測(cè)試技術(shù)發(fā)展

          • 自80年代中后期開(kāi)始,IC(集成電路)封裝技術(shù)就不斷向著高度集成化、高性能化、多引線和細(xì)間距化方向發(fā)展,并驅(qū)使著...
          • 關(guān)鍵字: 高密度封裝技術(shù)  測(cè)試技術(shù)  AOI  

          LTE測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)知識(shí)

          • 長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口,在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù),在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù),且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
          • 關(guān)鍵字: LTE  測(cè)試技術(shù)  基礎(chǔ)知識(shí)    

          電磁兼容設(shè)計(jì)及測(cè)試技術(shù)分析

          • 當(dāng)前,日益惡化的電磁環(huán)境,使我們逐漸關(guān)注設(shè)備的工作環(huán)境,日益關(guān)注電磁環(huán)境對(duì)電子設(shè)備的影響,從設(shè)計(jì)開(kāi)始,融入...
          • 關(guān)鍵字: 電磁兼容  測(cè)試技術(shù)  

          淺析實(shí)時(shí)頻譜測(cè)試技術(shù)原理及應(yīng)用

          • 前言19世紀(jì)60年代,James Maxwell 通過(guò)計(jì)算推斷出存在著能夠通過(guò)真空傳輸能量的電磁波。此后工程師和科學(xué)家們一直在尋求創(chuàng)新方法利用無(wú)線電技術(shù)。接下來(lái),隨著軍事和通信領(lǐng)域技術(shù)的深入發(fā)展,20世紀(jì)無(wú)線電技術(shù)一直在不
          • 關(guān)鍵字: 時(shí)頻  測(cè)試技術(shù)  原理    

          PCB通用的測(cè)試技術(shù)

          • 一、引言前隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn),相應(yīng)的PCB的安裝和測(cè)試工作已越來(lái)越重要。印制電路板的通用測(cè)試是PCB行業(yè)傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)、最早的通用電性測(cè)試技術(shù)可追溯至七十年代末八十年代初,由于當(dāng)時(shí)的元器件
          • 關(guān)鍵字: PCB  測(cè)試技術(shù)    

          EPON測(cè)試技術(shù)

          • 1 引言伴隨著寬帶接入技術(shù)的迅速發(fā)展,各種新興的寬帶接入技術(shù)如雨后春筍般不斷涌現(xiàn)。PON技術(shù)是繼DSL技術(shù)和Cable技術(shù)后,又一個(gè)理想的接入平臺(tái),PON可以直接提供光業(yè)務(wù)或FTTH業(yè)務(wù)。EPON(以太網(wǎng)+無(wú)源光網(wǎng)絡(luò))是一種新型
          • 關(guān)鍵字: EPON  測(cè)試技術(shù)    

          關(guān)于IP網(wǎng)絡(luò)測(cè)試技術(shù)與方法探討

          • 一個(gè)高品質(zhì)的網(wǎng)絡(luò)要通過(guò)業(yè)務(wù)設(shè)計(jì)和定位、網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)、設(shè)備選型、工程建設(shè)、方案驗(yàn)證和持續(xù)優(yōu)化、維護(hù)管理6個(gè)環(huán)節(jié)來(lái)保證,其中設(shè)備選型、方案驗(yàn)證和優(yōu)化主要通過(guò)選型測(cè)試和網(wǎng)絡(luò)測(cè)試實(shí)現(xiàn)。為此中國(guó)電信于2004年初和2005年
          • 關(guān)鍵字: IP網(wǎng)絡(luò)  測(cè)試技術(shù)  方法探討    

          開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)測(cè)試技術(shù)

          整合LED測(cè)試技術(shù)解決方案

          • 阻礙LED照明應(yīng)用美好前程的三大難題盡管不斷有業(yè)內(nèi)人士拋出LED行業(yè)存在各種隱憂的言論,但仍然無(wú)法阻擋廣大企業(yè)想吃到這塊“燙手山芋”的熱情。熱情需要理性來(lái)支撐,廣大開(kāi)發(fā)者必須在實(shí)際開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)過(guò)程中
          • 關(guān)鍵字: LED  測(cè)試技術(shù)  方案    

          虛擬儀器發(fā)展趨勢(shì)及其對(duì)軍用測(cè)試技術(shù)的影響

          • 1 引言從1986年NI公司提出VI概念到現(xiàn)在,經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展,不僅VI技術(shù)本身的內(nèi)涵不斷豐富,外延不斷擴(kuò)展,在軍事和民用領(lǐng)域均得到了廣泛的應(yīng)用,而且對(duì)現(xiàn)代測(cè)控技術(shù)產(chǎn)生了深遠(yuǎn)的影響。例如,VI原來(lái)最核心的思想是利
          • 關(guān)鍵字: 虛擬儀器  發(fā)展趨勢(shì)  測(cè)試技術(shù)  軍用    

          直流局部放電測(cè)試技術(shù)在電容器老化判斷中的應(yīng)用

          • 摘要本文在有較強(qiáng)環(huán)境干擾情況下通過(guò)對(duì)電容器進(jìn)行一系列直流局部放電試驗(yàn),比較不同工作壽命的同批電容器的局部放電信號(hào)的典型差異,初步得出不同工作壽命的電容器的直流局部放電最大放電量和放電次數(shù)有較明顯的差異
          • 關(guān)鍵字: 直流  局部放電  測(cè)試技術(shù)  電容器    
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