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特性測(cè)試
特性測(cè)試 文章 進(jìn)入特性測(cè)試技術(shù)社區(qū)
超快速IV測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)介-半導(dǎo)體器件特性測(cè)試的變革
- 超快速IV測(cè)量技術(shù)是過去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器,吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測(cè)試單元而著稱,吉時(shí)利的原測(cè)試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn),一些著名的產(chǎn)品例如236
- 關(guān)鍵字: IV測(cè)試 技術(shù)簡(jiǎn)介 半導(dǎo)體器件 特性測(cè)試
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)試需求的JTAG技術(shù)
- 引言:EEE 1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法,大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字: JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測(cè)試
WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測(cè)試
- WLAN技術(shù)帶來了新挑戰(zhàn),如何才能有效地消除干擾?WLAN基站和接入點(diǎn)功率管理的效率如何?這些問題必須通過綜合測(cè)試方案加以解決,本文專門論述了WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測(cè)試的意義和優(yōu)勢(shì)。WLAN技術(shù)為半導(dǎo)體
- 關(guān)鍵字: WLAN 器件 網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃 特性測(cè)試
超快速IV測(cè)試技術(shù)-半導(dǎo)體器件特性測(cè)試的變革
- 超快速IV測(cè)量技術(shù)是過去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器,吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測(cè)試單元而著稱,吉時(shí)利的原測(cè)試單元在過去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn),一些著名的產(chǎn)品例如236
- 關(guān)鍵字: IV測(cè)試 半導(dǎo)體器件 特性測(cè)試
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特性測(cè)試介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)特性測(cè)試的理解,并與今后在此搜索特性測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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