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          基于硅納米波導(dǎo)倏逝場耦合的超緊湊光學(xué)式MEMS加速度計

          • 近些年,MEMS加速度計因其體積小、功耗低、易于與互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管集成電路(CMOS IC)整合而受到持續(xù)關(guān)注。目前已經(jīng)開發(fā)了電容、壓阻、壓電、光學(xué)等原理的加速度計,以檢測輸入加速度引起的檢測質(zhì)量塊位移。在這些技術(shù)中,光學(xué)方案已被證明具有更高的精度和穩(wěn)定性,并且不會受到電磁干擾(EMI)。近些年,MEMS加速度計因其體積小、功耗低、易于與互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管集成電路(CMOS IC)整合而受到持續(xù)關(guān)注。目前已經(jīng)開發(fā)了電容、壓阻、壓電、光學(xué)等原理的加速度計,以檢測輸入加速度引起的檢測質(zhì)量塊位
          • 關(guān)鍵字: MEMS  硅納米波  
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          硅納米波介紹

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