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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 老化測試

          一款高精度低成本的LED老化測試的解決方案

          • 本文所介紹的一種LED照明產(chǎn)品長時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案,主要說明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟...
          • 關(guān)鍵字: 高精度  低成本  LED  老化測試  

          儀器儀表老化測試及其環(huán)境試驗(yàn)方法

          • 導(dǎo)讀:工業(yè)使用的儀器,使用一定時(shí)期后,將滿足產(chǎn)品老化,老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn),它可以檢測早期文書的一個(gè)潛在故障...
          • 關(guān)鍵字: 儀器儀表  老化測試  環(huán)境試驗(yàn)  

          高精度低成本:一款LED老化測試方案

          • 本文所介紹的一種LED 照明產(chǎn)品長時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案,主要說明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟 ...
          • 關(guān)鍵字: 高精度  低成本  LED  老化測試  

          LED照明產(chǎn)品的老化測試方案

          • 摘要:本文詳細(xì)介紹了一種LED照明產(chǎn)品長時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案。主要說明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控軟件,實(shí)現(xiàn)最大程度的發(fā)揮電源在老化系統(tǒng)中的作用,提高多個(gè)LED 產(chǎn)品老化測試的同時(shí)性和自動(dòng)化性,
          • 關(guān)鍵字: LED  照明產(chǎn)品  老化測試  方案    

          ITECH電源和老化測試軟件在LED照明產(chǎn)品的老化測試

          • 1 引言LED 照明產(chǎn)品長時(shí)間通電老化試驗(yàn)是LED 照明產(chǎn)品的一個(gè)重要試驗(yàn),主要用于LED 照明產(chǎn)品的可靠性的驗(yàn)證。選用產(chǎn)品 ITECH 臺(tái)灣艾德克斯電子的 IT6710(60V/3A/100W),IT6720 (60V/5A/100W) 或者是IT6721(60V/8A/180
          • 關(guān)鍵字: ITECH  LED  老化測試  電源    

          NI TestStand處理用于航空電子的老化測試模型

          • Author(s):
            Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group
            Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry:
            Aerospace/AvionicsProducts:
            NI TestStand
          • 關(guān)鍵字: TestStand  NI  航空電子  老化測試    

          基于CAN總線的老化測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案

          • 0引言汽車上用的電子設(shè)備的可靠工作與優(yōu)良性能關(guān)系者駕駛者的生命安全。車用電子設(shè)備出廠前要求...
          • 關(guān)鍵字: CAN總線  老化測試  設(shè)計(jì)  

          基于CAN總線的老化測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

          • 為保證安全性與可靠性,車用設(shè)備電路板必須經(jīng)過長時(shí)間老化測試。由于需要老化電路板數(shù)量較大,設(shè)計(jì)了一個(gè)基于 CAN總線的老化測試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)各個(gè)模塊的功能與設(shè)計(jì),詳細(xì)介紹通信模塊處理串口通信的實(shí)現(xiàn)方法及通信模塊與測試模塊的 CAN通信機(jī)制。
          • 關(guān)鍵字: CAN  總線  老化測試  系統(tǒng)    

          僅用100W功率就能對(duì)1kw設(shè)備進(jìn)行老化測試的傳輸線

          • 一臺(tái)13.56MHz ISM(工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療)頻段射頻測量設(shè)備要求進(jìn)行50小時(shí)1kw老化測試。被測設(shè)備需要同時(shí)加上等效于1kw的射頻電壓和射頻電流,而手里唯一可用的射頻信號(hào)源是一臺(tái)100W射頻發(fā)生器,體現(xiàn)節(jié)省能源的重要性。
          • 關(guān)鍵字: 100W  1kw  設(shè)備  老化測試    
          共9條 1/1 1

          老化測試介紹

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