變頻電源開(kāi)關(guān)芯片炸裂的失效分析與可靠性研究

• 隨著科技的發(fā)展，電器設(shè)備使用越來(lái)越廣泛，功能越來(lái)越強(qiáng)大，體積也越來(lái)越小，對(duì)電源模塊的要求不斷增加。開(kāi)關(guān)電源具有效率高、成本低及體積小的特點(diǎn)，在電氣設(shè)備中獲得了廣泛的應(yīng)用。經(jīng)分析，開(kāi)關(guān)電源電路多個(gè)器件失效主要是電路中高壓瓷片電容可靠性差，導(dǎo)致開(kāi)關(guān)芯片失效。本文通過(guò)增加瓷片電容材料的厚度提高其耐壓性能和其他性能，使產(chǎn)品各項(xiàng)性能有效提高，滿(mǎn)足電路設(shè)計(jì)需求，減少售后失效。
• 關(guān)鍵字： 開(kāi)關(guān)電源  高壓瓷片電容  芯片  耐壓提升  可靠性  202105  MOSFET