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	自動測試設備
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
          
                	
          自動測試設備 文章
                  進入自動測試設備技術社區(qū)  
                  
          
                
          
                                
          
                  

                                
          
                    
          自動測試設備系統(tǒng)中的組件電源設計
          
                                                            
            
                    	
          • 組件電源（DPS）IC能夠彈性加載電壓、加載電流，為自動測試設備（ATE）提供動態(tài)測試能力。當負載電流在兩個可編程電流限值之間時，DPS IC為電壓源，并且在達到設定的電流限值時平穩(wěn)轉換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI新一代組件電源IC MAX32010的簡化框圖。開關FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE選擇不同的工作模式，例如：加載電壓（FV）、加載電流（FI）和FI Slave模式；開關HIZF和HIZM分別選擇MV （電壓測量）和MI （電流測量）模式。RANGE MUX與外部檢流
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          • 關鍵字：
                        自動測試設備  組件電源  ADI                          
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          Test Advantage 收購Microstats 
          
                                                            
            
                    	
          • ??     Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 宣布已經收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產品、解決方案和共同的客戶群，以增強 Test Advantage 在后端半導體市場的產品和服務。
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          • 關鍵字：
                        Test Advantage   Microstats  自動測試設備                          
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          惠瑞捷獲“最佳測試設備供應商"大獎
          
                                                            
            
                    	
          • 　　首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達克代號：VRGY)，本次于半導體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調查中榮膺“最佳測試設備供應商“與“10大最佳晶片制造設備大型供應商“等兩大獎項的肯定。
　　
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          • 關鍵字：
                        惠瑞捷  自動測試設備                          
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          BSE集團收購Test Advantage Hardware進軍ATE資本設備
          
                                                            
            
                    	
          • 　　為了向半導體行業(yè)提供融合了設備專長與創(chuàng)新金融解決方案的獨特組合，業(yè)內資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創(chuàng)辦 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集團)。BSE 集團由私人集資，其目標是在半導體設備行業(yè)設定新的基準，將創(chuàng)新金融解決方案與經驗、專長和基礎設施結合起來，以支持全新和二手半導體生產設備的租賃、銷售、訂制改造和服務。
　　傳統(tǒng)的資本設備融資解決方案過去一直無法支持
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          • 關鍵字：
                        半導體設備  自動測試設備                          
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          SOC芯片設計與測試
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　摘要：SOC已經成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜，在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統(tǒng)為例，在其設計、測試和可制造性等方面進行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。
關鍵詞：單芯片系統(tǒng)；面向測試設計；面向制造設計；位失效圖；自動測試設備
    引言
    以往的系統(tǒng)設計是將CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等電路設計成IC后，再加以組合變成完整的系統(tǒng)，但現(xiàn)今的設計方式是
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          • 關鍵字：
                        SOC  單芯片系統(tǒng)  面向測試設計  面向制造設計  位失效圖  自動測試設備                          
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	共5條
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          自動測試設備介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條自動測試設備!
           
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對自動測試設備的理解，并與今后在此搜索自動測試設備的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		  		  		
  		  		        		  		
  		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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