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IC 的長期穩(wěn)定性：唯一不變的是變化本身
- 我們在 E2E™ 社區(qū)高精度放大器論壇上收到的一些最常見的問題都與 IC 不同參數(shù)的長期穩(wěn)定性有關。自然界沒有什么事物是靜止的，產品說明書參數(shù)也不例外。 隨著時間的推移，半導體材料的摻雜度以及封裝對內部裸片產生的物理應力都會發(fā)生變化，這會導致產品的參數(shù)值發(fā)生偏移。這些偏移可在新產品質量認證過程中，通過測量生命周期測試過程中(在高溫爐中執(zhí)行的加速老化過程)的參數(shù)偏移進行量化。 125C 下 1000hrs 或 150C 下 300hrs 的典型生命周期測試持續(xù)時間可在室溫下確保至
- 關鍵字： IC 放大器 輸出電壓
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