運算放大器 文章 進入運算放大器技術社區(qū)
什么原因毀掉了運算放大器?
- 查明造成半導體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的,而EOS事件出現(xiàn)無規(guī)律性時難度會更大。為闡明如何才能對EOS事件追根溯源,在此用一個實例說明我們是如何幫助一位用戶辯認兩種運算放大器(op amps)的失效原因的。初步、檢查第一種運算放大器OP1遭到一個大型的EOS事件,其許多電路部件受到損壞。第二種運算放大器OP2的情形是EOS事件只損壞了一只薄膜電阻器。兩個運算放大器都有一個或多個引腳無法進行連續(xù)性測試—這是器件失效的第一個征兆。此外,OP1的其它幾個引腳呈現(xiàn)功能退化。無論OP1還是OP2
- 關鍵字: 放大器 設計應用 運算放大器 模擬IC 電源
運算放大器介紹
目錄
歷史
原理
類型
主要參數(shù)
應用
運算放大器(常簡稱為“運放”)是具有很高放大倍數(shù)的電路單元。在實際電路中,通常結(jié)合反饋網(wǎng)絡共同組成某種功能模塊。由于早期應用于模擬計算機中,用以實現(xiàn)數(shù)學運算,故得名“運算放大器”,此名稱一直延續(xù)至今。運放是一個從功能的角度命名的電路單元,可以由分立的器件實現(xiàn),也可以實現(xiàn)在半導體芯片當中。隨著半導體技術的發(fā)展,如今絕大部分的運 [ 查看詳細 ]
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