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金屬層文章進(jìn)入金屬層技術(shù)社區(qū)

對使用銅絲鍵合的功率MOSFET進(jìn)行失效分析

摘要：由于銅絲鍵合可以替代金鍵合，價格又便宜，正在被越來越多地應(yīng)用到微電子元器件當(dāng)中。目前的情況表明銅是可行的替代品，但是證明其可靠性還需要采用針對銅絲鍵合工藝的新型失效分析(FA)技術(shù)。
關(guān)鍵字：銅絲鍵合 MOSFET 金鍵合失效分析金屬層 201308

共1條 1/1 1

金屬層介紹

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