閉環(huán)測試 文章 進入閉環(huán)測試技術(shù)社區(qū)
CMOS技術(shù)緩解了RF電路在SoC中的集成挑戰(zhàn)
- 隨著半導(dǎo)體制造能力允許在單塊芯片上集成數(shù)千門邏輯電路，系統(tǒng)級芯片(SoC)開始占據(jù)未來IC技術(shù)的中心。數(shù)字RF...
- 關(guān)鍵字： 集成 SoC 數(shù)字RF CMOS工藝 自校準 閉環(huán)測試 物理實現(xiàn) 變?nèi)荻O管 缺陷密度 去耦電容
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閉環(huán)測試介紹
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