采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進(jìn)行ADC和音頻測(cè)試的高性能信號(hào)源

• 摘要要測(cè)試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(jì)（例如ADMX1002）利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡(jiǎn)化了這一任務(wù)，這些轉(zhuǎn)換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外，加入一種創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真算法可以進(jìn)一步增強(qiáng)測(cè)試信號(hào)的保真度，從而以低成本的小尺寸實(shí)現(xiàn)出色的低失真信號(hào)。簡(jiǎn)介隨著精密模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和高保真音頻設(shè)備（CODEC、MEMS麥克風(fēng)等）不斷發(fā)展，越來(lái)越需要在自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)中生成高性能的音頻和任意信號(hào)。要描述、驗(yàn)
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