如何快速洞察PCIe發(fā)送端鏈路健康狀況?

• _____傳統(tǒng)上，發(fā)送端（Tx）測(cè)試一直要求使用示波器，來測(cè)量被測(cè)器件（DUT）發(fā)送信號(hào)的眼高和眼寬，以評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。作為驗(yàn)證一致性測(cè)試系統(tǒng)一貫指定的工具，示波器被大量用于開發(fā)工作中，來確定DUT是否能通過許多高速I/O（HSIO）標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試認(rèn)證。盡管示波器對(duì)開發(fā)和調(diào)試非常關(guān)鍵，但為了更快洞察發(fā)送端鏈路健康狀況，業(yè)界正越來越多地需要其他設(shè)備，來縮短示波器的測(cè)試時(shí)間。本文介紹實(shí)際案例，演示泰克全新的TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀發(fā)送端測(cè)試方法，如何為PCIe板卡和系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供可操作的測(cè)試見解。BIOS
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