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JTAG接口解讀
- 通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個(gè)模塊。一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。 上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需
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JTAG測試技術(shù)
- 2004年11月JTAG Technology JTAG(聯(lián)合測試行動(dòng)組)標(biāo)準(zhǔn)在80代是通用的。JTAG技術(shù)實(shí)際上稱之為IEEE1149.1或邊界掃描，由于電子行業(yè)幾乎每個(gè)人都熟悉“JTAG”這個(gè)名稱，所以“JTAG”用來表示IEEE1149.1技術(shù)。 電路內(nèi)測試器 測試復(fù)雜板的老方法是用電路內(nèi)測試器(ICT)。這種測試方法的測試頭是用“釘床”(見圖1)，焊節(jié)點(diǎn)和遮蓋的焊球使得這種測
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邊界掃描與電路板測試技術(shù)
- 摘 要： 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應(yīng)用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)注意的一些基本要點(diǎn)。關(guān)鍵詞： 邊界掃描測試；JTAG；電路板測試；可測試性設(shè)計(jì)引言電子器件的生產(chǎn)商和電子產(chǎn)品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術(shù)，如BGA、CSP(芯片規(guī)模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強(qiáng)的功能、更小的體積，并節(jié)省成本。電路板越來越密、器件越來越復(fù)雜、電路性能要求越來越苛刻，越來越難的接入問題導(dǎo)致了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
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