jtag 文章 進(jìn)入jtag技術(shù)社區(qū)
JTAG接口解讀
- 通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測(cè)試芯片的電氣特性，檢測(cè)芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個(gè)模塊。一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設(shè)備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。 上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需
- 關(guān)鍵字： Jtag
JTAG測(cè)試技術(shù)
- 2004年11月JTAG Technology JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)標(biāo)準(zhǔn)在80代是通用的。JTAG技術(shù)實(shí)際上稱之為IEEE1149.1或邊界掃描，由于電子行業(yè)幾乎每個(gè)人都熟悉“JTAG”這個(gè)名稱，所以“JTAG”用來表示IEEE1149.1技術(shù)。 電路內(nèi)測(cè)試器 測(cè)試復(fù)雜板的老方法是用電路內(nèi)測(cè)試器(ICT)。這種測(cè)試方法的測(cè)試頭是用“釘床”(見圖1)，焊節(jié)點(diǎn)和遮蓋的焊球使得這種測(cè)
- 關(guān)鍵字： JTAG
邊界掃描與電路板測(cè)試技術(shù)
- 摘 要： 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測(cè)試及在FPGA、DSP器件中的應(yīng)用。介紹了為提高電路板的可測(cè)試性而采用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)注意的一些基本要點(diǎn)。關(guān)鍵詞： 邊界掃描測(cè)試；JTAG；電路板測(cè)試；可測(cè)試性設(shè)計(jì)引言電子器件的生產(chǎn)商和電子產(chǎn)品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術(shù)，如BGA、CSP(芯片規(guī)模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強(qiáng)的功能、更小的體積，并節(jié)省成本。電路板越來越密、器件越來越復(fù)雜、電路性能要求越來越苛刻，越來越難的接入問題導(dǎo)致了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
- 關(guān)鍵字： JTAG 邊界掃描測(cè)試 電路板測(cè)試 可測(cè)試性設(shè)計(jì) PCB 電路板
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測(cè)試行為組織）”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后，IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]
jtag電路
jtag相關(guān)帖子
jtag資料下載
jtag視頻
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473