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Multitest InCarrier又增新客戶
- 面向世界各地集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其從亞洲一家重要測(cè)試代工廠又收到一份訂單,訂購產(chǎn)品是其獨(dú)一無二的InCarrier?測(cè)試設(shè)備。InCarrier?優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和其他高并行數(shù)測(cè)試方法。 該客戶選定了一種綜合解決方案,包括InCarrier上下料機(jī)、InStrip以及適于加速儀MEMS測(cè)試的InMEMS組件。 與標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和既有高并行數(shù)測(cè)試相比,InCarr
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Multitest MT2168的可擴(kuò)展設(shè)計(jì)確保未來投資價(jià)值
- 2011年5月----面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布,MT2168的可擴(kuò)展設(shè)計(jì)能幫助用戶根據(jù)實(shí)際要求調(diào)整基本單元配置——不僅在初始安裝階段,而且在后期階段亦是如此(例如當(dāng)MT2168從工程驗(yàn)證地轉(zhuǎn)到批量生產(chǎn)基地時(shí))。 從高性價(jià)比的基本配置升級(jí)到更高水平的設(shè)置可隨時(shí)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行。通常,MT2168可提供不同配置,且轉(zhuǎn)換順暢。鑒于此,系統(tǒng)可以根據(jù)任何工程現(xiàn)場(chǎng)的需求進(jìn)行配置。上述
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Multitest推出Plug&Yield優(yōu)化測(cè)試單元設(shè)置
- 面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前推出Plug&Yield®——一款比其他所謂的“整體”解決方案融合更多元素的獨(dú)特產(chǎn)品。Multitest不僅作為整個(gè)項(xiàng)目的負(fù)責(zé)任的合作伙伴優(yōu)化了項(xiàng)目管理,亦確保了最佳上市時(shí)間。下面的案例研究描述了一個(gè)項(xiàng)目,針對(duì)該項(xiàng)目,Multitest結(jié)合先進(jìn)仿真工具成功應(yīng)用了并行工程方法,旨在針對(duì)頗具挑戰(zhàn)性的需要室溫-高溫-低溫測(cè)
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Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制
- 面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。
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Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制
- 面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。 今天,越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對(duì)DUT(受測(cè)元件)的中程功率耗散控制。對(duì)于多數(shù)此類應(yīng)用來說,大量投資于既定的ATC(主動(dòng)熱控)系統(tǒng)是不恰當(dāng)?shù)摹R恍┌雽?dǎo)體制造商試圖通過開發(fā)自己的專利解決方案來應(yīng)對(duì)該問題。但這種做法將其資源耗費(fèi)在并非其主營(yíng)業(yè)務(wù)的領(lǐng)域,實(shí)際上也沒有帶來真正“整體
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Multitest將在SEMICON China展示新產(chǎn)品
- Multitest是測(cè)試分選機(jī)、連接器和測(cè)試承載板產(chǎn)品的真正的一站式供應(yīng)商,其將在2011年SEMICON China的第2363號(hào)展臺(tái)(2號(hào)展廳)展示一些列先進(jìn)的產(chǎn)品和解決方案。2011年SEMICON China展會(huì)將于3月15日至17日在上海新國(guó)際博覽會(huì)中心舉辦。
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Multitest的MT2168為半導(dǎo)體制造商帶來真正競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)
- Multitest是測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的設(shè)計(jì)和制造商,主要面向世界各地的IDM和測(cè)試分包商。該公司宣布MT2168采用開放式非標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試位分布結(jié)構(gòu),使用戶既可充分利用相關(guān)優(yōu)勢(shì),又不影響產(chǎn)量或產(chǎn)能。測(cè)試位分布組件使得測(cè)試位間距可快速輕松地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換。
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Multitest的“測(cè)試接口模擬”幫助測(cè)試接口實(shí)現(xiàn)優(yōu)化和成本效益
- Multitest 現(xiàn)推出旨在優(yōu)化測(cè)試接口的“測(cè)試接口模擬”。“信號(hào)完整性模擬”在了解測(cè)試接口性能方面頗具價(jià)值。這是一款重要的多功能工具,可用來持續(xù)改善設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)證現(xiàn)有設(shè)計(jì)和優(yōu)化新設(shè)計(jì)。“信號(hào)完整性模擬”使PCB布局實(shí)現(xiàn)成本效益,并確保最佳整體測(cè)試接口?;谛枨?,可采用專用模擬,以低成本保證最佳性能。 設(shè)計(jì)接口時(shí),帶寬非常重要。“驗(yàn)證模擬”是一種頗具成本效益的布局后解決方案,該解決方案使用之前的模擬
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Multitest推出Plug & Yield解決方案
- Multitest公司宣布,其最新推出的Plug & Yield?解決方案能夠幫助用戶以更快速度和最低成本將產(chǎn)品投放市場(chǎng)。這一超高水準(zhǔn)的解決方案實(shí)現(xiàn)了更好的資源利用和更快“收益時(shí)間”。同時(shí),Plug & Yield?解決方案帶來更高的生產(chǎn)測(cè)試合格率和長(zhǎng)期有效的測(cè)試技術(shù)合作關(guān)系。 Multitest的Plug & Yield?使用戶能夠?qū)?nèi)部資源集中于其核心業(yè)務(wù)。當(dāng)Multitest處理測(cè)試配置的協(xié)調(diào)、整合和優(yōu)化等
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基于Multitest Mercury探針的晶片級(jí)測(cè)試座受好評(píng) 測(cè)試良品率提高6%
- Multitest 宣布全球最大的無晶圓半導(dǎo)體制造商之一對(duì)基于Mercury的晶片級(jí)測(cè)試座進(jìn)行了評(píng)估,結(jié)果發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品優(yōu)于以往傳統(tǒng)的POGO型彈簧針解決方案。Mercury測(cè)試座有八個(gè)試驗(yàn)位,每個(gè)試驗(yàn)位將近200個(gè)彈簧探針??蛻魹闈M足不斷增加的產(chǎn)量,已經(jīng)購買了三十多個(gè)測(cè)試座。 晶片級(jí)測(cè)試座已被中國(guó)臺(tái)灣和新加坡的多個(gè)測(cè)試代工廠采用??蛻舴从矼ercury測(cè)試座使測(cè)試良品率比以往的方案提高了4-6%,顯著節(jié)約了測(cè)試成本。此外,分包商對(duì)Mercury測(cè)試座的經(jīng)久耐用、維護(hù)要求低以及低廉的替換探針價(jià)格感到
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Multitest宣布其三溫水平拿放式分選機(jī)MT9510的訂單量破紀(jì)錄
- 2010年9月Multitest宣布其MT9510年度訂單數(shù)量破紀(jì)錄,市場(chǎng)需求主要來自于世界各地的汽車行業(yè)客戶。 汽車行業(yè)的應(yīng)用要求產(chǎn)品具有最高的可靠性和涵蓋低溫測(cè)試的最佳溫度性能。MT9510滿足了這兩方面的要求,適用于從低至-55°C到高達(dá)175°C的溫度范圍,其最優(yōu)精度為1°C,溫度穩(wěn)定度為0.5°C。 除了其經(jīng)生產(chǎn)驗(yàn)證的溫度性能外,MT9510還提供一系列的附加選項(xiàng),比如可升級(jí)的ESD保護(hù)或擴(kuò)展的溫度校準(zhǔn),用于處理測(cè)試過程中的功率耗散。 MT9
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