sar adc 文章進(jìn)入sar adc技術(shù)社區(qū)

MVG將安立無線通信測(cè)試儀MT8000A集成到ComoSAR系統(tǒng)中，以增強(qiáng)5G SAR測(cè)量能力

作為全球電磁波人體暴露評(píng)估測(cè)量和服務(wù)的領(lǐng)導(dǎo)者，Microwave Vision Group（MVG）近日隆重宣布成功將安立公司 MT8000A無線通信測(cè)試儀集成到其ComoSAR系統(tǒng)中。通過為OpenSAR軟件提供專用驅(qū)動(dòng)程序，此次集成覆蓋了新無線電（NR）FR1頻段（7.125 GHz以下）。這一里程碑實(shí)現(xiàn)了對(duì)支持5G設(shè)備的SAR（比吸收率）測(cè)量，該測(cè)量采用市場(chǎng)上最受認(rèn)可和最廣泛使用的無線通信測(cè)試儀之一。SAR測(cè)試實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)在可以根據(jù)測(cè)試程序的要求，為用戶設(shè)備（UE）以最大功率自動(dòng)執(zhí)行5G FR1獨(dú)立組網(wǎng)
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ADC INL誤差——最佳擬合線、總未調(diào)整誤差、絕對(duì)和相對(duì)精度

了解更多關(guān)于模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）中的積分非線性（INL）的信息，如最佳擬合線INL定義、絕對(duì)精度、相對(duì)精度和總未調(diào)整誤差（TUE）。積分非線性（INL）是一個(gè)重要的規(guī)范，它使我們能夠表征A/D（模數(shù)）轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)線性性能。INL誤差量化了實(shí)際傳遞函數(shù)的轉(zhuǎn)變點(diǎn)與理想值的偏差，理想值是從參考直線獲得的。然而，不同的INL定義使用不同的參考線。之前，我們研究了其中一些定義，比如基于端點(diǎn)的定義。作為復(fù)習(xí)，最常見的INL定義的參考線是穿過第一個(gè)和最后一個(gè)代碼轉(zhuǎn)換的線（圖1中穿過點(diǎn)a和B的線）。參考線INL定義示例。
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理解ADC積分非線性（INL）誤差

了解積分非線性（INL）規(guī)范及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）誤差的關(guān)系。三個(gè)參數(shù)，即偏移誤差、增益誤差和INL，決定了ADC的精度。偏移和增益誤差可以校準(zhǔn)出來，這讓我們把INL作為主要的誤差因素。INL規(guī)范描述了實(shí)際傳遞函數(shù)的轉(zhuǎn)變點(diǎn)與理想值的偏差。什么是積分非線性（INL）？理想的ADC具有均勻的階梯式輸入輸出特性，這意味著每次轉(zhuǎn)換都發(fā)生在距離前一個(gè)轉(zhuǎn)換1 LSB（最低有效位）處。然而，對(duì)于真實(shí)世界的ADC，步驟并不一致。例如，考慮圖1所示的傳遞曲線。ADC的傳輸曲線示例。?圖1。ADC的傳輸曲線示例
關(guān)鍵字： 202410 ADC 積分非線性 INL 誤差

基于類比高性能16bit ADC ADX112的熱電偶檢測(cè)方案

熱電偶（thermocouple）作為工業(yè)接觸式溫度測(cè)量的核心元件，以其直接的溫度測(cè)量能力及將溫度信號(hào)轉(zhuǎn)換為熱電動(dòng)勢(shì)信號(hào)的特性，廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)測(cè)溫場(chǎng)合。這種轉(zhuǎn)換過程通過電氣儀表（二次儀表）實(shí)現(xiàn)，將熱電勢(shì)信號(hào)準(zhǔn)確轉(zhuǎn)換為被測(cè)介質(zhì)的溫度值。熱電偶以其結(jié)構(gòu)的簡(jiǎn)潔性、制造的便捷性、寬廣的測(cè)量范圍、高精度、小慣性，以及便于遠(yuǎn)程傳輸?shù)妮敵鲂盘?hào)等優(yōu)勢(shì)，確立了其在工業(yè)測(cè)量中的重要地位。
關(guān)鍵字：熱電偶 ADC ADX112 冷端補(bǔ)償工業(yè)測(cè)量工業(yè)自動(dòng)化

了解CMRR及其與ADC偏移誤差的關(guān)系

了解共模抑制比（CMRR）的變化如何影響模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的性能。在不同的應(yīng)用中，如傳感器測(cè)量系統(tǒng)和通信系統(tǒng)，我們觀察到ADC輸入端的共模信號(hào)不是恒定的。共模電壓的變化可能是由于噪聲分量引起的，該噪聲分量同樣耦合到ADC的兩個(gè)輸入端，或者源于正常的電路操作。在本文中，我們將看到共模電平的變化如何影響ADC的性能。為什么ADC的共模抑制很重要？圖1顯示了RTD測(cè)量的簡(jiǎn)化圖。RTD測(cè)量的示例圖。圖1. RTD測(cè)量的示例圖。圖片由德州儀器公司提供在上述示例中，激勵(lì)電流源迫使固定電流流過RTD和參考
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如何才能獲得ADC的最佳SNR性能？

獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號(hào)的問題，提供一個(gè)低噪聲基準(zhǔn)電壓是同等重要。雖然基準(zhǔn)噪聲在零標(biāo)度沒有影響，但是在全標(biāo)度，基準(zhǔn)上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見的。對(duì)于某個(gè)給定的ADC，在零標(biāo)度測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍(DR)之所以通常比在全標(biāo)度或接近全標(biāo)度測(cè)量的信噪比(SNR)高出幾個(gè)dB，原因即在于此。在ADC的SNR有可能超過140dB的過采樣應(yīng)用中，提供一個(gè)低噪聲基準(zhǔn)電壓是特別重要。如欲實(shí)現(xiàn)這種水平的SNR，即使是最好的低噪聲基準(zhǔn)也需要一些幫助以降低其噪聲電平。能夠降低基準(zhǔn)噪聲的替
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RF ADC為什么有如此多電源軌和電源域？

在采樣速率和可用帶寬方面，當(dāng)今的射頻模數(shù)轉(zhuǎn)換器(RF ADC)已有長(zhǎng)足的發(fā)展，其中還納入了大量數(shù)字處理功能，電源方面的復(fù)雜性也有提高。那么，RF ADC為什么有如此多不同的電源軌和電源域？為了解電源域和電源的增長(zhǎng)情況，我們需要追溯ADC的歷史脈絡(luò)。早期ADC采樣速度很慢，大約在數(shù)十MHz內(nèi)，而數(shù)字內(nèi)容很少，幾乎不存在。電路的數(shù)字部分主要涉及如何將數(shù)據(jù)傳輸?shù)綌?shù)字接收邏輯——專用集成電路 (ASIC) 或現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 (FPGA)。用于制造這些電路的工藝節(jié)點(diǎn)幾何尺寸較大，約在180 nm或更大。使用單電壓
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模擬 ADC 的前端

ADC 的 SPICE 模擬反復(fù)試驗(yàn)的方法將信號(hào)發(fā)送到 ADC 非常耗時(shí)，而且可能有效也可能無效。如果轉(zhuǎn)換器捕獲電壓信息的關(guān)鍵時(shí)刻模擬輸入引腳不穩(wěn)定，則無法獲得正確的輸出數(shù)據(jù)。SPICE 模型允許您執(zhí)行的步是驗(yàn)證所有模擬輸入是否穩(wěn)定，以便沒有錯(cuò)誤信號(hào)進(jìn)入轉(zhuǎn)換器。讓我們仔細(xì)看看典型的串行偽差分 SAR-ADC，例如ADS8860（圖 1）。圖 1 ADS8860 是一款偽差分輸入、1 MHz、16 位 SAR-ADC。該設(shè)備的 TINA-TI Spice 宏模型允許您模擬進(jìn)入轉(zhuǎn)換器的模擬信號(hào)的影響。借助此模
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如何在速度更快、尺寸更小的應(yīng)用中精確檢測(cè)電機(jī)位置

本文介紹工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域的設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)用于電機(jī)控制的位置檢測(cè)接口時(shí)面臨的常見問題，即在速度更快、尺寸更小的應(yīng)用中檢測(cè)位置。利用從編碼器捕獲的信息以便精確測(cè)量電機(jī)位置對(duì)于自動(dòng)化和機(jī)器設(shè)備的成功運(yùn)行很重要，快速、高分辨率、雙通道同步采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是此系統(tǒng)的重要組件。位置、速度和方向之類的電機(jī)旋轉(zhuǎn)信息必須準(zhǔn)確，以為各種新興應(yīng)用生產(chǎn)精準(zhǔn)的驅(qū)動(dòng)器和控制器，例如，將微型組件裝配到空間有限的PCB區(qū)域中的裝配機(jī)器。近來，電機(jī)控制開始走向微型化，使得醫(yī)療健康行業(yè)出現(xiàn)新的外科手術(shù)機(jī)器人應(yīng)用，航空航天和防務(wù)領(lǐng)域出現(xiàn)
關(guān)鍵字：電機(jī)控制光學(xué)編碼器 ADC

如何通過集成多路復(fù)用輸入ADC搞掂空間受限的挑戰(zhàn)？

工業(yè)、儀器儀表、光通信和醫(yī)療保健行業(yè)有越來越多的應(yīng)用開始使用多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，導(dǎo)致印刷電路板 (PCB) 密度和熱功耗方面的挑戰(zhàn)進(jìn)一步加大。這些應(yīng)用對(duì)高通道密度的需求，推動(dòng)了高通道數(shù)、低功耗、小尺寸集成數(shù)據(jù)采集解決方案的發(fā)展，還要求精密測(cè)量、可靠性、經(jīng)濟(jì)性和便攜性。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員在性能、熱穩(wěn)定性和PCB密度之間進(jìn)行取舍以維持較佳平衡，并且被迫不斷尋找創(chuàng)新方式來解決這些挑戰(zhàn)，同時(shí)要將總物料 (BOM) 成本降低較低。本文重點(diǎn)說明多路復(fù)用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)考慮，并聚焦于通過集成多路復(fù)用輸入ADC解決方案來應(yīng)對(duì)
關(guān)鍵字： ADI ADC 多路復(fù)用

高速ADC基礎(chǔ)

本文的目的是介紹高速ADC相關(guān)的理論和知識(shí)，詳細(xì)介紹了采樣理論、數(shù)據(jù)手冊(cè)指標(biāo)、ADC選型準(zhǔn)則和評(píng)估方法、時(shí)鐘抖動(dòng)和其它一些通用的系統(tǒng)級(jí)考慮。另外，一些用戶希望通過交織、平均或抖動(dòng)（dithering）技術(shù)進(jìn)一步提升ADC的性能。1. 引言基本的ADC框圖和術(shù)語如下圖所示：隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高，以及對(duì)于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高，對(duì)于高速、高精度的 ADC（Analog to Digital Converter）、DAC（Digital to Analog Converter）的指標(biāo)
關(guān)鍵字： ADC 數(shù)模轉(zhuǎn)換

天天在用的ADC，內(nèi)部原理你了解嗎？

前言用了這么久ADC,從沒細(xì)看過ADC的內(nèi)部原理和如何獲得最佳精度，今天看到一篇ST的官方文檔講的不錯(cuò)，這里整理分享給大家。SAR ADC內(nèi)部結(jié)構(gòu)STM32微控制器中內(nèi)置的ADC使用SAR（逐次逼近）原則，分多步執(zhí)行轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換步驟數(shù)等于ADC轉(zhuǎn)換器中的位數(shù)。每個(gè)步驟均由ADC時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)。每個(gè)ADC時(shí)鐘從結(jié)果到輸出產(chǎn)生一位。ADC的內(nèi)部設(shè)計(jì)基于切換電容技術(shù)。下面的圖介紹了ADC的工作原理。下面的示例僅顯示了逼近的前面幾步，但是該過程會(huì)持續(xù)到LSB為止SAR切換電容ADC的基本原理（10位ADC示例）帶數(shù)字
關(guān)鍵字： ADC STM32

詳解Σ-Δ型ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的基本原理

Σ-Δ型ADC是當(dāng)今信號(hào)采集和處理系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的工具箱中必不可少的基本器件。本文的目的是讓讀者對(duì)Σ-Δ型號(hào)ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)背后的根本原理有一個(gè)基本了解。本文探討了與ADC子系統(tǒng)設(shè)計(jì)相關(guān)的噪聲、帶寬、建立時(shí)間和所有其他關(guān)鍵參數(shù)之間的權(quán)衡分析示例，以便為精密數(shù)據(jù)采集電路設(shè)計(jì)人員提供背景信息。它通常包括兩個(gè)模塊：Σ-Δ調(diào)制器和數(shù)字信號(hào)處理模塊，后者通常是數(shù)字濾波器。Σ-Δ型ADC的簡(jiǎn)要框圖和主要概念如圖1所示。圖1. Σ-Δ型ADC的關(guān)鍵概念Σ-Δ調(diào)制器是一種過采樣架構(gòu)，因此，我們從奈奎斯特采樣理論和方案以及過采
關(guān)鍵字： ADC 拓?fù)浣Y(jié)構(gòu) 調(diào)制器數(shù)字信號(hào)

如何為ADC增加隔離而不損害其性能呢？

對(duì)于隔離式高性能ADC，一方面要注意隔離時(shí)鐘，另一方面要注意隔離電源。SAR ADC傳統(tǒng)上被用于較低采樣速率和較低分辨率的應(yīng)用。如今已有1 MSPS采樣速率的快速、高精度、20位SAR ADC，例如 LTC2378-20 ，以及具有32位分辨率的過采樣SAR ADC，例如 LTC2500-32 。將ADC用于高性能設(shè)計(jì)時(shí)，整個(gè)信號(hào)鏈都需要非常低的噪聲。當(dāng)信號(hào)鏈需要額外的隔離時(shí)，性能會(huì)受到影響。關(guān)于隔離，有三方面需要考慮：■ 確保熱端有電的隔離電源■ 確保數(shù)據(jù)路徑得到隔離的隔離數(shù)據(jù)■ ADC（采樣時(shí)鐘或轉(zhuǎn)換
關(guān)鍵字：隔離時(shí)鐘 ADC EMI

輕松簡(jiǎn)化模擬輸入模塊設(shè)計(jì)的系統(tǒng)級(jí)ADC

為了節(jié)省成本，另一種方法是使用單個(gè)5V 電源設(shè)計(jì)架構(gòu)。單個(gè)5V電源軌顯著降低了模擬前端隔離電源設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。但它會(huì)引入其他痛點(diǎn)，可能降低測(cè)量解決方案的精度。AD4111 進(jìn)行了電壓和電流測(cè)量所需的大量整合工作，并解決了5V 電源解決方案的局限性。圖1. AD4111功能框圖。集成前端AD4111是一款24位∑-Δ型ADC，通過實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新而簡(jiǎn)單的信號(hào)鏈，縮短了開發(fā)時(shí)間，降低了設(shè)計(jì)成本。它利用ADI的專有iPassives?技術(shù)，將模擬前端和ADC融合在一起。這使得 AD4111 能夠接受 ±10 V 電壓輸入
關(guān)鍵字： ADI ADC