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          電感剝離失效分析

          發(fā)布人:新陽檢測 時間:2022-10-25 來源:工程師 發(fā)布文章
          案例背景

          PCBA組裝后功能測試不良,初步判斷為電感剝離導(dǎo)致失效。


          分析過程


          · 外觀分析


          NOTE:對樣品進(jìn)行外觀分析,電感端子與焊盤焊錫完全剝離。


          電感旁的電容一端與焊盤剝離圖

          電容本體棱角位置損傷圖

          電容損傷位置放大圖


          NOTE:對樣品進(jìn)行外觀分析,電感旁邊電容與焊盤剝離,電容本體棱角位置損傷,從損傷的狀態(tài)分析為受外力導(dǎo)致。


          電感本體棱角位置損傷圖

          電感損傷部位放大圖


          NOTE:對樣品進(jìn)行外觀分析,電感端子與焊盤焊錫完全剝離。



          NOTE:對樣品進(jìn)行外觀分析,剝離的PCB側(cè)焊盤表面未發(fā)現(xiàn)沾臟、異物。


          電感本體端子

          電感本體端子放大圖


          NOTE:對樣品進(jìn)行外觀分析,電感本體端子表面未發(fā)現(xiàn)沾臟、異物。



          NOTE:對樣品進(jìn)行外力剝離后外觀對比分析,兩個焊盤剝離后,焊錫斷面極其相似。


          · SEM分析

          PCB焊盤表面


          NOTE:對樣品進(jìn)行SEM檢測,PCB側(cè)焊盤表面未發(fā)現(xiàn)異物、沾臟 ,電感從錫層剝離。


          電感端子表面


          NOTE:對樣品進(jìn)行SEM分析,電感端子表面未發(fā)現(xiàn)異物、沾臟 。


          · EDS分析


          PCB側(cè)焊盤主要元素為Sn占55.85%,Cu占23.68%。


          電感端子主要元素為Sn占47.11%,Cu占31.03%。


          NOTE:對樣品進(jìn)行EDS檢測,電感端子和PCB焊盤主要元素均為Sn、Cu,未發(fā)現(xiàn)異常元素 。


          · 單品外觀分析


          單品外觀分析表


          說明: 對10pcs單品樣品進(jìn)行外觀分析,端子未發(fā)現(xiàn)有漏底材、沾臟、異物的現(xiàn)象。


          · 浸錫試驗


          單品浸錫表

          錫爐溫度250℃,浸錫時間3±1s,檢查電感端子的上錫狀況。



          NOTE:對5pcs單品樣品進(jìn)行浸錫試驗,端子上錫狀態(tài)良好,未發(fā)現(xiàn)有不上錫、漏底材的現(xiàn)象。


          分析結(jié)果


          綜合上記檢測信息,通過外觀局部放大分析、SEM、EDS分析,判斷引起電感剝離失效的原因為——

          ①發(fā)現(xiàn)電感所在那一側(cè)的端子與焊盤焊錫完全剝離;

          ② 剝離的電感旁發(fā)現(xiàn)電容與焊盤剝離,其中電容和電感本體棱角位置均發(fā)現(xiàn)明顯的損傷,且從損傷的狀態(tài)分析為受到外力導(dǎo)致;

          ③ SEM分析剝離的PCB側(cè)焊盤、端子表面未發(fā)現(xiàn)沾臟、異物。

          綜上所述此次電感剝離不良為受外力導(dǎo)致。



          新陽檢測中心有話說:


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