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          使用低α粒子錫膏降低微電子封裝的軟錯誤率

          發(fā)布人:深圳福英達(dá) 時間:2024-03-13 來源:工程師 發(fā)布文章

          軟錯誤是指由輻射對硅集成電路(Si ICs)的影響導(dǎo)致的設(shè)備的暫時性故障。軟錯誤會影響設(shè)備的性能和可靠性,尤其是在空間、防御、醫(yī)療和電力系統(tǒng)等高輻射環(huán)境中。隨著電子設(shè)備的不斷微型化和高密度化,軟錯誤的發(fā)生概率也隨之增加,因為現(xiàn)在低能量的α粒子也能翻轉(zhuǎn)一個存儲器位或改變邏輯電路的時序。其中,一種主要的α粒子輻射源是用于封裝中連接元件的錫膏,它們含有α放射性元素。由于使用了倒裝焊(flip-chip)和3D封裝,錫膏凸點(solder bumps)已經(jīng)非常靠近硅器件,即使是低能量的α射線也能引起軟錯誤。因此,需要開發(fā)低α活性無鉛錫膏(Low Alpha activity Pb-free solders),以減少軟錯誤的發(fā)生。

          焊料的α粒子來源

          含鉛焊料被認(rèn)為是α粒子的主要來源,這一點由北卡羅萊納州微電子中心(MCNC)進(jìn)行的一項研究證實,該研究監(jiān)測了晶圓凸點過程中的每一步的α輻射。鉛的放射性可以追溯到 238U。從 238U 開始,它衰變?yōu)?210Pb,在 22 年內(nèi)進(jìn)一步衰變?yōu)?Bi,然后衰變?yōu)?Po,再在 138 天內(nèi)衰變?yōu)? 206Pb。除了α粒子外,衰變過程還涉及β粒子(電子)排放。β粒子對軟錯誤沒有影響。天然鉛源中的鈾含量相差三個數(shù)量級之多。在熔煉和化學(xué)提純過程中,雖然可能會去除其他元素,但由于兩種鉛同位素的化學(xué)性質(zhì)相同,放射性 210Pb 會與非放射性 206Pb 集中在一起。在熔煉和提純后的 8 至 9 個月內(nèi),鉛的α活度可高達(dá) 100 α/(cm2 "h)。

          α粒子的產(chǎn)生過程:

          芯片制造商通常把α粒子的來源分為內(nèi)在源和外在源。

          a)內(nèi)在源是指存在于加工過的硅本身的源,但通常不太重要。它們是由加工相關(guān)因素造成的,如磷酸蝕刻留下的殘留物。磷酸通常用于晶圓制造過程中硅氮化物絕緣薄膜的圖案化;它的純度通常相對較低,含有低水平的放射性同位素。其他內(nèi)在源包括薄膜氧化物和氮化物中的痕量雜質(zhì)、植入操作過程中添加到硅中的無關(guān)雜質(zhì)以及硅晶片本身的雜質(zhì)。

          b) 外在源:外在源通常與硅芯片不同,但在集成電路封裝內(nèi)。大多數(shù)α粒子源都屬于這一類。表 1 列出了微電子封裝中最常見的α粒子源。表 2列出了其中一些α粒子****源的單個貢獻(xiàn)估計值。目前認(rèn)為,幾乎所有用于集成電路封裝的材料都會導(dǎo)致軟錯誤發(fā)生。由于尺寸縮小,距離拉近,器件對 SER 的敏感度不斷提高,因此有必要對進(jìn)廠材料和制造工藝制定例行監(jiān)控程序。

          表 1. 微電子封裝中最常見的α粒子源

          表2. 微電子封裝中使用的一些常見材料的α輻射活度

          低α粒子錫膏的開發(fā)和應(yīng)用

          為了降低錫膏中的α粒子活度,有兩種主要的方法:一是使用無鉛焊料,二是使用低α活性鉛焊料。無鉛焊料是指不含鉛或含鉛量極低的焊料,它們通常由錫、銀、銅等元素組成。無鉛焊料的優(yōu)點是可以避免鉛對環(huán)境和人體的危害,同時也可以消除錫膏中的α粒子來源。

          低α活性鉛焊料是指經(jīng)過特殊處理,去除了放射性 210Pb 的鉛焊料。這種處理方法通常包括兩個步驟:一是使用高純度的原材料,二是使用真空或惰性氣體環(huán)境進(jìn)行熔煉和提純。這樣可以有效地降低錫膏中的α粒子活度,達(dá)到 0.01 α/(cm2 "h)以下。低α活性鉛焊料的優(yōu)點是可以保持鉛焊料的優(yōu)良性能,如低熔點、低氧化性、低蠕變性、低金屬間化合物形成率等,同時也可以減少軟錯誤的發(fā)生。

          目前,低α活性無鉛錫膏已經(jīng)在一些高端微電子封裝領(lǐng)域得到了應(yīng)用,如航天航空、醫(yī)療器械和電力系統(tǒng)等。這些領(lǐng)域?qū)υO(shè)備的可靠性要求非常高,不能容忍任何軟錯誤的發(fā)生。因此,使用低α活性無鉛錫膏可以有效地提高設(shè)備的抗輻射能力和安全性。

          福英達(dá)低α粒子焊料

          低α焊料系列,是福英達(dá)公司為SiP系統(tǒng)級封裝、Flip Chip芯片倒裝等高密度、微型化封裝開發(fā)的具有低α粒子計數(shù)的高鉛焊料。應(yīng)用于移動通信(智能手機、平板電腦、穿戴設(shè)備)、 物聯(lián)網(wǎng)(Wi-Fi, BLTE,UWB,LTE-M & NB-IoT、消費、工業(yè))、 汽車(信息娛樂系統(tǒng))、 高性能運算(運算、網(wǎng)絡(luò)、 人工智能)等領(lǐng)域。

          福英達(dá)低α產(chǎn)品包含low alpha (<0.01 cph/cm2) 和ultra low alpha (<0.002cph/cm2) 兩種放射級別,無鉛、高鉛合金,粒徑型號覆蓋T3、T4、T5、T6。該低α焊料系列具有錫粉球形度好、粒度分布窄、氧含量低、化學(xué)純度高等優(yōu)點,滿足α粒子放射規(guī)格要求,并可提供客制化開發(fā)服務(wù)。歡迎來電咨詢。

          參考文獻(xiàn)

          Santosh Kumar, Shalu Agarwal and Jae Pil Jung (2013). Soft error issue and importance of low alpha solders for microelectronics packaging. Rev. Adv. Mater. Sci.34 185-202.


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