業(yè)界速度最快、體積最小且最具成本效率
吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司 (NYSE: KEI) 是為不斷增長的測量需求提供解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，——宣布推出兩款2600系列數(shù)字源表。2611和2612在吉時(shí)利去年推出的革命性源測量單元（SMU）平臺(tái)上，增加了更高的電壓和電流測量能力，極其有效地降低了大量電子元器件的測試成本。兩種新型號(hào)產(chǎn)品具備的200V和10A的量程，使其成為功能測試、硅元素及復(fù)合半導(dǎo)體器件如FET（場效應(yīng)晶體管存儲(chǔ)器）、二極管、電壓調(diào)節(jié)器、光電器件的I-V特性測試的理想選擇。與同系列中其它2600系列數(shù)字源表相比，2611和2612將現(xiàn)有最高的數(shù)據(jù)吞吐量SMU（源測量單元）技術(shù)與緊湊的可升級(jí)的波形因子相結(jié)合，從而可實(shí)現(xiàn)從1到16個(gè)SMU通道的無縫系統(tǒng)整合。

2611和2612是專門設(shè)計(jì)用于滿足電子制造業(yè)者對自動(dòng)化系統(tǒng)的成本效益的需求，這種系統(tǒng)可以快速測試中、低管腳數(shù)的器件，或者測試一個(gè)產(chǎn)品系統(tǒng)中的組合裝置。2611只有一個(gè)通道，2612是雙通道的，多臺(tái)儀器間可通過獨(dú)特的嵌入式測試腳本處理器(TSP™)和TSP-Link無縫整合在一起。這些技術(shù)可以支持用戶在全部多個(gè)通道上，編程和執(zhí)行獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)和與之關(guān)聯(lián)的通訊延遲之外的高速、自動(dòng)化測試序列，這使得測試速度比常規(guī)測試儀器快了十倍。具有雙通道和200V量程電壓源的2612也可根據(jù)需要進(jìn)行400V電壓源的操作，此時(shí)每個(gè)SMU通道可具有1.5A直流和10A脈沖式輸出。兩種新產(chǎn)品都具有新的接觸式檢查功能，此功能將被加入全部2600系列產(chǎn)品線中。這樣在進(jìn)行測試前就可以確認(rèn)測試儀器與所有被測裝置的連接是完好的，消除在高速測試應(yīng)用中出現(xiàn)的假故障。最終提供給用戶的是一個(gè)用來執(zhí)行精密直流、脈沖和低頻交流源-測量測試的ATE（自動(dòng)測試設(shè)備）系統(tǒng)和可升級(jí)的儀器平臺(tái)。

模塊化的、靈活的、可升級(jí)的儀器，更低的成本費(fèi)用

2600系列數(shù)字源表可提供單或雙通道測量能力并且可借助新的TSP-Link技術(shù)升級(jí)為更大

的自動(dòng)化測試系統(tǒng)。TSP-Link是吉時(shí)利開發(fā)的一個(gè)具有同步觸發(fā)和儀器間通信功能的總線，它可以讓一個(gè)單獨(dú)的TSP程序控制多達(dá)16個(gè)或更多個(gè)SMU單元，理論上系統(tǒng)的上限可達(dá)128通道。它專門為測試及測量類應(yīng)用所特有的小信號(hào)傳遞進(jìn)行了優(yōu)化。由于它具有非常小的網(wǎng)絡(luò)開支和每秒100Mbit數(shù)據(jù)傳輸速率的特點(diǎn)，因此在實(shí)際應(yīng)用中明顯地比GPIB和100BaseT以太網(wǎng)快。TSP-Link無需網(wǎng)絡(luò)集成或繁多的電纜即可連接多個(gè)2600測試單元，將其無縫集成為一個(gè)系統(tǒng)。對這些連接在一起的單元可以像對單個(gè)獨(dú)立的ATE系統(tǒng)一樣進(jìn)行編程和控制。TSP-Link給用戶帶來了擴(kuò)展性方面的極大優(yōu)勢，同時(shí)又不浪費(fèi)機(jī)架空間和增加主機(jī)系統(tǒng)，也不增加額外成本。

更短的測試時(shí)間

吉時(shí)利的TSP技術(shù)極大地提高了高速自動(dòng)化系統(tǒng)的測試吞吐率。2611、2612數(shù)字源表可以存儲(chǔ)和運(yùn)行數(shù)百種預(yù)先定義的器件測試，可進(jìn)行界限比較，完成條件性測試程序分支。在執(zhí)行測試過程中，它們可以與PC控制器一起工作，也可以獨(dú)立運(yùn)行，其數(shù)字I/O接口可以直接控制主機(jī)和其它儀器。這大大減少了與GPIB數(shù)據(jù)通信的延遲以及PC操作系統(tǒng)的花費(fèi)。另外，這些新產(chǎn)品無縫地切換量程的功能可以顯著提高SMU完成跨量程測試序列的測試速度。而接觸檢測功能通過消除因連接不好而造成的虛假故障指示現(xiàn)象進(jìn)一步提高了測試速度，根據(jù)被測器件的不同，與老式測試儀器相比，2611和2612測試時(shí)間可縮短10倍；而在元器件測試應(yīng)用中，時(shí)間通常能縮短2～4倍。

測試系統(tǒng)開發(fā)簡單化

過去，為基礎(chǔ)研發(fā)應(yīng)用或高速生產(chǎn)測試應(yīng)用開發(fā)多儀器的自動(dòng)化測試系統(tǒng)是一個(gè)挑戰(zhàn)。吉時(shí)利用兩個(gè)免費(fèi)的軟件工具解決了這個(gè)問題。這兩個(gè)工具極大地簡化了2600系列數(shù)字源表的系統(tǒng)化工作。對于研發(fā)和曲線描繪應(yīng)用，吉時(shí)利的Labtracer 2.0軟件可控制多達(dá)8個(gè)數(shù)字源表通道，不用進(jìn)行任何編程即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試。該軟件可讓用戶簡單方便地全面配置數(shù)字源表通道、運(yùn)行器件參數(shù)測試以及完成測試數(shù)據(jù)繪圖。


對于高速生產(chǎn)測試應(yīng)用，TSP用一種類似BASIC命令語言提供了一個(gè)真正簡單的編程接口。產(chǎn)品出廠時(shí)即以內(nèi)置測試腳本的形式提供了很多示例。吉時(shí)利網(wǎng)站（www.keithely.com）上提供了更多的示例程序以供下載。TSP的集成開發(fā)環(huán)境——測試腳本創(chuàng)建器（Test Script Builder）軟件也是免費(fèi)提供的，它使得系統(tǒng)設(shè)計(jì)者能夠快速、方便地創(chuàng)建和調(diào)試客戶化的測試腳本。有關(guān)研究顯示，與前幾代測試儀器相比，通過使用TSP和相關(guān)軟件，用戶可以減少50％～70％的系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間。

應(yīng)用的靈活性

2611和2612型產(chǎn)品的200V、10A脈沖式測量能力大大擴(kuò)展了2600系列數(shù)字源表的應(yīng)用范圍。此外，其每一個(gè)SMU通道有都具備脈沖發(fā)生器和低頻任意波形發(fā)生器功能，這使得復(fù)雜的測試需求大為簡化：它為包括所有元器件測試在內(nèi)的廣泛應(yīng)用提供了一個(gè)通用的模擬I/O引腳，再配合TSP-Link的擴(kuò)展能力，使得它們可以為幾乎所有生產(chǎn)環(huán)境中的高速、多通道測試應(yīng)用提供無與倫比的準(zhǔn)確性和低噪音數(shù)據(jù)。

更低的使用成本

總體來講，2600系列通過可擴(kuò)展的最優(yōu)化系統(tǒng)，比如降低購置費(fèi)用、減少測試時(shí)間、縮短系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間以及提供應(yīng)用的靈活性來降低用戶的總體使用成本。這些SMU能夠在現(xiàn)有的測試平臺(tái)快速增加新功能和提高其測試能力來滿足新測試要求，減少用戶的資金投入。只需簡單的系統(tǒng)擴(kuò)展、系統(tǒng)集成性以及很小的改動(dòng)就可以讓2600系列的用戶在提高系統(tǒng)靈活度、性能和可靠性的同時(shí)無需付出像用戶定制設(shè)備那樣的高成本。對于升級(jí)的需求，只需進(jìn)行最小的SMU硬件改變即可輕松滿足——用戶可以用一個(gè)或兩個(gè)SMU模塊為標(biāo)準(zhǔn)，通過簡單地修改測試腳本來調(diào)整其用途。