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          基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

          —— TD-LTE eNB Performance Test Solution Based on HARQ
          作者:白瑛 張勤 叢姍姍 安捷倫科技軟件有限公司 時間:2011-02-23 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            引言

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/117169.htm

            作為一種先進的技術,(Long Term Evolution,長期演進)系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢[1-4]。同時,系統(tǒng)與現(xiàn)有系統(tǒng)(2G/2.5G/3G)能夠共存,并且實現(xiàn)平滑演進。

            系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業(yè)務等諸多優(yōu)勢,是中國通信業(yè)界力推的國際標準。

            系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標[5]。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現(xiàn)實時反饋并動態(tài)調(diào)整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號,同時還需要模擬相應的信道衰落模型,并且根據(jù)基站下發(fā)的ACK/NACK指令實時地調(diào)整發(fā)射信號的編碼冗余因子,以模擬真實的通信環(huán)境[6]。本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB作為測試平臺,通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號,并經(jīng)過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統(tǒng)計出基站的吞吐率。

            測試原理

            上行方式

            LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應技術。雖然異步自適應HARQ技術與同步非自適應技術比較,在調(diào)度方面的靈活性更高,但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復雜性,來自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的,因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導致上行鏈路對于調(diào)制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確,所以更多地依賴HARQ技術來保證系統(tǒng)的性能[7]。因此,上行鏈路的平均傳輸次數(shù)會高于下行鏈路。所以,考慮到控制信令的開銷問題,在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術。

            上行HARQ時序

            LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布,因此其HARQ時序映射關系較FDD更為復雜。根據(jù)3GPP TS 36.213規(guī)定,TDD制式不同UL/DL Configuration下,下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令,每個位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號,如表1所示。

           


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          關鍵詞: LTE HARQ

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