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          日本電子信息領域技術戰(zhàn)略地圖(一)半導體技術子領域

          作者: 時間:2011-03-21 來源:上??茖W技術情報研究所 宋凱 收藏

            自1980年建立以來,日本新能源產業(yè)技術綜合開發(fā)機構(NEDO)在日本技術發(fā)展領域發(fā)揮著獨特的作用。作為日本最大的公共研發(fā)管理組織,它是聯系官、產、學、研的重要樞紐(如下圖)。它的主要活動包括推進先進技術的研發(fā)、新能源和節(jié)能技術的推廣和國際合作項目。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/117889.htm

            NEDO每年都要在各先進技術領域中征集新技術課題,予以研究支持。在征集技術課題的計劃中,NEDO會明確立題的目的和重要性、新課題的范圍或研發(fā)方向、相關的技術戰(zhàn)略圖、以及已有的相關項目,從中我們可以看到日本在先進技術領域的研發(fā)重點和動向。以下將簡介2009年度NEDO在領域的技術課題征集計劃中的技術戰(zhàn)略圖,涉及、網絡、存儲記憶體、軟件等領域。

            一、日本技術戰(zhàn)略地圖制定背景

            日本制定技術戰(zhàn)略的原因主要有三個方面:

            一是日本將半導體技術定位為泛在社會的基礎,是產業(yè)內非常重要的核心產品,可以提高信息家電、汽車、產業(yè)設備、醫(yī)療設備等各種產品的附加價值。

            二是半導體技術的研發(fā)和產業(yè)化是一個系統(tǒng)化工程,經費巨大,需要各方面的合作,包括政府主導與企業(yè)的合作、企業(yè)間的產業(yè)聯盟等。

            三是日本需要提高半導體產業(yè)內的發(fā)展競爭力,并在全球激烈的市場競爭中取得勝利。

            日本的半導體技術戰(zhàn)略圖是在國際半導體發(fā)展路線圖(ITRS)的基礎上,結合該國產業(yè)發(fā)展需要,抽取了日本所需的的重要半導體技術,以低耗電技術為中心,同時考慮了納米、新材料以及硅以外的半導體技術的深度應用,以及制造工程的因素,進行細化。

            日本認為半導體技術未來的發(fā)展趨勢是微型化、高性能化、低耗電、新材料新技術的應用(Beyond CMOS)。因此第二代以或者更后面幾代的半導體技術的研發(fā)值得關注。

            日本已有的半導體技術相關項目有:1、“第二代半導體材料、過程基礎技術的開發(fā)(MIRAI)項目”(2001~2010年)。其中開發(fā)的成果-Selete技術轉移給有限公司,取得了顯著的效果。2、考慮制造時過程的變化而進行設計的“第二代過程友好設計技術開發(fā)”(2006~2010年),以及在半導體中引入了新思想的“半導體應用芯片項目”(2005~2009年)都正在實施當中。

            這次半導體戰(zhàn)略有以下幾方面的思考:1、將半導體技術按照業(yè)務類型進行分類。2、對半導體的安全性、可靠性、省電性等進行重要技術的分類整理。因此按照技術動向的發(fā)展,對LSTP設備技術、裝配技術、制造技術、配線技術的內容進行修改。?

            二、日本半導體技術戰(zhàn)略地圖研究領域

            在日本半導體技術戰(zhàn)略地圖上,將研究領域分為兩大塊,一是系統(tǒng)LSI(SoC)領域,性能目標是高速、多功能、低耗電,制造目標是低成本、QTAT(快速周期)、生產種類繁多。二是非CMOS領域,性能目標是:性能超越硅,超高速、大功率密度、低耗電、具有新功能等。

            每個領域設置若干項目,層次依次為大項目、中項目、中項目細分或小項目。系統(tǒng)LSI(SoC)領域共有10項大項目,非CMOS領域有2項。以下各表列出的是重點項目,其中斜體字的是小項目。

            (一)、系統(tǒng)LSI(SoC)

            1、(大項目)LSTP(低待機功率)設置技術 

          中項目
          中項目細分(小項目)
          設備微型化
          柵極長度和柵極介質的減少
          面向納米CMOS的新技術
          晶體結構
          ¨       大批量CMOS
          ¨       UTB FDSOI
          ¨       雙柵場效應管(Fin FET)
          ¨       Steep Switching FET
          流動性改善技術
          ¨       應力堆積膜
          ¨       嵌入硅鍺源汲極(Embedded SiGe on S/D)
          ¨       SGOI、GOI
          ¨       基板的面方位(100)或(110)
          金屬柵和High-k技術
          ¨       金屬柵/Hf系High-k
          ¨       金屬柵/La系High-k
          新的晶體管和準彈道行為
          ¨       Ge通道
          ¨       Ⅲ-Ⅴ族通道
          ¨       納米線晶體管
          ¨       準彈道行為
          參數變化控制技術(閾值電壓控制)
          ¨       基板的偏差
          ¨       獨立多柵控制
          混載技術
          內存混載技術
          ¨       SRAM壽命延長技術
          ¨       絕緣的SOI  DRAM
          ¨       高速訪問非易失性存儲器
          應用混載技術
          ¨       IC標簽
          ¨       傳感器芯片
          ¨       大規(guī)模網絡使用的芯片
          薄膜晶體管
          ¨       顯示屏混載TFT
          仿真技術
          器件仿真技術
          ¨       彈道傳導
          ¨       原子層處理模型
          ¨       可靠性模型
          ¨       統(tǒng)計可靠性模型
          ¨       納米層材料設計模型
          ¨       非典型CMOS緊湊模型
          ¨       引入量子效應的電路模型

           

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          關鍵詞: 電子信息 半導體

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