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          IC設(shè)計(jì)有四大挑戰(zhàn)

          —— ——有新挑戰(zhàn),就有EDA業(yè)成長(zhǎng)的機(jī)會(huì)
          作者:王瑩 時(shí)間:2012-09-12 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

             Graphics公司董事長(zhǎng)兼CEO Walden Rhines近日在北京的 Forum稱(chēng),過(guò)去十年,設(shè)計(jì)主要面臨四個(gè)挑戰(zhàn)。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/136700.htm

            半導(dǎo)體工藝制造方面的OPC(光學(xué)鄰近校正技術(shù),Optical Proximity Correction)。在晶圓片光刻時(shí),當(dāng)線距越來(lái)越小時(shí),光打到晶圓片上時(shí)有很多失真現(xiàn)象,因此需要EDA工具來(lái)解決。

            ESL(電子系統(tǒng)級(jí))高層次設(shè)計(jì)的早期驗(yàn)證和分析。在設(shè)計(jì)沒(méi)做完之前,就可以分析未來(lái)的性能如何。

            功能驗(yàn)證。過(guò)去十年,隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜度的提升,功能驗(yàn)證花費(fèi)越來(lái)越多的時(shí)間。

            分析工具。在生產(chǎn)之前,驗(yàn)證和分析越來(lái)越多,包括功耗分析——過(guò)去業(yè)界不太關(guān)注0.5微米、0.35微米、0.18微米及以下的功耗。但是隨著特征尺寸的減少,漏電流增加,現(xiàn)在沒(méi)有一個(gè)工具不對(duì)功耗進(jìn)行優(yōu)化。

            有新的挑戰(zhàn),就有EDA業(yè)的成長(zhǎng)機(jī)會(huì)。每次有新問(wèn)題,每年的EDA營(yíng)業(yè)額就增長(zhǎng)。

            當(dāng)前熱門(mén)趨勢(shì)是20nm和 。在 IC方面,是第一個(gè)提出解決方案的公司。也是封裝方面的問(wèn)題,Mentor的PCB(印制電路板)工具能夠?qū)氲?D的設(shè)計(jì)中。另外,驗(yàn)證,封裝,分析,布局&布線等方面也需要EDA公司推出完整的工具。Mentor的Calibre PERC,使設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)時(shí)就可以分析可靠性,不用生產(chǎn)出來(lái)后再拿到基臺(tái)上去測(cè)試,保證了ESD(靜電放電)保護(hù)和綜合電路可靠性驗(yàn)證。  
                                   
                                    照片 Mentor Forum北京站



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