NI PXI數(shù)字化儀和LabVIEW抖動(dòng)分析工具包
美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)于近日發(fā)布NI PXIe-5162數(shù)字化儀,并更新了LabVIEW抖動(dòng)分析工具包。 該數(shù)字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率,它的高速測(cè)量垂直分辨率是傳統(tǒng)8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個(gè)插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個(gè)通道,適用于高通道數(shù)數(shù)字化儀系統(tǒng)的生產(chǎn)測(cè)試、研究和設(shè)備特性記述。工程師們因此可以結(jié)合使用LabVIEW與數(shù)字化儀,以及LabVIEW抖動(dòng)分析工具包中專門為高吞吐量的抖動(dòng)、眼圖和相位噪聲測(cè)量?jī)?yōu)化過(guò)的函數(shù)庫(kù),以滿足自動(dòng)化驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境所需?! ?/p>本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/144206.htm
“NI PXIe-5162數(shù)字化儀結(jié)合了高速、高通道和高分辨率測(cè)量三大特點(diǎn),讓傳統(tǒng)的示波器用戶突破了使用傳統(tǒng)箱型儀器進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試的界限,”NI模塊化儀器研發(fā)總監(jiān)Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數(shù)字化儀與LabVIEW抖動(dòng)分析工具包,可以幫助工程師借助現(xiàn)代PC的處理性能,而不是箱型示波器上傳統(tǒng)的嵌入式處理器,加快測(cè)量系統(tǒng)的速度。”
NI PXIe-5162 特性
- 10位垂直分辨率,可更深入地解讀信號(hào)
- 單個(gè)3U PXI Express插槽包含4個(gè)通道,在一個(gè)PXI機(jī)箱中可擴(kuò)展至68個(gè)通道
- 一個(gè)通道上5 GS/s的最大采樣率或同時(shí)使用四個(gè)通道,每通道1.25 GS/s采樣率
LabVIEW抖動(dòng)分析工具包特性
- 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)、眼圖、抖動(dòng)、電平和時(shí)域測(cè)量函數(shù)
- 眼圖和掩膜測(cè)試的示例程序,以及使用雙狄拉克(dual-Dirac)和基于頻譜的分離方法,進(jìn)行隨機(jī)抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)(RJ/ DJ)分離的示例程序
評(píng)論