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          Android程序的內(nèi)存泄漏與規(guī)避方法

          作者: 時間:2013-01-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          ② 然后選中想要監(jiān)測的進(jìn)程,比如system_process進(jìn)程,進(jìn)而選中Devices視圖界面中最上方一排圖標(biāo)中的“Update Heap”圖標(biāo),點擊Heap視圖中的“Cause GC”按鈕,此時在Heap視圖中就會看到當(dāng)前選中的進(jìn)程的使用量的詳細(xì)情況。

          ③ Heap視圖界面會定時地刷新正在監(jiān)測的進(jìn)程使用情況,通過不斷地操作被監(jiān)測的應(yīng)用來觀察使用的變化。

          那么如何才能知道被監(jiān)測的應(yīng)用是否存在內(nèi)存呢?這里需要注意一個值:Heap視圖中有一個類型值叫做data object,即數(shù)據(jù)對象。在data object一行中有一列是“Total Size”,其值就是當(dāng)前進(jìn)程中所有Java數(shù)據(jù)對象的內(nèi)存總量。一般情況下,這個值的大小決定了應(yīng)用是否存在內(nèi)存。我們不斷地操作當(dāng)前應(yīng)用,同時注意觀察data object的Total Size值,正常情況下Total Size的值都會穩(wěn)定在一個有限的范圍內(nèi),也就是說由于程序中的代碼良好,沒有造成對象不被垃圾回收的情況,內(nèi)存占用量保持在了一個相對穩(wěn)定的水平;反之,如果代碼中存在沒有釋放對象引用的情況,則data object的Total Size值會隨著操作次數(shù)的增多越來越大,直到到達(dá)一個上限后導(dǎo)致進(jìn)程被殺掉。

          通過上面的分析,使用DDMS的Heap視圖工具可以很方便地確認(rèn)應(yīng)用程序是否存在內(nèi)存的問題。

          4.2 內(nèi)存分析工具M(jìn)AT

          通過DDMS工具可以判斷應(yīng)用程序中是否存在內(nèi)存泄漏的問題,那又如何定位到具體出現(xiàn)問題的代碼片段,最終找到問題所在呢?內(nèi)存分析工具M(jìn)AT Memory Analyzer Tool解決了這一難題。MAT工具是一個Eclipse 插件,同時也有單獨的RCP 客戶端,MAT工具的解析文件是.hprof,這個文件存放了某進(jìn)程的內(nèi)存快照。MAT工具定位內(nèi)存泄漏具體位置的如下:

          ① 生成.hprof文件。Eclipse中生成.hprof文件的有很多,不同版本中生成.hprof的方式也稍有差別,但它們整體思路是一樣的。我們在DDMS界面選中想要分析的應(yīng)用進(jìn)程,在Devices視圖界面上方的一行圖標(biāo)按鈕中,同時選中“Update Heap”和“Dump HPROF file”兩個按鈕,這時DDMS將會自動生成當(dāng)前選中進(jìn)程的.hprof文件。

          ② 將.hprof 文件導(dǎo)入到MAT工具中,MAT工具會自動解析并生成報告,點擊“Dominator Tree”按鈕,并按包分組,選擇已定義的包類點右鍵,在彈出的菜單中選擇List objects博With incoming references,這時會列出所有可疑的類。右鍵點擊某一項,并選擇Path to GC Roots博exclude weak/soft references,MAT工具會進(jìn)一步篩選出跟程序相關(guān)的所有內(nèi)存泄漏的類。這樣就可以追蹤到某一個產(chǎn)生內(nèi)存泄漏的類的具體代碼中。

          使用MAT內(nèi)存分析工具查找內(nèi)存泄漏的根本思路是找到哪個類的對象的引用沒有被釋放,然后分析沒有被釋放的原因,最終定位到代碼中哪些片段存在著內(nèi)存泄漏。

          結(jié)語

          應(yīng)用程序中內(nèi)存泄漏是一個特別重要但又難以解決的問題,不再有用的對象被其他依然有用的對象所引用是導(dǎo)致內(nèi)存泄漏的主要原因。程序員良好的編程風(fēng)格和專業(yè)的檢測工具可以有效地減少內(nèi)存泄漏的問題,比如上面介紹的內(nèi)存監(jiān)測工具DDMS和內(nèi)存分析工具M(jìn)AT。但如何更好地避免甚至消除內(nèi)存泄漏、如何解決因內(nèi)存泄漏而導(dǎo)致的應(yīng)用程序系統(tǒng)性能下降問題,將是內(nèi)存泄漏相關(guān)領(lǐng)域的重要研究方向。


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