嵌入式軟件測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)
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測(cè)試是傳統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)的最后一步。整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程,需要收集要求、進(jìn)行高層次的設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、創(chuàng)建代碼、進(jìn)行部分單元測(cè)試,然后集成,最后才開(kāi)始最終測(cè)試。
最佳的開(kāi)發(fā)實(shí)踐應(yīng)包含代碼檢查這個(gè)步驟。然而代碼檢查一般只能找出70%的系統(tǒng)錯(cuò)誤,因此完美的測(cè)試環(huán)節(jié)絕對(duì)必不可少。測(cè)試就像個(gè)復(fù)式記帳系統(tǒng),可以確保將缺陷扼殺在最終推出的產(chǎn)品之前。
在所有其它的工程實(shí)踐中,測(cè)試都被視為基本環(huán)節(jié)。比如,在美國(guó),每一座聯(lián)邦政府出資修建的橋都必須經(jīng)過(guò)大量的風(fēng)洞測(cè)試。而在軟件領(lǐng)域,測(cè)試并沒(méi)有很受重視。盡管測(cè)試是所有工程實(shí)踐準(zhǔn)則的關(guān)鍵部分,但編寫(xiě)測(cè)試程序卻感覺(jué)是在浪費(fèi)時(shí)間。好在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)界內(nèi)的許多領(lǐng)域已經(jīng)將測(cè)試作為其工作的核心部分,他們認(rèn)識(shí)到將這個(gè)關(guān)鍵步驟放在項(xiàng)目末期極不明智,因而主張同步地編寫(xiě)測(cè)試程序和應(yīng)用程序。
嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試在諸多方面都與應(yīng)用軟件測(cè)試一樣。不過(guò),應(yīng)用測(cè)試與嵌入式系統(tǒng)測(cè)試之間還是存在一些重要差異。嵌入式開(kāi)發(fā)人員一般會(huì)用到基于硬件的測(cè)試工具,而這類(lèi)工具通常不會(huì)用于應(yīng)用開(kāi)發(fā)過(guò)程中。此外,嵌入式系統(tǒng)一般都有些獨(dú)一無(wú)二的特性,這些特性應(yīng)該在測(cè)試計(jì)劃中得以體現(xiàn)。本文將介紹測(cè)試和測(cè)試案例開(kāi)發(fā)的基礎(chǔ)知識(shí),并指出整個(gè)嵌入式系統(tǒng)測(cè)試工作的特有細(xì)節(jié)。
何時(shí)測(cè)試以及如何測(cè)試
從圖1可以看出,在可行的條件下,測(cè)試應(yīng)盡早展開(kāi)。一般來(lái)講,最早的測(cè)試是由最初的開(kāi)發(fā)人員進(jìn)行的模塊或單元測(cè)試。遺憾的是,開(kāi)發(fā)人員大多對(duì)如何建構(gòu)一整套測(cè)試?yán)桃赃M(jìn)行測(cè)試所知不足。由于精心設(shè)計(jì)的測(cè)試?yán)掏ǔV钡郊蓽y(cè)試時(shí)才能使用,因此許多在單元測(cè)試過(guò)程中就能找出的缺陷直到集成測(cè)試時(shí)才會(huì)被發(fā)現(xiàn)。比如,硅谷的一家大型網(wǎng)絡(luò)設(shè)備廠(chǎng)商為找出其軟件集成問(wèn)題的關(guān)鍵原因,進(jìn)行了一項(xiàng)研究。這家廠(chǎng)商發(fā)現(xiàn),在項(xiàng)目集成階段找出的缺陷中,有70%是由在集成之前從沒(méi)被執(zhí)行過(guò)的程序所產(chǎn)生的。
圖1:改正問(wèn)題的成本。
單元測(cè)試:開(kāi)發(fā)人員在單獨(dú)進(jìn)行模塊級(jí)測(cè)試時(shí)一般是編寫(xiě)存根代碼(stub code)取代余下的系統(tǒng)軟硬件。在開(kāi)發(fā)周期的這個(gè)環(huán)節(jié),測(cè)試主要側(cè)重于代碼的邏輯性能。
通常,開(kāi)發(fā)人員會(huì)分別使用某些平均值、高值或低值、以及某些超出范圍的值(以測(cè)試代碼的異常處理功能)進(jìn)行測(cè)試。但這些基于“黑匣子”的測(cè)試僅能對(duì)模塊中整個(gè)代碼的一部分進(jìn)行測(cè)試。
回歸測(cè)試:測(cè)試不應(yīng)是一勞永逸的。每次修改程序后都應(yīng)該重新進(jìn)行測(cè)試,以確保這些更改不會(huì)無(wú)意中“誤傷”某些不相關(guān)的行為。
稱(chēng)為回歸測(cè)試的這類(lèi)測(cè)試,一般是通過(guò)測(cè)試腳本自動(dòng)進(jìn)行的。比如,如果你設(shè)計(jì)了一組100個(gè)輸入/輸出(I/O)測(cè)試,回歸測(cè)試腳本會(huì)自動(dòng)執(zhí)行這100個(gè)測(cè)試,然后將輸出與一組“黃金標(biāo)準(zhǔn)”輸出進(jìn)行對(duì)比。每次對(duì)代碼的任何部分進(jìn)行修改時(shí),都要對(duì)包含被修改代碼的整個(gè)程序運(yùn)行整套回歸測(cè)試程序包,以確保修改過(guò)程中不會(huì)“誤傷”其余代碼。
測(cè)試什么
因?yàn)闆](méi)有一個(gè)實(shí)際的測(cè)試集可以證明一個(gè)程序是正確的,因此關(guān)鍵問(wèn)題變成了哪個(gè)測(cè)試子集最有可能檢測(cè)到最多的錯(cuò)誤。選擇合適的測(cè)試?yán)痰膯?wèn)題被稱(chēng)為測(cè)試?yán)淘O(shè)計(jì)。雖然存在數(shù)十種測(cè)試案例的設(shè)計(jì)方法,但它們通??蓺w為兩種截然不同的方法:功能測(cè)試和覆蓋測(cè)試。
功能測(cè)試(也稱(chēng)為黑匣子測(cè)試)選擇可評(píng)估實(shí)現(xiàn)與需求規(guī)格符合程度的測(cè)試。覆蓋測(cè)試(也稱(chēng)為白匣子測(cè)試)選擇可執(zhí)行代碼某些部分的測(cè)試?yán)獭?過(guò)后,將詳細(xì)討論這兩種方法。)
這兩種測(cè)試都是對(duì)嵌入式設(shè)計(jì)進(jìn)行嚴(yán)格測(cè)試所必需的。其中,覆蓋測(cè)試表示代碼的穩(wěn)定性,所以這種測(cè)試是用于已經(jīng)完成或?qū)⒔瓿傻漠a(chǎn)品的。另一方面,可在編寫(xiě)要求文檔時(shí),同時(shí)編寫(xiě)功能測(cè)試。
事實(shí)上,從功能測(cè)試開(kāi)始入手,可以最大限度地降低重復(fù)勞動(dòng)和重寫(xiě)測(cè)試案例的工作。因此,在我看來(lái),要先考慮功能測(cè)試。
每個(gè)人都同意先編寫(xiě)功能測(cè)試這個(gè)觀(guān)點(diǎn),有人認(rèn)為,功能測(cè)試在系統(tǒng)集成階段(而不是在單元測(cè)試時(shí))最有用。以下是整合功能測(cè)試和覆蓋測(cè)試方法的一個(gè)簡(jiǎn)單處理流程:
1.找出哪些功能未被功能測(cè)試完全覆蓋。
2.找出每個(gè)功能的哪些部分沒(méi)被執(zhí)行。
3.找出需要哪些額外的覆蓋測(cè)試。
4.運(yùn)行新增的額外測(cè)試。
5.重復(fù)以上步驟。
何時(shí)停止測(cè)試?
最通用的停止標(biāo)準(zhǔn)(按可靠性排序)如下:
1.老板命令停止測(cè)試
2.新的測(cè)試周期找到的新缺陷少于X個(gè)
3.在沒(méi)有發(fā)現(xiàn)任何新缺陷的情況下已經(jīng)滿(mǎn)足了某個(gè)覆蓋閥限
無(wú)論你多么徹底地測(cè)試了程序,都無(wú)法保證找出所有缺陷。這引發(fā)了另一個(gè)有趣的問(wèn)題:你可容忍多少缺陷?假設(shè)在極端軟件壓力測(cè)試過(guò)程中,你發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)每進(jìn)行大約20小時(shí)的測(cè)試就會(huì)鎖定。你仔細(xì)地檢查程序,但是仍無(wú)法找出這個(gè)錯(cuò)誤的根源。這個(gè)時(shí)候你應(yīng)該交付產(chǎn)品嗎?
多少測(cè)試才“足夠好”?這個(gè)我說(shuō)不好。但遵循一些久經(jīng)時(shí)間考驗(yàn)的規(guī)則總是好的:“如果方法Z預(yù)估Y行代碼中的缺陷少于X個(gè),那么就可放心地發(fā)布程序了。”也許有一天會(huì)出現(xiàn)這種標(biāo)準(zhǔn)。編程行業(yè)仍然相對(duì)年輕,還達(dá)不到類(lèi)似建筑業(yè)那樣的成熟度。
許多厚厚的建筑手冊(cè)和大本規(guī)范是多年經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶,它們可為建筑師、土木工程師和結(jié)構(gòu)工程師提供按工期在預(yù)算內(nèi)、建造一棟安全建筑所需的全部信息。偶爾雖仍會(huì)有建筑倒塌,但畢竟很少見(jiàn)。在編程行業(yè)制定出類(lèi)似標(biāo)準(zhǔn)前,“多少測(cè)試才足夠?”就是個(gè)主觀(guān)判斷問(wèn)題。
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