新型的嵌入式存儲器測試算法
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3．2 內(nèi)部存儲單元測試算法
內(nèi)部單元的測試算法有Checkboard測試、MSCAN算法、March算法、GALPAT、跨步法等算法，本文對內(nèi)部存儲器單元進行測試，采用如圖2所示的棋盤和跨步相結(jié)合的算法，在檢測數(shù)據(jù)單元時采用棋盤圖形，在檢測地址譯碼時采用跨步圖形，將棋盤測試法和跨步法各自的優(yōu)點合二為一。本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/149950.htm
4 測試結(jié)果
將本文所涉及的算法進行測試效率與故障覆蓋率的分析，并將結(jié)果進行比較，如表2所列。其中d為地址線數(shù)目，n為數(shù)據(jù)線數(shù)目，M為待測存儲器空間大小，一般M=2d。從表中可以看出這些算法的測試效率比典型的March算法效率高很多，三步法的測試復雜度只有4(n+d+1)，棋盤跨步相結(jié)合的算法的測試復雜度也有5M，在故障覆蓋率也滿足應用要求，完全可以為實際項目所采用。
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