寫狀態(tài)寄存器時(shí)序如圖5所示。

狀態(tài)寄存器位如表2所列。

4 幾點(diǎn)說(shuō)明
①CRC一8校驗(yàn)。整個(gè)數(shù)據(jù)的傳輸過(guò)程都由8位校驗(yàn)保證，確保任何錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)都能夠被檢測(cè)到并刪除。
②為保持自身發(fā)熱溫升小于O．1℃，SHTxx的激活時(shí)間不超過(guò)10％。如12位精度測(cè)量，每秒最多測(cè)量2次。
③轉(zhuǎn)換為物理量輸出。相對(duì)濕度輸出轉(zhuǎn)換公式為：

其中，RHlinear為25℃時(shí)相對(duì)濕度的線性值，SORH為傳感器輸出的相對(duì)濕度的數(shù)值，c1，c2，c3為系數(shù)，如表3所列。
當(dāng)測(cè)量溫度與25℃相差較大時(shí)，則需要考慮傳感器的溫度系數(shù)：

其中，RHtrue為溫度不等于25℃時(shí)相對(duì)濕度的實(shí)際值，θ為當(dāng)前溫度，t1、t2是系數(shù)，如表4所列。

溫度輸出轉(zhuǎn)換公式為：

其中，θ為實(shí)際溫度，SOθ為傳感器輸出的溫度數(shù)值，θ1，θ2為系數(shù)，如表5、表6所列。

由于濕度與溫度經(jīng)由同一塊芯片測(cè)量而得，因此SHTlO可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的露點(diǎn)測(cè)量。具體算法可參閱參考文獻(xiàn)，這里不再詳述。

5 SHTl0與ATmega8L的應(yīng)用實(shí)例
這里以SHTlO與Atmel公司低功耗8位RISC指令集的ATmega8L(內(nèi)部8 MHz振蕩頻率)MCU的接口電路為例，給出實(shí)際應(yīng)用電路及控制程序?qū)嵗１纠捎肁Tmega8L微控制器控制SHTlO，讀取溫濕度數(shù)據(jù)，并將結(jié)果顯示在LCDl602(采用4位模式)上，如圖6所示。
程序采用C語(yǔ)言模塊化設(shè)計(jì)，大大方便被移植到其他MCU上使用，提高了工作效率。