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          Mentor CEO:摩爾定律在20nm工藝后迎挑戰(zhàn)

          作者: 時間:2013-09-18 來源:hc360 收藏

            Mentor董事會主席兼CEOWallyRhines在9月3日于北京舉行的Mentor中國論壇上指出,數(shù)字半導體工藝目前已進入28nm階段,但制造企業(yè)一直以來都在應對來自成本方面的壓力。Mentor的RET/OPC解決方案為中國的芯片代工廠提供了緩解成本壓力的有效方法。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/170046.htm

            他認為,現(xiàn)在仍然有效,但只是“學習曲線——成本降低曲線”的一種特例。進入、14/16nm及10nm工藝時代后,可能會失效,每個晶體管成本每年的下降速度不到30%,這導致企業(yè)面臨的成本挑戰(zhàn)會更加嚴峻。

            以下4類企業(yè)①供應鏈商:芯片生產、光刻和掩膜制造、裝配、自動測試等半導體設備制造商及EDA軟件商;②代工廠;③芯片設計商④電子產品整機商,這些廠商的利潤會受到不同程度的較大擠壓。而在以往10年間,前三類廠商的邊際毛利基本保持在20~50%,電子產品整機商稍低,約在10%。

            只有通過不斷的技術創(chuàng)新,提高產能,降低成本,才有可能保護現(xiàn)有的利潤空間。

            對于以下工藝,Mentor得到了臺積電等的多種合作支持。

            臺積電在工藝的DRC設計規(guī)則優(yōu)化中,采用CalibrePERC工具,可以縮短簽發(fā)(Signoff)運行時間。

            Calibre物理驗證平臺已經(jīng)通過臺積電16nmFinFET工藝的設計參考手冊(DRM)第0.1版與SPICE模型工具認證。

            CalibreRealTime平臺支持Cadence的Virtuoso6.1.5版,及Synopsys的LakerOA/DB。在20nm布局方面,生產率可提高25%~100%。

            臺積電在20nm光刻工藝檢查(LPC)中將采用Mentor統(tǒng)一DFM引擎中的Calibre圖形匹配工具。

            臺積電的3DIC/硅通孔流程,即CoWoS(ChiponWaferonSilicon),采用Mentor的設計、驗證、熱管理和測試解決方案。

            另外,Rhines指出,EDA在發(fā)展節(jié)奏上,相對其他行業(yè)有1-2年的緩沖期,因此2013年中國及全球經(jīng)濟增長放緩不會馬上對EDA行業(yè)造成影響。不過他并未明示將采取何種措施應對未來1、2年可能出現(xiàn)的不利影響。

            Rhines分析預測,2013年,EDA行業(yè)成長勢頭很樂觀,尤其是硬件仿真器和IP這兩個領域。Veloce硬件仿真器在上半年的訂單已達2012年全年銷售額之和,第二季度和上半年訂單量分別同比增長70%和85%。功能驗證工具和Calibre物理驗證/后端驗證工具,在第二季度分別同比增長156%和140%。

            他總結硬件仿真器旺銷的原因時指出,現(xiàn)在微處理器廠商已不在運行速度上大做文章了,基本達到1-3GHz即可。他們更重視多核技術,而在這方面,軟件仿真從性能上來看沒有技術優(yōu)勢,因此只有硬件仿真能獲得市場機遇。

            談到中國市場的重要性時,Rhines表示,大陸市場份額占Mentor全球總營收的8%,其中還包括外資公司部分。若剔除這部分,本土企業(yè)的需求相對較低,主要因為大陸設計公司的水平與歐美的差距很大。不過,路只能一步一步走,芯片設計和制造領域沒有捷徑可尋,要靠長期積累。



          關鍵詞: 摩爾定律 20nm

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