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          PIC16C65單片機(jī)在掃描隧道顯微鏡中的應(yīng)用

          作者: 時(shí)間:2012-03-06 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          其工作過(guò)程如下:首先給步進(jìn)馬達(dá)通電,讓馬達(dá)連續(xù)運(yùn)行,向下逐漸靠近樣品,直徑很小的探針安裝在步進(jìn)馬達(dá)前面隨馬達(dá)一起運(yùn)動(dòng)。當(dāng)探針快要接近樣品時(shí),步進(jìn)馬達(dá)改變運(yùn)行方式,從連續(xù)運(yùn)行方式變?yōu)辄c(diǎn)動(dòng)狀態(tài)運(yùn)行。同時(shí)給探針加偏壓,一直到能檢測(cè)出預(yù)設(shè)的電流時(shí),再將壓電陶瓷z軸方向的距離與預(yù)設(shè)值相比較,可得到該點(diǎn)表面高度。以此可以出全部樣品的表面形狀,再將數(shù)據(jù)送入到計(jì)算機(jī)中,通過(guò)一定的圖像處理即可得到樣品的表面樣貌圖。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/171946.htm

          4結(jié)語(yǔ)

          采用為核心構(gòu)成的的電子學(xué)系統(tǒng)部分通過(guò)與PC機(jī)的接口和顯示及圖像處理程序可以較清晰地顯示出金屬樣品表面的樣貌。這種具有性價(jià)比高、圖像顯示清晰等特點(diǎn),在精密測(cè)量和微驅(qū)動(dòng)及材料研究中都具有廣泛的前景。

          參考文獻(xiàn)
          [1]張立德.納米測(cè)量學(xué)的發(fā)展與展望[J].現(xiàn)代科學(xué)儀器,1998, (21)
          [2]Atherton P D. Nanometre Precision Mechanisms[J]Me asurement Control.1998, 31(3)
          [3]俞光昀.PIC系列開(kāi)發(fā)技術(shù)[M]北京:電子工業(yè)出版社,2000


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