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          開關(guān)電源的測試參數(shù)

          作者: 時(shí)間:2012-03-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出短路時(shí),則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出,以避免損壞。短路保護(hù)是驗(yàn)證當(dāng)輸出短路時(shí)(可能是配線連接錯(cuò)誤,或使用電源之組件或零組件故障短路所致),電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/177793.htm

          C. 過電流保護(hù)OCP

          當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出電流超過額定時(shí),則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出,以避免負(fù)載電流過大而損壞。又若電源供應(yīng)器之內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載電流時(shí),則電源供應(yīng)器也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出,以避免損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。過電流保護(hù)是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí),電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

          D. 測試過功保護(hù)

          稍具變化。等、、本項(xiàng)測試通常包含兩組或數(shù)組輸出功率之功率限制保護(hù),因此較上述單一輸出之保護(hù)測試過功率保護(hù)測試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時(shí),電源能否正確地反應(yīng)。超過額定時(shí),則電源應(yīng)該限制其輸出功率或關(guān)閉其輸出,以避免負(fù)載功率過大而損壞或發(fā)生危險(xiǎn)。又若電源內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載功率時(shí),則電源也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出,以避免損壞??蔀閱我惠敵龌蚨嘟M輸出當(dāng)電源的輸出功率

          三、安全(Safety)規(guī)格測試:

          •輸入電流、漏電電流等

          •耐壓絕緣: 電源輸入對(duì)地,電源輸出對(duì)地;電路板線路須有安全間距。

          •溫度抗燃:零組件需具備抗燃之安全規(guī)格,工作溫度須于安全規(guī)格內(nèi)。

          •機(jī)殼接地:需于0.1歐姆以下,以避免漏電觸電之危險(xiǎn)。

          •變壓輸出特性:開路、短路及最大伏安(VA)輸出

          四、異常測試:散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開關(guān)設(shè)定錯(cuò)誤

          五、電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測試:

          電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度,電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測試:

          每個(gè)輸出為空載、每個(gè)輸出為50%負(fù)載、每個(gè)輸出為100%負(fù)載。

          •傳導(dǎo)干擾/免疫:經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

          •幅射干擾/免疫:經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫

          六、 可靠性(Reliability)測試:

          老化壽命測試:高溫(約50-60度)及長時(shí)間(約8-24小時(shí))滿載測試。

          七、其它測試:

          •ESD:Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下,

          待測物之每個(gè)表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測試,電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會(huì)產(chǎn)生突波(Glitch)

          或中斷(Interrupt),直接ESD接觸時(shí)不應(yīng)造成過激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過穩(wěn)壓范圍的狀況、及過電壓保護(hù)(OVP)、過電流保護(hù)(OCP)等。另外,于ESD放電電壓在高達(dá)25KV下,應(yīng)不致造成組件故障(Failure)。

          •EFT:Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。

          •Surge:經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動(dòng)引起)。

          •VD/I:Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起,例如供電過載或空氣開關(guān)跳動(dòng)所引起)

          •Inrush: 開機(jī)輸入沖擊電流,對(duì)供電系統(tǒng)的影響。

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