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          IGBT安全工作區(qū)的物理概念和超安全工作區(qū)工作的失效機(jī)理

          作者: 時間:2011-12-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          4、 短路持續(xù)時間Tsc和柵壓Vg、集電極—發(fā)射極導(dǎo)通電壓Vce(on)越大Tsc的關(guān)系

          圖5表示Tsc ~Vce (on)的關(guān)系曲線,可見集電極—發(fā)射極導(dǎo)通電壓Vce(on)越大Tsc越長。圖6表示Vg和Isc、Tssc的關(guān)系,由圖6可見隨著Vg的增加Tsc下降而Isc上升。

          從目前生產(chǎn)中所用Si材料來講,有外延材料和高阻單晶材料兩種。用外延材料生產(chǎn)的在高壓擊穿時耗盡層穿通高阻移區(qū)而稱為PT—。用高阻單晶片生產(chǎn)的IGBT,由于高阻漂移區(qū)較厚,高壓擊穿時不被穿通而稱為NPT—IGBT。從溝道來分有平面柵和溝槽兩類。PT-IGBT又分為PT、SPT(軟穿通)和FS(場中止)IGBT。PT、SPT和FS-IGBT都有緩沖層,F(xiàn)S實(shí)際也是緩沖層,其結(jié)內(nèi)電場為梯形分布。PT、SPT和FSIGBT可以做成平面柵,也可以做成溝槽柵。溝槽柵具有更低的導(dǎo)通壓降Vce(on)。外延PT—IGBT的最高擊穿電壓為1200V。1700V以上的IGBT多用于高阻單晶材料,其結(jié)構(gòu)為NPT結(jié)構(gòu)。NPT—IGBT可做成平面柵,也可做成溝槽柵。加緩沖層的NPT結(jié)構(gòu)又稱FS—IGBT。
          從短路能力來講,外延片產(chǎn)生的PT、SPT或FS—IGBT,手冊中均沒給出SCSOA。不能滿足Isc/Ic=103Vg≥15V,在額定電壓下Tsc達(dá)不到10μs。此結(jié)構(gòu)的IGBT的Vce(on)為負(fù)溫度系數(shù),不適于并聯(lián)使用,適于開關(guān)電源電路。不適于有短路要求的馬達(dá)驅(qū)動電路和電壓型逆變電路。用高阻單晶Si生產(chǎn)的NPN—IGBT和溝槽柵場終止IGBT都給出了短路額定值SCSOA。在Tsc≤10μs,NPT—IGBT在額定電壓下Isc/Ic=10,溝槽柵場終止IGBT Tsc≤10μs時,Isc/Ic=4。Tsc除了和結(jié)構(gòu)有關(guān)外,尚和IGBT自身的垮導(dǎo)gm以及使用的Vg有關(guān)。在Vg一定的情況下,Gm越大Isc越高而Tsc越短。在不影響導(dǎo)通損耗的情況下,適當(dāng)降低Vg使其不要進(jìn)入深飽和區(qū),可降低Isc和增加Tsc。Tsc越長過流保護(hù)電路的設(shè)計(jì)越容易滿足。
          5、 幾個問題的討論
          5.1 如何評價IGBT的短路能力
          短路區(qū)實(shí)際是脈沖寬度為Tsc的單脈沖狀態(tài)。單脈沖下的耗散功率為
          Psc= t j –t c/Z th (T sc) (2)
          式中t j和t c分別為結(jié)溫和殼溫,Z th (T sc)為脈寬下Tsc的單脈沖瞬態(tài)熱阻。短路時:
          Psc = Vce·Isc 代入(2)式得
          Isc = t j –t c/Z th (T sc)·Vce (3)
          或 Z th (T sc) = t j –t c/Vce ·Isc (4)
          圖7是100A/1200V NPT—IGBT的瞬態(tài)熱阻曲線。
          當(dāng)已知Tsc時,可求出脈寬為Tsc時的Z thjc。這時,t j應(yīng)為150℃,t c=80℃,代入(3)式可求短路時間下的。由(4)式可求出Vce和Ise下的Z th (T sc)。由可用圖7查找脈動沖寬度Tsc。
          例如:Tsc=10μ,Vce=1200V,t j =150℃和t c =80℃時求可承受的短路Ise。由圖7可查得Tsc=10μs時Z th (T sc)=2.3×10-4℃/W,代入(3)得:Ise=253.6A。若Ise=1000A,Vce=1200V代入4>式求出Z th (T sc)=5.83×10-5℃/W,由圖7可知Tsc10μs。
          5.2Vce(on)越高越長的討論
          NTP-IGBT的Vce(on)大于PT-IGBT的Vce(on)。在額定電壓和電流相同情況下,NPT-IGBT的Vce(on)大的原因主要其高阻漂移區(qū)W n寬,在額定電壓下對應(yīng)的耗盡層寬度X m沒有完全穿透W n即W n>X m。尚存在一定厚度的高阻區(qū)所致。我們可以認(rèn)為IGBT的導(dǎo)通電阻Rce(on)= Vce(on)/Ic。在一定的Ic下Vce(on)越高Rce(on)越大。該電阻實(shí)際上是寄生PNP的管基區(qū)的縱向電阻,它對由PNP管發(fā)射區(qū)P+注入來的空穴電流起到均流作用,這樣流過強(qiáng)電場區(qū)的空穴電流較均勻,使得整個空間電荷區(qū)內(nèi)功率密度均勻,減緩熱點(diǎn)的產(chǎn)生,從而延長了短路時間Tsc。另外,當(dāng)出現(xiàn)過載或短路時劇增。在Rce(on)上的壓降增加。這時耗盡層X m中的電壓為Vce(on)—Ic ·Rce(on)。所以Rce(on)(Vce(on))越大,X m中的電場子越弱T1也就越低,Tsc就越長。
          5.3為什么PT—IGBT不能用于馬達(dá)驅(qū)動電路
          PT—IGBT手冊中均沒有給出SCSOA。也不希望用在有短路出現(xiàn)的電路。正如前述PT—IGBT是用高阻厚外延Si片產(chǎn)生的。高阻厚外延是重?fù)诫sP+單晶片上,通過外延技術(shù)生長N+和N-外延層。重?fù)诫sP+單晶片本身缺陷就較多,而外延生長過程中又要引進(jìn)大量的層錯、位錯外延缺陷。所以PT—IGBT在高壓(強(qiáng)電場)大電流下,強(qiáng)散射區(qū)較多,容易產(chǎn)生發(fā)熱點(diǎn),在較低能量狀態(tài)下則出現(xiàn)燒毀。這就是說短路時間Tsc和IGBT生產(chǎn)材料、工藝及結(jié)構(gòu)有重大關(guān)系。
          6 結(jié)語
          半導(dǎo)體器件是一個比較復(fù)雜的問題,現(xiàn)在正處于認(rèn)識的不斷深化階段,本文提出強(qiáng)電場,僅供分析中參考。

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