多輸入特征寄存器（Multiple Input Signature Reg—ister，MISR）是線性反饋移位寄存器的一種。如圖3所示，將待測電路的輸出部分加入線性反饋移位寄存器里，就成為一個(gè)多輸入特征寄存器。

　　多輸入特征寄存器最主要的特性是它的狀態(tài)。即其寄存器的值，不僅與現(xiàn)在的狀態(tài)有關(guān)，還與當(dāng)時(shí)的輸入值有關(guān)，可以表示為：Next state=MISR（Cur—renLstate，Input），而其中MISR（……）可以代表特征式不同的多輸入特征寄存器。

　　3 基于掃描的測試架構(gòu)的改進(jìn)

　　為了減少基于掃描的電路設(shè)計(jì)的測試時(shí)間，就必須深入了解它的電路設(shè)計(jì)，了解為何其會(huì)消耗那么多的測試時(shí)間，然后來改進(jìn)測試架構(gòu)。

　　3.1 用向量壓縮來減少測試時(shí)間

　　在測試過程中，我們有時(shí)可以發(fā)現(xiàn)，我們將要傳入掃描鏈的測試向量，已經(jīng)部分地包含在已經(jīng)傳入的測試向量序列中了，如圖4所示。V1向量的后半部分剛好等于V2向量的前半部分“1010”，如果在傳輸向量的時(shí)候，先傳輸V1再傳輸V2，那么我們就只需要將V2的后半段向量信息傳入掃描鏈就可以讓V2原本的信息在掃描鏈中完整地呈現(xiàn)，如圖中V3所示。很明顯，我們原來要輸入的測試向量的長度為16位，壓縮后只有12位，節(jié)省了V2的前半部分傳入掃描鏈的時(shí)間，從而減少了測試的時(shí)間，而且測試信息也沒有減少，不會(huì)影響故障覆蓋率。

　　3.2 用TEST—Per-Clock來縮短測試時(shí)間

　　我們對造成測試時(shí)間不夠理想的原因進(jìn)行分析：

　　傳統(tǒng)的基于掃描的測試電路是采取TEST—Per—Scan的方式來進(jìn)行測試的，也就是說要先將測試向量掃描到電路內(nèi)的由掃描寄存器所組成的掃描鏈內(nèi)。然后才可以完成一次測試；將測試向量掃描到待測電路這個(gè)步驟是一位一位地進(jìn)行的，所以如果一個(gè)電路需要長度較大的測試的向量時(shí)，那么在這整個(gè)測試過程里。將會(huì)花很多的時(shí)間在將測試向量輸入到掃描鏈的這個(gè)步驟上，從而增加了測試時(shí)間。這個(gè)結(jié)構(gòu)的測試向量的產(chǎn)生是利用LFSR產(chǎn)生出的偽隨機(jī)向量，并將其送入電路做測試。用LFSR產(chǎn)生測試向量會(huì)產(chǎn)生出許多沒有作用的測試向量，而這些沒有作用的測試向量又會(huì)產(chǎn)生大量多余的時(shí)間將其送入掃描鏈中，造成測試時(shí)間更嚴(yán)重的浪費(fèi)。如果采用TEST—Per—Clock的方式做測試，在掃描鏈里原本的測試向量，在用一個(gè)時(shí)鐘的時(shí)間移進(jìn)來一位之后，掃描鏈所含的值即是測試向量，對待測電路而言，其實(shí)都是一個(gè)新的測試向量，而且也具有偽隨機(jī)向量的特性，如果此測試向量是有效的，我們的測試時(shí)間就只用了一個(gè)時(shí)鐘的時(shí)間，而如果此測試向量無效，原本測試到?jīng)]有作用的測試向量時(shí)所需的付出的時(shí)間代價(jià)，由于用了新的測試向量填滿整個(gè)掃描鏈所需的時(shí)間，減少到只需一個(gè)時(shí)鐘移進(jìn)一位的時(shí)間。