具有帶隙結(jié)構(gòu)的遲滯比較器電路設(shè)計(jì)
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(3)整體電路的門限電壓和遲滯電壓
當(dāng)VFB從低電平逐漸增加時，Ic2>Ic1，于是C點(diǎn)電壓高于D點(diǎn)電壓，Q10導(dǎo)通，Q9截止。當(dāng)輸入電壓VFB達(dá)到帶隙比較器的翻轉(zhuǎn)門限時，Ic2=Ic1，此時遲滯比較器發(fā)生翻轉(zhuǎn)，Q10截止，Q9導(dǎo)通，設(shè)此時的VFB=VOH，則有：
當(dāng)VFB從超過VOH電壓逐漸減小時，遲滯比較器的工作點(diǎn)發(fā)生變化，只有當(dāng)遲滯比較器的電壓達(dá)到下翻轉(zhuǎn)門限時，遲滯比較器才翻轉(zhuǎn)，于是當(dāng)VFB減小到VFB=VOH時，Q10并不導(dǎo)通，VFB繼續(xù)減小，當(dāng)遲滯比較器的電壓達(dá)到下翻轉(zhuǎn)門限時，遲滯比較器才會發(fā)生翻轉(zhuǎn)，Q10導(dǎo)通，設(shè)此時的VFB=VOL，則有：
式中：△U是△V等效到IN端的輸入電壓；△V是遲滯比較器的遲滯電壓。于是整體電路的輸入端FB遲滯電壓為△U。它與Q9導(dǎo)通時流過的電流、R8大小有關(guān)。調(diào)節(jié)R9，R10的大小可以改變Q9導(dǎo)通時流過的電流，也就可以調(diào)節(jié)這個遲滯電壓。改變R8的大小可以直接調(diào)整遲滯電壓。
2 仿真驗(yàn)證
遲滯比較器的仿真波形如圖4～圖6所示，圖4為輸出電流IOUT與輸入信號FB的關(guān)系圖。從圖中可以看出，該電路能夠?qū)崿F(xiàn)8 mV的遲滯功能。圖5和圖6分別為遲滯比較器翻轉(zhuǎn)門限隨電源電壓和溫度的變化結(jié)果?？梢钥闯?，遲滯比較器的翻轉(zhuǎn)門限隨溫度和電壓變化均較小，驗(yàn)證了電路的穩(wěn)定性較高。本文引用地址：http://cafeforensic.com/article/179147.htm
3 結(jié)語
傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路和遲滯比較器電路占芯片面積較大，工作電壓和功耗都比較高。本文設(shè)計(jì)的具有帶隙結(jié)構(gòu)的遲滯比較器工作電壓低至1．2 V，大大節(jié)省了芯片面積，適用于微功耗DC—DC轉(zhuǎn)換器中，主要用于鎳鎘、鎳氫和堿性電池供電的便攜式產(chǎn)品。
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