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          NI參加2013年汽車測試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會

          作者: 時間:2013-10-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )于2013年9月10日至12日參加在上海光大會展中心舉辦的2013年及質(zhì)量監(jiān)控博覽會。在此次與質(zhì)量監(jiān)控博覽會上面,聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車領(lǐng)域多項前端應(yīng)用和解決方案。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/182092.htm

            公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車OEM與一級供應(yīng)商所采用。因為具有領(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺,用戶可以創(chuàng)建適合多種應(yīng)用的解決方案。目前,NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車載測試與記錄等幾大領(lǐng)域。在此次博覽會上NI帶來了下列幾項產(chǎn)品的展示:

            · 新能源高仿電機的μ秒級仿真
            · 汽車電子綜合功能測試系統(tǒng)
            · 高可靠性數(shù)據(jù)采集與分析管理
            · ECU 硬件在環(huán)仿真(HIL)與快速原型設(shè)計 (RCP)
            · 噪音、振動與舒適度(NVH)
            · 汽車總線網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控與驗證
            · 引擎控制設(shè)計與燃燒分析系統(tǒng)
            · 高效的汽車行業(yè)測控設(shè)計軟件工具鏈
            · NI 測量、采集與控制硬件平臺

            與此同時,NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創(chuàng)電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、電控單元自動化測試、車載數(shù)據(jù)采集、存在與管理和汽車NVH & 模態(tài)等等提供了完整的解決方案。展會現(xiàn)場多家合作伙伴也提供了他們對于整車廠商和一級供應(yīng)商提供的成熟解決方案。

            在展會期間,NI 行業(yè)市場部經(jīng)理付文武以“NI 開放平臺助力汽車行業(yè)測控應(yīng)用的發(fā)展”為題作了主題報告,介紹了 NI 及業(yè)內(nèi)合作伙伴在汽車電子自動測試、硬件在環(huán)與快速原型設(shè)計、新能源汽車及關(guān)鍵部件測試、車載數(shù)據(jù)采集等應(yīng)用領(lǐng)域的最新進展。

            相信通過此次博覽會,客戶一定可以就NI在汽車電子測試領(lǐng)域的理念和產(chǎn)品有一個較全面的了解。



          關(guān)鍵詞: NI 汽車測試

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