射頻波束賦形技術改善 TD-LTE 蜂窩小區(qū)邊緣性能
LTE 中的波束賦形
本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/184734.htmLTE 定義了多種可支持波束賦形的下行鏈路發(fā)射模式。特別受到關注的是發(fā)射模式 7、8 和 9。3GPP 第 8 版推出了支持單層波束賦形的 TM7。第 9 版增加了支持雙層波束賦形的 TM8,而第 10 版增加了 TM9,它可以支持多達 8 層發(fā)射。
圖 5 顯示了在 TD-LTE 蜂窩網(wǎng)絡中使用的典型 eNB 射頻天線配置。該網(wǎng)絡可支持 TM7、TM8 和 TM9 MIMO 波束賦形模式。
此例為一個 8 陣元物理天線,采用兩組天線單元配置。兩組天線單元彼此以 90? 正交交叉極化。天線組 0 包括天線單元 1 至 4,以 +45? 進行極化。天線組 1 包括天線單元 5 至 8,以 -45進行極化。
給定組內(nèi)的每個天線陣元都是空間分離的,間距大約為半個射頻載波波長。這樣可以使天線組中的天線陣元高度相關,對于相干波束賦形非常有利。由于兩個天線組彼此之間是交叉極化的,它們之間的相關度很低,所以有利于空間多路復用。因此,典型的 TD-LTE eNB 射頻天線物理配置可同時滿足 MIMO 空間多路復用和相干波束賦形這兩個合理但又矛盾的關聯(lián)要求。
典型的 TD-LTE eNB 波束賦形測試系統(tǒng)配置
波束賦形的主要測試挑戰(zhàn)是需要驗證和顯示物理射頻天線陣列的波束賦形信號性能,以便對以下指標進行驗證:
•eNB 射頻天線校準精度
•基帶編碼波束賦形加權算法正確性
•射頻天線處的 MIMO 信號和雙層 EVM
圖 6 中的測試系統(tǒng)使用 Agilent N7109A 多通道信號分析儀和支持 TD-LTE 測量的 89600 VSA 軟件。多通道信號分析儀可以支持 8 個相位相干射頻測量信道,并可與適合的射頻分離器和衰減器一起輕松集成到典型的 TD-LTE 基站測試裝置中。
系統(tǒng)校準是進行準確測量的關鍵。校正向?qū)С绦蚩梢砸龑в脩敉瓿上到y(tǒng)校準過程,提示用戶將信號分析儀通道 1 測量電纜連接到雙路校準分離器(圖 6 中用虛線標出的注入點處)的第一個輸出端口。所有交叉信道表征測量都將以通道 1 為參考。隨后,校正向?qū)С绦蛱崾居脩魧⑹O碌耐ǖ?2 至 8 測量電纜(位于虛線上)逐次連接到雙路校準分離器的第二個輸出端口,每次連接一條電纜。通過這種方式,校正向?qū)С绦蚰軌虮碚魉枰慕徊嫘诺佬U?,對信號分析儀的波束賦形測量進行補償,消除測量電纜、連接器、分離器和衰減器中固有的所有失配效應,從而使用戶可以在射頻天線輸出端看到天線賦形性能的直接、經(jīng)過校正的測量結果。不過,對射頻電纜和連接器給測試系統(tǒng)帶來的幅度和相位變化進行校準固然重要,但也不能過分夸大。
如圖 7 所示,首先使用 VSA 軟件和多通道信號分析儀顯示從全部 8 個天線單元進行的時間同步射頻信號捕獲。用戶可以快速識別基礎的射頻功率或定時性能差錯,而后再執(zhí)行更高級的解調(diào)測量。
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