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          PWM變頻驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)差模干擾分布研究

          作者: 時(shí)間:2012-05-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          為了驗(yàn)證直流儲(chǔ)能電容對(duì)干擾的抑制作用和效果,根據(jù)工況,制作了分壓網(wǎng)絡(luò)(R=1 kΩ,C=2 nF),并結(jié)合單相干擾分離網(wǎng)絡(luò),對(duì)直流電容兩側(cè)的干擾進(jìn)行了測(cè)試,實(shí)驗(yàn)布置如圖4所示,其中1,2為直流電容前端接線點(diǎn),3,4為后端接線點(diǎn)。

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          圖5示出實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。

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          其中iDM5,iDM6分別為逆變橋輸入端和整流橋輸出端的電流。可知,在1~4 MHz頻段上,直流電容前端的差模干擾明顯比后端小,f=3 MHz處,iDM5為63.5 dBμA,iDM6為52.4 dBμA,兩者差值達(dá)到了-11.1 dBμA。這說(shuō)明直流電容對(duì)差模干擾確實(shí)有一定的抑制作用。根據(jù)以上實(shí)驗(yàn)結(jié)果,在中的差模干擾分布可總結(jié)如下:①電網(wǎng)側(cè)差模干擾:低頻段由整流橋主導(dǎo),中間頻段由整流橋和逆變橋共同主導(dǎo),高頻段由逆變橋主導(dǎo);②負(fù)載側(cè)差模干擾主要由逆變橋產(chǎn)生。

          4 模型研究

          通過(guò)上述實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象對(duì)比,得出了差模干擾分布的結(jié)論。下面根據(jù)實(shí)驗(yàn),對(duì)差模干擾分布主要影響因素進(jìn)行了簡(jiǎn)要研究。圖6為差模干擾基本模型,其中u1,u2為整流橋和逆變橋的差模干擾源;Z1為電網(wǎng)側(cè)差模阻抗,包含輸入線上的高頻電感和電阻以及LISN差模阻抗;Z2為負(fù)載側(cè)的差模等效阻抗,包含輸出線上的高頻電感和電阻,以及電機(jī)繞組的差模等效阻抗;Cd為整流橋和逆變橋中間的直流儲(chǔ)能電解電容。

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          在EMI分析中,可只考慮其干擾最大的情況,故此處分析不考慮相位信息。由電路原理可得:

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          式中:iZ1,iZ2為流過(guò)電網(wǎng)、負(fù)載側(cè)的差模電流;ZCd為Cd阻抗。

          由系統(tǒng)各項(xiàng)參數(shù)和式(1)可得系統(tǒng)差模干擾及其分布情況。但在實(shí)際系統(tǒng)中,ZCd已經(jīng)很小了,很難改變。故只有從Z1,Z2入手,來(lái)抑制差模干擾。目前對(duì)差模干擾的抑制,一般是加差模電容或差模電感。下面對(duì)比分析在電網(wǎng)側(cè)、負(fù)載側(cè)加差模電感和差模電容的效果。

          假設(shè)加在LISN側(cè)串聯(lián)電感使得Z1增大為Z1+20 dB,并聯(lián)電容使得Z1減小為Z1-20 dB。圖7為改變Z1后,對(duì)整流橋和逆變橋在電網(wǎng)側(cè)差模干擾的影響(Z1不變時(shí)電網(wǎng)側(cè)差模干擾為0dB)。

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