USB簡介

USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機、掃描儀、數(shù)碼相機、MP3、U盤等外圍設(shè)備連接到計算機，它使計算機與周邊設(shè)備的接口標(biāo)準(zhǔn)化，從2000年以后，支持USB2.0版本的計算機和設(shè)備已被廣泛使用，USB2.0包括了三種速率：高速480Mbps、全速12Mbps、低速1.5Mbps。目前除了鍵盤和鼠標(biāo)為低速設(shè)備外，大多數(shù)設(shè)備都是速率達480M的高速設(shè)備。

盡管USB2.0的速度已經(jīng)相當(dāng)快，對于目前高清視頻和動輒GByte的數(shù)據(jù)傳輸還是有些慢，在2008年11月，HP、Intel、微軟、NEC、ST-NXP、TI聯(lián)合起來正式發(fā)布了USB3.0的V1.0規(guī)范。USB3.0又稱為SuperSpeedUSB，比特率高達5Gbps，相比目前USB2.0的480Mbps的速率，提高了10倍以上，引用Intel專家JeffRavencraft的話：“以25GB的文件傳輸為例，USB2.0需要13.9分鐘，而3.0只需70秒左右。”25GB，正好是單面單層藍光光盤的容量。USB3.0預(yù)計將在2010年逐漸在計算機和消費電子產(chǎn)品上使用。

力科于2009年4月發(fā)布了USB3.0的物理層測試解決方案，能提供端到端的互操作測試和兼容性測試，包括了Transmitter測試、Receiver測試、TDR測試。此外，力科還提供了業(yè)界領(lǐng)先的USB3.0協(xié)議層測試方案。

USB3.0的Transmitter測試

對于USB3.0的Transmitter測試，為了測量到5次諧波，需要帶寬12.5GHz以上的示波器，力科的SDA813Zi帶寬13GHz，采樣率40GSamples/s(最高可達80GS/s)，配合USB3.0一致性測試軟件QualiPHY、眼圖醫(yī)生軟件和測試夾具，可以快速完成USB3.0的發(fā)送端Compliance測試和調(diào)試分析。

QualiPHY軟件可以使USB3.0發(fā)送端的各項測試自動化，并生成多種格式的測試報告。在QualiPHY的USB3.0測試軟件中，包括差分電壓擺幅測試、去加重比值測試(De-emphasisratiotest)、眼圖和抖動測試、擴頻時鐘測試(SpreadSpectrumTest)，圖1所示為報告中的整體測試項目概覽，列出了測試項目對應(yīng)的Spec的條目，測試項目的名稱，當(dāng)前測試結(jié)果，測試判定條件等。

在發(fā)送端測試中，通常需要消除USB3.0的測試夾具引入的損耗和反射。如下圖1所示為USB3.0發(fā)送端測試示意圖：夾具插到待測試芯片的USB口，夾具上通過PCB的傳輸線USB口引出到4個SMA連接頭(USB3的TX和RX各兩個)，然后用SMA接口的同軸電纜連接到示波器。由于夾具上的連接器、過孔、傳輸線等會使信號發(fā)生衰減、色散或者反射，導(dǎo)致示波器測量到的信號有所惡化。力科的眼圖醫(yī)生軟件包括了夾具去嵌功能，只需輸入夾具的S參數(shù)模型文件(可由VNA或者TDR測量得到)，即可計算出沒有夾具時測量到的信號的波形與眼圖。

如圖2左下部分所示為示波器測量的USB3.0信號去嵌后測量到的眼圖，圖1右下部分是示波器直接測量到的眼圖(即未作夾具去嵌的眼圖)，相比后者，前者的上升下降沿更陡峭，眼輪廓清晰，眼張得更開。從這個比較圖中可以看到力科的去嵌技術(shù)可以消除測試夾具的負面作用。使用夾具去嵌功能后，可以更加準(zhǔn)確的測量電壓擺幅和去加重的比值。

圖1:力科一致性測試軟件QualiPHY產(chǎn)生的報告一部分

差分電壓擺幅測試

差分電壓擺幅測試的目的是驗證信號峰峰值是否在0.8-1.2V之間。測試中DeviceUnderTest(簡稱DUT)需要發(fā)送出測試碼型CP8(CP是CompliancePattern的簡寫，在USB3的物理層測試中，各項測試需要不同的測試碼型，USB3.0規(guī)范中定義了各種測試碼流，USB3.0的芯片廠商提供了軟件接口來配置其發(fā)送數(shù)據(jù)的碼型)，CP8由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且消除了去加重，其波形相當(dāng)于50-250分頻的時鐘。在這些測試中，把USB3.0測試夾具去嵌后測量結(jié)果更精確。

去加重比值測試

為了把5Gbps速率的數(shù)據(jù)傳送較遠的距離，USB3.0的發(fā)送端使用了去加重技術(shù)，這項測試可以測量DUT的去加重程度是否滿足規(guī)范要求(要求在-3dB到-4dB之間)。測試時DUT發(fā)送出CP7碼流，CP7碼型由50-250個連續(xù)的1和50-250個連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且是添加了去加重的信號波形。圖3為某USB3.0芯片的去加重測量結(jié)果，該芯片采用了-3.47dB的去加重。

圖3：某USB3.0芯片的去加重比值測量

眼圖與抖動測試

在USB3.0的TX的眼圖和抖動測試中，測量的是待測試信號經(jīng)過參考測試信道后TP1點的眼圖和抖動。如下圖4中的Referencetestchannel即為參考測試信道，在規(guī)范中定義了longchannel、shortchannel和3米電纜三種參考測試信道。如果使用longchannel或者較長電纜，信號到達接收端時衰減比較大，眼圖已經(jīng)閉合，USB3.0芯片接收端使用了CTLE均衡器對信號進行均衡后(CTLE均衡器介紹見本文最后一部分)，信號眼圖的質(zhì)量將大大改善，所以要求測試儀器分析出CTLE均衡器處理后信號的眼圖和抖動。

圖4：USB3.0的TX的眼圖測試點(來自USB3.0規(guī)范)

如下圖5所示，左邊的眼圖是靠近TX近端測量到的眼圖;中間的眼圖是通過兼容性信道(參考測試信道)后測量的眼圖，可見眼圖的張開程度較小，抖動較大;右邊的眼圖是仿真CTLE均衡后的眼圖，可見眼高和抖動都得到改善。

圖5：USB3.0的Transmitter測試在近端、遠端和均衡后的眼圖對比

眼圖和抖動測試中信號源需要發(fā)出特別的測試碼型，對于眼圖測試，需要CP0碼型(擾碼的D0.0)，對于抖動測試，需要CP0碼流或者CP1碼流(D10.2)，前者用于確定性抖動Dj的測量，后者用于隨機抖動Rj的測量。眼高必須從連續(xù)的1百萬個比特疊加的眼圖中測量，力科SDA813Zi示波器完成1百萬比特的眼圖僅需2秒，速度是同類示波器的10-50倍以上。抖動為10e-12誤碼率時抖動的峰峰值(即總體抖動Tj)。

擴頻時鐘測試(SpreadSpectrumClockTest)

擴頻時鐘經(jīng)常使用在計算機主板的電路上，用于減小電磁輻射。在USB3.0中，需要測試擴頻時鐘的調(diào)制頻率和頻偏，測試時DUT發(fā)送出CP1碼型的數(shù)據(jù)流(CP1碼型為D10.2，即0101連續(xù)跳變的碼型，相當(dāng)于頻率2.5GHz的時鐘)，規(guī)范要求擴頻時鐘的調(diào)制頻率為30-33KHz之間，頻偏在0ppm到-5000ppm之間。如下圖6為力科示波器測量擴頻時鐘的結(jié)果。

USB3.0使用的CTLE均衡器

ContinuousTimeLinearEqualization均衡器(簡稱CTLE)即連續(xù)時間線性均衡器，是一種常見的線性均衡器，在USB3.0芯片的接收端中使用了CTLE均衡器。USB3.0的速度高達5Gbps，當(dāng)USB電纜較長時，RX端眼圖很可能已閉合，這時分析眼圖與抖動是沒有意義的。使用力科眼圖醫(yī)生的CTLE均衡仿真后，對均衡后信號測量眼圖與抖動指標(biāo)，可以精確的驗證其性能。結(jié)合力科的信道仿真功能，直接測量USB3.0的TX，可以迅速評估不同的信道是否需要均衡或者均衡后信號的性能指標(biāo)如何。

USB的官方組織規(guī)定了USB3.0使用的CTLE均衡器的參數(shù)，如下圖7左上部分為均衡器的頻響，右上方的表格是均衡器的參數(shù)，下方是力科示波器中集成了USB3.0的均衡器參數(shù)，可方便調(diào)用。

結(jié)語：本文簡要介紹了力科測試USB3.0的發(fā)送端的解決方案。力科的眼圖醫(yī)生軟件可以快速驗證經(jīng)過USB3.0電纜后遠端的信號質(zhì)量，以及CTLE均衡器均衡后的眼圖和抖動，幫助USB3.0開發(fā)人員快速測試和驗證USB3.0芯片和電路設(shè)計。力科第四代示波器SDA813Zi強大的眼圖和抖動分析能力，可以快速的調(diào)試和分析USB3.0設(shè)計中的碰到的各種問題。

參考文獻

1,UniversalSerialBus3.0Specification,Revision1.0