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          如何簡化FPGA測試和調(diào)試?

          作者: 時間:2013-06-18 來源:網(wǎng)絡 收藏

          的設計速度、尺寸和復雜度明顯增加,使得整個設計流程中的驗證和成為當前系統(tǒng)的關鍵部分。獲得內(nèi)部信號有限、FPGA封裝和印刷電路板電氣噪聲,這一切使得設計和檢驗變成設計周期中最困難的流程。此外,幾乎當前所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線,除了提供高速并行總線接口外,正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展。FPGA也不例外,每一條物理鏈路的速度從600Mbps到高達10Gbps,高速IO的和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPGA內(nèi)部邏輯設計的設計人員面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)使設計人員會把絕大部分設計周期時間放在和檢驗設計上。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/189579.htm

          設計階段即應考慮問題

          在FPGA系統(tǒng)設計完成前,有兩個不同的階段:設計階段、調(diào)試和檢驗階段。設計階段的主要任務是輸入、仿真和實現(xiàn);調(diào)試和檢驗階段的主要任務是檢驗設計,校正發(fā)現(xiàn)的任何錯誤。

          在設計階段不僅要設計,而且要使用仿真工具開始調(diào)試。實踐證明,正確使用仿真技術為找到和校正設計錯誤提供了一條有效的途徑。但是,不應依賴仿真作為調(diào)試FPGA設計的唯一工具,有許多問題僅僅通過仿真是無能為力的。

          此外,還需要提前考慮調(diào)試和檢驗階段,規(guī)劃怎樣在線快速調(diào)試FPGA,這可以定義整體調(diào)試方法,幫助識別要求的任何測量工具,確定選擇的調(diào)試方法對電路板設計帶來的影響。針對可能選用的FPGA存在的高速總線,除了考慮邏輯時序的測試和驗證外,應該充分考慮后面可能面臨的信號完整性測試和分析難題。

          在調(diào)試階段,必需找到仿真沒有找到的棘手問題。怎樣以省時省力的方式完成這一工作是一個挑戰(zhàn)。

          嵌入式邏輯分析儀只能進行狀態(tài)分析

          在設計階段需要作出的關鍵選擇是使用哪種FPGA調(diào)試方法。在理想情況下,希望有一種方法可以移植到所有FPGA設計中,能夠洞察FPGA內(nèi)部運行和系統(tǒng)運行過程,為確定和分析棘手的問題提供相應的處理能力。基本在線FPGA調(diào)試方法有兩種:使用嵌入式邏輯分析儀以及使用外部邏輯分析儀。選擇使用哪種方法取決于項目的調(diào)試需求。

          主要FPGA廠商針對器件的在線調(diào)試都提供了嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核。這些知識產(chǎn)權模塊插入FPGA設計中,同時提供觸發(fā)功能和存儲功能。它們使用FPGA邏輯資源實現(xiàn)觸發(fā)電路,使用FPGA存儲模塊實現(xiàn)存儲功能。它們使用JTAG配置內(nèi)核操作,并用來把捕獲的數(shù)據(jù)傳送到PC上進行查看。由于嵌入式邏輯分析儀使用內(nèi)部FPGA資源,因此其通常用于大型FPGA,這些大型FPGA可以更好地消化插入內(nèi)核帶來的開銷。一般來說,用戶希望內(nèi)核占用的FPGA邏輯資源不超過可用資源的5%。與任何調(diào)試方法一樣,還要知道這種方法存在的部分矛盾。

          在針腳與內(nèi)部資源上,嵌入邏輯分析儀內(nèi)核不使用額外的測試針腳,因為它通過現(xiàn)有的JTAG針腳訪問內(nèi)核。這意昧著即使設計受到FPGA針腳限制,您也可以使用這種方法。矛盾在于,它使用的內(nèi)部FPGA邏輯資源和存儲模塊可以用來實現(xiàn)設計。此外,由于使用片內(nèi)內(nèi)存存儲捕獲的數(shù)據(jù),因此內(nèi)存深度一般相對較淺。

          嵌入式邏輯分析儀核心的探測非常簡單。它使用現(xiàn)有的JTAG針腳,因此不必擔心怎樣把外部邏輯分析儀連接到系統(tǒng)上。矛盾在于,盡管嵌入式邏輯分析儀可以查看FPGA操作,但沒有一種方式把這些信息與電路板級或系統(tǒng)級信息時間關聯(lián)起來。而把FPGA內(nèi)部的信號與FPGA外部的信號關聯(lián)起來對解決最棘手的調(diào)試挑戰(zhàn)至關重要。在分析方法上,嵌入式邏輯分析儀只能進行狀態(tài)分析。

          從成本與靈活性上分析,大多數(shù)FPGA廠商提供了嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核,而其價格要低于全功能外部邏輯分析儀。雖然用戶希望更多的功能,但嵌入式邏輯分析儀內(nèi)核的功能無論通用性、分析方式、觸發(fā)能力,還是存儲和分析能力都弱于全功能外部邏輯分析儀,而用戶通常需要這些功能,來捕獲和分析棘手的調(diào)試挑戰(zhàn)。例如,嵌入式邏輯分析儀只能在狀態(tài)模式下操作,它們捕獲與FPGA設計中已有的指定時鐘同步的數(shù)據(jù),因此不能提供精確的信號定時關系。


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          關鍵詞: FPGA 測試 調(diào)試

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