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          網絡分析儀的原理詳解

          作者: 時間:2012-12-11 來源:網絡 收藏

          中心議題:

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/192916.htm

          網絡分析的基本

          網絡分析理論

          測量方法

          結構

          現(xiàn)代已廣泛在研發(fā),生產中大量使用,網絡分析儀被廣泛地應用于分析各種不同部件 ,材料,電路,設備和系統(tǒng)。無論是在研發(fā)階段為了優(yōu)化模擬電路的設計,還是為了調試檢測電子元器件,矢量網絡分析儀都成為一種不可缺少的測量儀器。

          網絡分析儀是一種功能強大的儀器,正確使用時,可以達到極高的精度。它的應用也十分廣泛,在很多行業(yè)都不可或缺,尤其在測量無線射頻(RF)元件和設備的線性特性方面非常有用?,F(xiàn)代網絡分析儀還可以應用于更具體的場合,例如,信號完整性和材料的測量。隨著業(yè)界第一款PXI網絡分析儀—NI PXIe - 5630的推出,你完全可以擺脫傳統(tǒng)網絡分析儀的高成本和大占地面積的束縛,輕松地將網絡分析儀應用于設計驗證和產線測試。

          網絡分析的基本 網絡分析儀的發(fā)展

          你可以使用圖1所示的NI PXIe-5630矢量網絡分析儀測量設備的幅度,相位和阻抗。由于網絡分析儀是一種封閉的激勵-響應系統(tǒng),你可以在測量RF特性時實現(xiàn)絕佳的精度。當然,充分理解網絡分析儀的基本,對于你最大限度的受益于網絡分析儀非常重要。

          網絡分析的基本原理

          圖1. NI PXle-5630 矢量網絡分析儀

          圖1. NI PXle-5630 矢量網絡分析儀

          在過去的十年中,矢量網絡分析儀由于其較低的成本和高效的制造技術,流行度超過了標量網絡分析儀。雖然網絡分析理論已經存在了數十年,但是直到 20世紀80年代早期第一臺現(xiàn)代獨立臺式分析儀才誕生。在此之前,網絡分析儀身形龐大復雜,由眾多儀器和外部器件組合而成,且功能受限。NI PXIe-5630的推出標志著網絡分析儀發(fā)展的又一個里程碑,它將矢量網絡分析功能成功地賦予了靈活,軟件定義的PXI模塊化儀器平臺。

          通常我們需要大量的測量實踐,才能實現(xiàn)精確的幅值和相位參數測量,避免重大錯誤。由于射頻儀器測量的不確定性,小的錯誤很可能會被忽略不計。而網絡分析儀作為一種精密的儀器能夠測量出極小的錯誤。

          網絡分析理論

          網絡是一個被高頻率使用的術語,有很多種現(xiàn)代的定義。就網絡分析而言,網絡指一組內部相互關聯(lián)的電子元器件。網絡分析儀的功能之一就是量化兩個射頻元件間的阻抗不匹配,最大限度地提高功率效率和信號的完整性。每當射頻信號由一個元件進入另一個時,總會有一部分信號被反射,而另一部分被傳輸,類似于圖2所示。

          這就好比光源發(fā)出的光射向某種光學器件,例如透鏡。其中,透鏡就類似于一個電子網絡。根據透鏡的屬性,一部分光將反射回光源,而另一部分光被傳輸過去。根據能量守恒定律,被反射的信號和傳輸信號的能量總和等于原信號或入射信號的能量。在這個例子中,由于熱量產生的損耗通常是微不足道的,所以忽略不計。

          圖2. 利用光來類比網絡分析的一個基本原理

          圖2. 利用光來類比網絡分析的一個基本原理

          我們可以定義參數反射系數(G),它是一個包含幅值和相位的矢量,代表被反射的光占總(入射)光的比例。同樣,定義傳輸系數(T)代表傳輸的光占入射光的矢量比。圖3示意了這兩個參數。

          圖3. 傳輸系數(T)和反射系數(G)

          圖3. 傳輸系數(T)和反射系數(G)

          通過反射系數和傳輸系數,你可以更深入地了解被測器件(DUT)的性能?;仡櫣獾念惐?,如果DUT是一面鏡子,你會希望得到高反射系數。如果 DUT是一個鏡頭,你會希望得到高傳輸系數。而太陽鏡可能同時具有反射和透射特性。

          電子網絡的測量方式與測量光器件的方式類似。網絡分析儀產生一個正弦信號,通常是一個掃頻信號。DUT響應時,會傳輸并且反射入射信號。傳輸和反射信號的強度通常隨著入射信號的頻率發(fā)生變化。

          DUT對于入射信號的響應是DUT性能以及系統(tǒng)特性阻抗不連續(xù)性的表征。例如,帶通濾波器的帶外具有很高的反射系數,帶內則具有較高的傳輸系數。如果DUT 略微偏離特性阻抗則會造成阻抗失配,產生額外的非期望響應信號。我們的目標是建立一個精確的測量方法,測量DUT響應,同時最大限度的減少或消除不確定性。

          網絡分析儀測量方法

          反射系數(G)和傳輸系數(T)分別對應入射信號中反射信號和傳輸信號所占的比例。圖3示意了這兩個向量。現(xiàn)代網絡分析基于散射參數或S-參數擴充了這種思想。

          S-參數是一種復雜的向量,它們代表了兩個射頻信號的比值。S-參數包含幅值和相位,在笛卡爾形式下表現(xiàn)為實和虛。S-參數用S坐標系表示,X 代表DUT被測量的輸出端,Y代表入射RF信號激勵的DUT輸入端。圖4示意了一個簡單的雙端口器件,它可以表征為射頻濾波器,衰減器或放大器。

          圖4. 簡單的雙端口設備的 S-參數表示

          圖4. 簡單的雙端口設備的 S-參數表示

          S11定義為端口1反射的能量占端口1入射信號的比例,S21定義為傳輸到DUT端口2 的能量占端口1入射信號的比例。參數S11和S21為前向S-參數,這是因為入射信號來自端口1的射頻源。對于從端口2入射信號,S22為端口2反射的能量占端口2入射信號的比例,S12為傳輸到DUT端口1的能量占端口2入射信號的比例。它們都是反向S-參數。

          你可以基于多端口或者N端口S-參數擴展這個概念。例如,射頻環(huán)形器,功率分配器,耦合器都是三端口器件。你可以采用類似于雙端口的分析方法測量和計算S-參數,如S13,S32,S33。S11,S22, S33等下標數字一致的S-參數表征反射信號,而S12,S32,S21和S13等下標數字不一致的S-參數表征傳輸信號。此外,S-參數的總個數等于器件端口數的平方,這樣才能完整的描述一個設備的RF特性。


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