圖9 使用QPHY-DDR2對(duì)DDR2讀/寫信號(hào)繪制眼圖

DDR2測(cè)試示波器及探頭選型

關(guān)于示波器選擇方面，最低配置情況下可選擇帶寬2.5GHz的示波器進(jìn)行測(cè)試，如選擇力科SDA725Zi示波器結(jié)合QPHY-DDR2一致性測(cè)試軟件包對(duì)DDR2總線進(jìn)行測(cè)試。然而，對(duì)在頻率較高的1066M DDR2測(cè)試時(shí)，由于其時(shí)鐘頻率為533MHz，對(duì)應(yīng)的五次諧波、頻率為2.67GHz，已經(jīng)高于2.5GHz，為了捕獲到其5次甚至更高次諧波成分，需要選擇更高帶寬的示波器。所以，對(duì)DDR2總線的測(cè)量，我們推薦使用帶寬3.5G及以上的示波器進(jìn)行測(cè)量，如帶寬3.5GHz的力科SDA735Zi/740Zi/760Zi或帶寬覆蓋從4GHz到業(yè)界最高的30GHz的力科8Zi系列示波器。

對(duì)于探頭系統(tǒng)，在進(jìn)行DDR2時(shí)鐘測(cè)試時(shí)，僅需要一根足夠帶寬的差分探頭即可。在進(jìn)行電氣性能及時(shí)序測(cè)試時(shí)，使用兩根差分探頭分別測(cè)量差分時(shí)鐘及DQS/DQS#信號(hào)，一根單端探頭測(cè)量相應(yīng)的DQ信號(hào)即可完成大部分的指標(biāo)測(cè)量。 對(duì)于DDR533的DQ信號(hào)測(cè)試，建議用焊接式差分探頭。 在進(jìn)行某些差分信號(hào)交叉點(diǎn)電壓等指標(biāo)測(cè)量時(shí)需要使用兩根探頭分別測(cè)量該差分信號(hào)的正端及負(fù)端信號(hào)。對(duì)具體的探頭型號(hào)，推薦使用帶寬3.5GH或6GHz的力科WaveLink D320/D310或D610/D620系列可焊接式差分探頭。

結(jié)語：本文簡要介紹了DDR2總線，DDR2相關(guān)測(cè)試以及力科的DDR2全方位測(cè)試解決方案。力科QPHY-DDR2從信號(hào)連接，DDR2總線全面測(cè)試到測(cè)試報(bào)告生成各方面進(jìn)行了完美的集成，為復(fù)雜的DDR2測(cè)試提供了最佳的測(cè)試環(huán)境，從而保證了DDR2測(cè)試的精確性與高效率。

參考文獻(xiàn)

1． DDR2 SDRAM SPECIFICATION JESD79-2E，JEDEC, April 2008

2. QPHY-DDR2 datasheet, LeCroy Corp. July 2009