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          PIM分析儀測試連接器互調的新方法介紹

          作者: 時間:2012-03-12 來源:網(wǎng)絡 收藏

          DUT非線性產(chǎn)生的IM形成兩個電壓波:為反向傳播IM電壓波,它由DUT的反向端面發(fā)出;為前向傳播IM電壓波,產(chǎn)生于DUT的前向端面。如圖5所示。電長度lback,lDUT,lfront決定的值。lfront為DUT反向斷面到DUT內部第一個非線性點的距離,lDUT為DUT中第一個非線性點到最后一個非線性點之間的距離,lback為最后一個非線性點到DUT前向端面之間的距離。源Vfront和Vback表示出現(xiàn)在DUT端面的測量系統(tǒng)的殘余IM以及負載的電長度lload和負載阻抗Zload。不同的電長度lback,lDUT,lfront也對應著不同的反射系數(shù),為了便于分析,引入圖6的模型。源反射系數(shù),負載反射系數(shù)包含的信息不但表明了被測器件的各種電長度,還表明了在不同負載下的匹配狀態(tài)。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/194330.htm

          通過上面的討論,所有IM源的電壓在相位上疊加,在點源上形成的V(i(f))可以用N級泰勒級數(shù)近似表示:

            那么產(chǎn)生的功率的表達式為:



          關鍵詞: PIM 分析儀 測試 方法

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