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          安全計(jì)算機(jī)板級(jí)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2011-04-20 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          實(shí)現(xiàn)主要是針對(duì)FTSM進(jìn)行。邏輯板、輸入輸出板和通信板電路復(fù)雜,宜采用計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測試。而安全電源板、3U組件、繼電器組件、AC 220 V-DC 12 V電源組件相對(duì)簡單,且需要測試電壓、電流、指示燈是否點(diǎn)亮、亮度是否一致等指標(biāo),宜采用人工參與的計(jì)算機(jī)輔助半自動(dòng)測試。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/194987.htm

            1 設(shè)計(jì)

            1.1 總體結(jié)構(gòu)

            可能用于研發(fā)、生產(chǎn)、運(yùn)營維護(hù)等過程,板級(jí)測試(以下簡稱該系統(tǒng))需要解決兩個(gè)主要問題:

            (1)只有測試時(shí)才向待測電路板或組件提供受控電源,插拔待測電路板或組件之前能夠停止向待測電路板供電,以準(zhǔn)確對(duì)上電時(shí)刻的待測電路板或組件進(jìn)行測試,并消除帶電插拔可能對(duì)測試結(jié)果造成的影響。

            (2)只有測試時(shí)才向待測電路板或組件提供測試激勵(lì)信號(hào),插拔待測電路板或組件時(shí)不向待測電路板輸出測試激勵(lì)信號(hào);同時(shí)也要確保測試輸出信號(hào)的采集不會(huì)對(duì)待測電路板或組件造成不良影響。

            該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖1所示。其中測試上位機(jī)采用配置主流操作系統(tǒng)的普通PC機(jī),內(nèi)置3塊COTS數(shù)據(jù)采集卡(Data Acquisition Card,DAC),運(yùn)行基于高級(jí)語言開發(fā)的測試軟件。

            

            測試控制器與DAC連接,主要完成測試待測電路板所需的測試激勵(lì)信號(hào)和對(duì)測試輸出信號(hào)進(jìn)行電平變換,同時(shí)提供待測電路板和電平變換電路所需的各種受控電源,測試控制器使用AC 220 V電源。由于測試邏輯板、輸入/輸出板需要的輸入激勵(lì)信號(hào)和測試輸出信號(hào)較多,因此設(shè)置測試控制器1用于對(duì)邏輯板、輸入/輸出板的測試,測試控制器1需要同時(shí)與2塊DAC連接。另外,設(shè)置測試控制器2用于測試其他的電路板和組件,測試控制器2需要與另外1塊DAC連接。測試控制器和有源測試插箱背板確保解決前述的兩個(gè)問題。

            安全計(jì)算機(jī)FTSM的安全電源板、輸入/輸出板、通信板及邏輯板安裝于標(biāo)準(zhǔn)的歐式插箱中,為了測試方便,在安全計(jì)算機(jī)板級(jí)測試系統(tǒng)設(shè)置了同樣的測試插箱。但與安全計(jì)算機(jī)FTSM插箱不同,測試插箱中不同種類的電路板具備不同的插箱背板。其中,安全電源板、輸入/輸出板、邏輯板的測試插箱背板為只包括連接電路板、電源、測試激勵(lì)信號(hào)和測試輸出信號(hào)接插件的無源測試插箱背板,通信板的測試插箱背板為有源測試插箱背板,除接插件外還包括總線測試單元和其他邏輯電路。3U組件、繼電器組件、AC 220 V-DC 12 V電源組件則直接與測試控制器2連接。

            需要指出,對(duì)通信板進(jìn)行測試時(shí),測試控制器2只控制其供電電源,通信板運(yùn)行測試程序,與其有源測試插箱背板配合完成測試,測試結(jié)果通過以太網(wǎng)發(fā)送給上位機(jī)測試軟件。對(duì)邏輯板進(jìn)行測試時(shí),其FPGA為測試專用版本,通過對(duì)特定的測試激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生特定的測試輸出來完成對(duì)邏輯板的板級(jí)測試。

            1.2 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)

            測試控制器1的原理框圖如2所示,對(duì)應(yīng)于輸入/輸出板測試,主要包括電源控制、按鈕輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換、動(dòng)態(tài)信號(hào)轉(zhuǎn)換、輸出通道激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)換、輸入通道測試反饋、輸出通道測試反饋等模塊。對(duì)應(yīng)于邏輯板測試,主要包括電源控制、測試激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)換、測試反饋信號(hào)轉(zhuǎn)換和雙向數(shù)據(jù)信號(hào)防護(hù)等模塊。

            

            雙向數(shù)據(jù)信號(hào)防護(hù)模塊的原理框圖如圖3所示。邏輯板為ISA總線從設(shè)備,ISA總線的8位數(shù)據(jù)總線為雙向總線,其讀、寫信號(hào)不能同時(shí)為低。而對(duì)于數(shù)據(jù)采集卡而言,其輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)只能分開設(shè)置,因此設(shè)置該模塊完成讀、寫信號(hào)同時(shí)為低保護(hù)邏輯。當(dāng)數(shù)據(jù)采集卡輸出的讀、寫信號(hào)同時(shí)為低時(shí),該單元輸出的ISA總線讀信號(hào)強(qiáng)制為高,只要讀、寫信號(hào)不同時(shí)為低,該單元輸出的ISA總線讀信號(hào)為直通邏輯。同時(shí)通過設(shè)置輸入緩沖和輸出緩沖單元,8位測試激勵(lì)數(shù)據(jù)只有在該單元輸出的ISA總線讀信號(hào)為低時(shí)由輸入緩沖單元輸出到ISA總線上,否則輸出緩沖單元將其輸出置成三態(tài)而不影響對(duì)寫信號(hào)的測試。

            


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