基于OTDR技術(shù)的光纖測試方法探討
光纖通信是以光波作載波以光纖為傳輸媒介的通信方式。光纖通信由于傳輸距離遠(yuǎn)、信息容量大且通信質(zhì)量高等特點(diǎn)而成為當(dāng)今信息傳輸?shù)闹饕侄?,是“信息高速公路”的基石?a class="contentlabel" href="http://cafeforensic.com/news/listbylabel/label/光纖測試">光纖測試技術(shù)是光纖應(yīng)用領(lǐng)域中最廣泛、最基本的一項專門技術(shù)。OTDR是光纖測試技術(shù)領(lǐng)域中的主要儀表,它被廣泛應(yīng)用于光纜線路的維護(hù)、施工之中,可進(jìn)行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。OTDR具有測試時間短、測試速度快、測試精度高等優(yōu)點(diǎn)。
1 支持OFDR技術(shù)的兩個基本公式
OTDR(Optical Time Domain Reflectometer,光時域反射儀)是利用光脈沖在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產(chǎn)生的背向散射而制成的高科技、高精密的光電一體化儀表。半導(dǎo)體光源(LED或LD)在驅(qū)動電路調(diào)制下輸出光脈沖,經(jīng)過定向光耦合器和活動連接器注入被測光纜線路成為入射光脈沖。入射光脈沖在線路中傳輸時會在沿途產(chǎn)生瑞利散射光和菲涅爾反射光,大部分瑞利散射光將折射入包層后衰減,其中與光脈沖傳播方向相反的背向瑞利散射光將會沿著光纖傳輸?shù)骄€路的進(jìn)光端口,經(jīng)定向耦合分路射向光電探測器,轉(zhuǎn)變成電信號,經(jīng)過低噪聲放大和數(shù)字平均化處理,最后將處理過的電信號與從光源背面發(fā)射提取的觸發(fā)信號同步掃描在示波器上成為反射光脈沖。返回的有用信息由OTDR的探測器來測量,它們就作為被測光纖內(nèi)不同位置上的時間或曲線片斷。根據(jù)發(fā)射信號到返回信號所用的時間,再確定光在石英物質(zhì)中的速度,就可以計算出距離(光纖長度)L(單位:m),如式(1)所示。
式中,n為平均折射率,△t為傳輸時延。利用入射光脈沖和反射光脈沖對應(yīng)的功率電平以及被測光纖的長度就可以計算出衰減a(單位:dB/km),如式(2)所示:
2 保障OTDR精度的五個參數(shù)設(shè)置
2.1 測試波長選擇
由于OTDR是為光纖通信服務(wù)的,因此在進(jìn)行光纖測試前先選擇測試波長,單模光纖只選擇1 310 nm或1 550 nm。由于1 550 nm波長對光纖彎曲損耗的影響比1 310 nm波長敏感得多,因此不管是光纜線路施工還是光纜線路維護(hù)或者進(jìn)行實(shí)驗、教學(xué),使用OTDR對某條光纜或某光纖傳輸鏈路進(jìn)行全程光纖背向散射信號曲線測試,一般多選用1 550 nm波長。1 310nm和1 550 nm兩波長的測試曲線的形狀是一樣的,測得的光纖接頭損耗值也基本一致。若在1 550 nm波長測試沒有發(fā)現(xiàn)問題,那么1 310 nm波長測試也肯定沒問題。選擇1 550 nm波長測試,可以很容易發(fā)現(xiàn)光纖全程是否存在彎曲過度的情況。若發(fā)現(xiàn)曲線上某處有較大的損耗臺階,再用1 310 nm波長復(fù)測,若在1 310 nm波長下?lián)p耗臺階消失,說明該處的確存在彎曲過度情況,需要進(jìn)一步查找并排除。若在1 310 nm波長下?lián)p耗臺階同樣大,則在該處光纖可能還存在其他問題,還需要查找排除。在單模光纖線路測試中,應(yīng)盡量選用1 550 nm波長,這樣測試效果會更好。
2.2 光纖折射率選擇
現(xiàn)在使用的單模光纖的折射率基本在1.460 0~1.480 0范圍內(nèi),要根據(jù)光纜或光纖生產(chǎn)廠家提供的實(shí)際值來精確選擇。對于G.652單模光纖,在實(shí)際測試時若用1 310 nm波長,折射率一般選擇在1.468 0;若用1 550 nm波長,折射率一般選擇在1.468 5。折射率選擇不準(zhǔn),影響測試長度。在式(1)中折射率若誤差0.001,則在50 000 m的中繼段會產(chǎn)生約35 m的誤差。在光纜維護(hù)和故障排查時很小的失誤便會帶來明顯的誤差,測試時一定要引起足夠的重視。
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