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          電源測量小貼士(連載一):元器件選擇和特性分析

          作者: 時間:2016-08-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            編者按:電源設(shè)計人員的需求正變得越來越高,他們面臨著巨大的壓力,需要改善效率,降低成本,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計是一項復(fù)雜的工作,這一過程有許多校驗點。在這組博文中,我們將向您介紹10個設(shè)計階段中每個設(shè)計階段的測試要求,并給出小貼士,讓您的測試更高效,讓您的生活更輕松。

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201608/295566.htm

            在任何電源設(shè)計中,第一步都要選擇。良好的電源設(shè)計離不開電源及控制芯片。考慮到所有選項,為最優(yōu)設(shè)計選擇適當(dāng)?shù)碾娫?a class="contentlabel" href="http://cafeforensic.com/news/listbylabel/label/元器件">元器件可能會有點麻煩。縮小范圍,找到適當(dāng)?shù)脑骷旧砭头浅7爆?。各個**商的產(chǎn)品技術(shù)資料提供了與元器件功能有關(guān)的一手資料,但并不能保證在給定設(shè)計中提供最優(yōu)操作。在鎖定設(shè)計前,必需分析選定元器件在特定應(yīng)用中的特性,這可以明顯節(jié)省時間,減少問題。

            某些關(guān)鍵電源元器件,如MOSFETs和IGBTs,應(yīng)根據(jù)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行選擇,如額定電壓和電流、開機(jī)時間和關(guān)閉時間、輸入和輸出電容、開點狀態(tài)電阻和閉點狀態(tài)特點。

            **商產(chǎn)品技術(shù)資料最重要的細(xì)節(jié)之一可能是安全作業(yè)區(qū)(SOA)圖。應(yīng)采取相應(yīng)措施,了解在不同電壓和電流參數(shù)下的這一特點。問題是,**商提供的大多數(shù)SOA圖并沒有提供完整的畫面,因為這些圖只在25°C下有效。僅依據(jù)這些數(shù)據(jù)會給實現(xiàn)和設(shè)計帶來重大風(fēng)險,特別是熱量設(shè)計。必需在實際環(huán)境中分析部件特點,在這些環(huán)境中,電源元器件很少保持在理想的環(huán)境溫度之下。

            設(shè)計的這個階段沒有原型,很難仿真預(yù)計的額定電流和電壓。解決這個問題的最好方式是使用源測量單元,它可以驅(qū)動幾十安培的電流,生成可以測量的電壓。這有助于為應(yīng)用獲得實際I-V特點??梢允褂孟嗤脑O(shè)備,測量開點狀態(tài)特點的小的差異,如柵極閾值電壓、增益和開點電阻。同樣,對低電流閉點狀態(tài)測量,如泄漏電流,可以使用儀器,提供高電壓,生成可以測量的電流。

            對擊穿電壓,確保提供的電壓是器件工作電壓的幾倍,以便測量擊穿電壓。在簡單的兩端子器件或比較復(fù)雜的三四端子晶體管上測量器件電容相對于電壓關(guān)系時,一定要使用能夠測試器件DC工作電壓整個范圍的電容測量系統(tǒng)。注意,傳統(tǒng)LCR儀表會告訴你電容,但不是在整個工作電壓中。

            吉時利源測量單元可以作為四合一儀器:電壓/電流源、電壓/電流表、掃描分析儀、函數(shù)發(fā)生器,為這類測試提供了完美的解決方案。源表還包括可編程負(fù)載,可以測量元器件上的I-V特點,從幾µV到3KV,從幾fA到100A。一個很好的插件是IVy應(yīng)用,可以從GooglePlay下載,適用于安卓智能手機(jī)或平板電腦,您可以在元器件上無縫執(zhí)行電壓-電壓(I-V)特性分析。

            IVy應(yīng)用可以從GooglePlay中為安卓設(shè)備免費下載,可以方便地檢查元器件上的I-V特點。這是一個研討會鏈接,我們的專家介紹了怎樣分析和驗證功率半導(dǎo)體的性能。

            一旦選擇元器件,設(shè)計出原型,那么需要開機(jī)。在這一系列博文的下一篇博文中,我們將考察低壓DC電路開機(jī)測試,并提供多種小貼士,確保您能夠準(zhǔn)確地評估設(shè)計的性能。



          關(guān)鍵詞: 元器件 電源測量

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