色婷婷AⅤ一区二区三区|亚洲精品第一国产综合亚AV|久久精品官方网视频|日本28视频香蕉

          新聞中心

          EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 減少運(yùn)算放大器質(zhì)量控制的測試時間

          減少運(yùn)算放大器質(zhì)量控制的測試時間

          作者: 時間:2016-10-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          介紹

          本文引用地址:http://cafeforensic.com/article/201610/308099.htm

          工業(yè)和高精度應(yīng)用要求對非確定性噪聲的嚴(yán)格控制。也許需要某些測試來確保系統(tǒng)質(zhì)量,這是因?yàn)樵肼暤湫椭当硎疽欢〝?shù)量的器件中某一參數(shù)的平均值,而并不能保證單個器件不會超過特定水平值。

          未經(jīng)噪聲參數(shù)品質(zhì)保證的器件可進(jìn)行快速測試以確保質(zhì)量。針對(運(yùn)放)的大多數(shù)產(chǎn)品數(shù)據(jù)表在0.1Hz至10Hz的范圍內(nèi)規(guī)定一個1/f噪聲典型值(也被稱為閃變噪聲)。按慣例,在這些情況下,器件測試需要成百或上千秒的時間,從而大大地增加了上市時間和生產(chǎn)成本。

          此外,在寬帶寬范圍內(nèi)測得的噪聲密度也許并不是適用于所有系統(tǒng)或應(yīng)用。為了解決這個問題,本文使用現(xiàn)有的理論和實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)來系統(tǒng)地研究快速測試1/f區(qū)域任一部分內(nèi)的噪聲的測試方法。而且,還使用德州儀器 (TI) 生產(chǎn)的OPA1652低噪聲音頻運(yùn)放來比較理論值與實(shí)際測量結(jié)果。

          本文將噪聲顯示為一個密度函數(shù),其中的電壓噪聲密度單位為??赏ㄟ^將兩個感興趣的頻率之間(f1和f2)的功率頻譜密度進(jìn)行積分來計(jì)算出現(xiàn)的電壓噪聲,這一點(diǎn)與概率密度函數(shù)不同。將en用作噪聲頻譜密度來計(jì)算綜合電壓噪聲:

          通過分別取寬頻帶分量和1/f分量RMS值平方和的平方根可獲得運(yùn)放的寬頻帶噪聲和1/f噪聲的組合(等式2)。由于寬頻帶噪聲和1/f噪聲被模擬為無關(guān)聯(lián)噪聲源,這一點(diǎn)是有可能實(shí)現(xiàn)的。

          總體RMS電壓噪聲為:

          其中,Enf = 1/f RMS 噪聲 [VRMS],而EnBB = 寬頻帶RMS噪聲 [VRMS]。

          說明和原理

          標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)放的電壓噪聲密度曲線(圖表1)有兩個區(qū)域:被稱為寬頻帶噪聲區(qū)域的頻率無關(guān)區(qū)域;以及被稱為1/f噪聲區(qū)域的頻率相關(guān)區(qū)域。1/f噪聲區(qū)域是指1/f噪聲,而1/f噪聲,正如其名稱所表示的那樣,顯示為一個相對于頻率的1/f斜坡。較低頻率區(qū)間內(nèi)的主要噪聲為1/f噪聲,而在較高頻率范圍內(nèi)此類噪聲減少。這意味著它的測量時間要長于寬頻帶噪聲。由于低頻信號的周期在時域內(nèi)的完成時間較長,所以它的測量時間也比較長。寬頻帶噪聲等于1/f噪聲的那一點(diǎn)上的頻率被稱為角頻率。雙極和CMOS放大器的角頻率會因架構(gòu)和工藝的不同而有所不同。通常情況下,雙極放大器的角頻率要低于CMOS放大器的角頻率。

          圖表1.電壓噪聲密度曲線

          在數(shù)據(jù)表中,1/f區(qū)域中的噪聲通常表示為一個頻率范圍內(nèi)的峰值到峰值噪聲,而寬頻帶噪聲的表示形式為特定頻率上的電壓噪聲密度。噪聲頻譜密度的單位為。通過使用以下等式,可以計(jì)算出單個噪聲分量,前提是噪聲頻率密度固定。

          綜合寬頻帶噪聲(寬頻帶噪聲在頻率范圍內(nèi)保持恒定):

          其中,eBB = 寬頻帶頻譜噪聲密度 [],而BWn = 帶寬 [Hz]。

          綜合1/f噪聲分量:

          在這里,efnorm = 等式5中,1Hz時的標(biāo)準(zhǔn)化噪聲密度 [],fH = 頻帶上限 [Hz],而fL = 頻帶下限(典型值0.1Hz)[Hz]。1/f區(qū)域中,1Hz時的標(biāo)準(zhǔn)化噪聲密度為:

          其中,eknown = 1/f區(qū)域中的已知電壓噪聲密度 [],而fknown = 噪聲密度已知的1/f區(qū)域中的頻率 [Hz]。

          詳細(xì)的計(jì)算方法顯示在參考文獻(xiàn)1中,此計(jì)算方法已經(jīng)超出了本文的范圍。

          問題

          在噪聲敏感應(yīng)用中,選擇一個噪聲盡可能小的運(yùn)放對于保持準(zhǔn)確度和精度十分關(guān)鍵。當(dāng)為應(yīng)用選擇合適的運(yùn)放時,也許需要進(jìn)行仔細(xì)篩選來消除任何異常值。對于寬頻帶噪聲的測試可以很快進(jìn)行,這是因?yàn)閗Hz周期在幾毫秒的時間內(nèi)即可測得。然而,對于1/f噪聲分量并非如此。對于1/f噪聲區(qū)域的測量會需要0.1秒直到幾分鐘的時間,這取決于平均帶寬和電平。這是因?yàn)?.1Hz信號的一個周期至少需要10秒鐘才能完成。當(dāng)進(jìn)行平均時,所需時間會變得更長。此外,當(dāng)執(zhí)行快速傅里葉變換 (FFT) 來計(jì)算噪聲密度時,所需的分辨率帶寬也許會產(chǎn)生很多小時的測試時間。這就要求一個快速且精確的方法來外推出運(yùn)放的1/f噪聲。

          一個快速且簡單的解決方案

          測試放大器1/f分量的最快速方法是使用等式4和等式5來外推。1/f綜合噪聲與兩個頻率 (fL, fH) 比的自然對數(shù)的平方根成正比,在這個頻率范圍內(nèi)1/f噪聲是確定的。更進(jìn)一步說,可以認(rèn)為1/f RMS噪聲分量取決于兩個頻率:fH和fL之間的比率。下面給出了一個計(jì)算示例,其方法是在確定電壓噪聲密度曲線的情況下計(jì)算1/f RMS 噪聲(圖表1)。

          為了在兩個頻率范圍內(nèi),即1Hz至10Hz以及10Hz至100Hz,計(jì)算1/f RMS噪聲,假定在1Hz上有一條具有已知經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化噪聲密度efnorm的理想1/f曲線。這兩個范圍都位于噪聲頻譜密度曲線(圖表1)的1/f其主導(dǎo)作用的部分內(nèi)。這樣就確保來自寬頻帶噪聲部分的誤差可以忽略不計(jì)。等式4被用來比較針對兩個范圍的噪聲:

          請注意,針對Enf1和Enf2的等式是如何表示同一個針對1/f RMS 噪聲的值。這是因?yàn)檫@個等式取決于兩個頻率限值的比,而非頻率本身。適用此經(jīng)驗(yàn)法則需要三個關(guān)鍵條件:

          1. 1/f曲線必須接近功率頻譜上的1/f或者噪聲頻譜上的,

          2. 關(guān)注的區(qū)域必須在1/f起主導(dǎo)作用的噪聲頻譜區(qū)域內(nèi),并且比率必須一樣。

          通過使用這一方法,只要上面提到的頻率在1/f起主導(dǎo)作用的區(qū)域內(nèi),我們就可以通過仔細(xì)篩選10Hz到1kHz范圍內(nèi)的運(yùn)放來估算0.1Hz到10Hz 范圍內(nèi)的1/f RMS噪聲。這個頻率方面的變化將器件的測試時間縮短100倍,甚至更多。可在100毫秒內(nèi)獲得一個樣本,而不用為此等待10秒鐘。在使用CMOS放大器時節(jié)省的時間最多,這是因?yàn)樗慕穷l率要大于雙極放大器的角頻率。圖表2和3中的圖顯示放大器的峰值到峰值噪聲水平在不同的頻率范圍內(nèi)保持不變,前提是頻率比相等,并且測量值在1/f為主要噪聲因素的區(qū)域內(nèi)。

          圖表2. 0.1Hz至10Hz的電壓噪聲

          2.jpg

          圖表3. 1Hz至100Hz的電壓噪聲

          結(jié)論

          外推1/f噪聲分量的技巧只有在所有頻率處于1/f為主要噪聲因素的區(qū)域內(nèi)才有效。只要為外推選擇的帶寬足夠遠(yuǎn)離角頻率,這個技巧就具有極高的執(zhí)行準(zhǔn)確度,其原因是寬頻帶噪聲分量在這個區(qū)域內(nèi)很明顯。此外,1/f曲線必須接近功率頻譜上的1/f或者噪聲頻譜上的。大多數(shù)傳統(tǒng)半導(dǎo)體運(yùn)放遵守這個規(guī)則,值得注意的例外情況是斬波或自動歸零放大器,這些放大器沒有1/f噪聲區(qū)域。其中一個例子就是低噪聲、零漂移OPA2188。

          致謝

          本文作者希望向Art Kay和Matthew Pickett在概念和思路方面給予的指導(dǎo)致謝。

          參考文獻(xiàn)

          1. Art Kay,“分析和測量電路中的固有噪聲,”AnalogZone,2006年。

          在線版地址:www.ti.com/3q14-slyy061

          2. Art Kay,“噪聲:分析和減少噪聲的技巧和提示(第一版),”Elsevier Inc.,2012年1月27日



          評論


          相關(guān)推薦

          技術(shù)專區(qū)

          關(guān)閉