分立電阻器在最后的封裝狀態(tài)要進(jìn)行單點通過/失敗測試，這對確保產(chǎn)品符合制造商性能指標(biāo)至關(guān)重要，而且可以在出貨前識別劣質(zhì)電阻器以及輕微不良的電阻器。通常要對電阻器進(jìn)行兩項測試：電阻器電壓系數(shù)測試以及電阻器公差帶測試。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，這些測試必須可靠，但為了保持高生產(chǎn)量，測試必須迅速進(jìn)行。在許多分立電阻器生產(chǎn)測試中，還要使用分立儀器，如電源和數(shù)字萬用表等。

如果每天制造數(shù)百萬只電阻器，那么測試系統(tǒng)的吞吐量就至關(guān)重要。隨著測試中計算機(jī)控制儀器數(shù)量的增加，整個測試過程也變得較慢。如果必須進(jìn)行數(shù)學(xué)計算，如計算電壓系數(shù)，由于計算機(jī)計算需要時間以及必然發(fā)生等待控制，這可能進(jìn)一步降低系統(tǒng)吞吐量。

這個應(yīng)用筆記詳細(xì)說明如何利用2400型數(shù)字源表組裝、配置和操作分立電阻器生產(chǎn)測試系統(tǒng)，該數(shù)字源表可以作為電壓/電流源，并測量電流和電壓。這個方法具有較簡單的系統(tǒng)配置和較高的測試吞吐量。利用分立數(shù)字萬用表和電壓/電流源配置的測試系統(tǒng)，要比將這些功能集成在單一設(shè)備內(nèi)的系統(tǒng)占用更多的機(jī)架空間。除了設(shè)備成本較高，3個分立儀器還意味著要學(xué)習(xí)3套命令，從而使系統(tǒng)編程和維護(hù)更為復(fù)雜。使用多個儀器和信號源還將使觸發(fā)器定時更加復(fù)雜，并增加觸發(fā)的不確定性。此外，分立儀器運行的協(xié)同工作也將延長測量周期，這也會降低測試吞吐量。

這個應(yīng)用筆記對電阻器電壓系數(shù)測試和公差帶測試進(jìn)行了說明，對系統(tǒng)配置的通用算法以及IEEE總線操作進(jìn)行了介紹，并討論了典型的誤差來源。此外，還列出系統(tǒng)設(shè)備需求，并給出示例程序。該應(yīng)用筆記假設(shè)系統(tǒng)采用連續(xù)進(jìn)給操作，其中測試夾具每次只夾取一個電阻器。不過，為了適合多器件的“批量”操作，引入開關(guān)系統(tǒng)后，可以很容易對所介紹的技術(shù)進(jìn)行改造實現(xiàn)高速生產(chǎn)測試應(yīng)用。