編者按：電源設(shè)計(jì)人員的需求正變得越來(lái)越高，他們面臨著巨大的壓力，需要改善效率，降低成本，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計(jì)是一項(xiàng)復(fù)雜的工作，這一過程有許多校驗(yàn)點(diǎn)。在這組博文中，我們將向您介紹10個(gè)設(shè)計(jì)階段中每個(gè)設(shè)計(jì)階段的測(cè)試要求，并給出小貼士，讓您的測(cè)試更高效，讓您的生活更輕松。

　　在任何電源設(shè)計(jì)中，第一步都要選擇元器件。良好的電源設(shè)計(jì)離不開電源元器件及控制芯片?？紤]到所有選項(xiàng)，為最優(yōu)設(shè)計(jì)選擇適當(dāng)?shù)碾娫丛骷赡軙?huì)有點(diǎn)麻煩?？s小范圍，找到適當(dāng)?shù)脑骷?，本身就非常繁瑣。各個(gè)制造商的產(chǎn)品技術(shù)資料提供了與元器件功能有關(guān)的一手資料，但并不能保證在給定設(shè)計(jì)中提供最優(yōu)操作。在鎖定設(shè)計(jì)前，必需分析選定元器件在特定應(yīng)用中的特性，這可以明顯節(jié)省時(shí)間，減少問題。

　　某些關(guān)鍵電源元器件，如MOSFETs和IGBTs，應(yīng)根據(jù)關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行選擇，如額定電壓和電流、開機(jī)時(shí)間和關(guān)閉時(shí)間、輸入和輸出電容、開點(diǎn)狀態(tài)電阻和閉點(diǎn)狀態(tài)特點(diǎn)。

　　制造商產(chǎn)品技術(shù)資料最重要的細(xì)節(jié)之一可能是安全作業(yè)區(qū)(SOA)圖。應(yīng)采取相應(yīng)措施，了解在不同電壓和電流參數(shù)下的這一特點(diǎn)。問題是，制造商提供的大多數(shù)SOA圖并沒有提供完整的畫面，因?yàn)檫@些圖只在25°C下有效。僅依據(jù)這些數(shù)據(jù)會(huì)給實(shí)現(xiàn)和設(shè)計(jì)帶來(lái)重大風(fēng)險(xiǎn)，特別是熱量設(shè)計(jì)。必需在實(shí)際環(huán)境中分析部件特點(diǎn)，在這些環(huán)境中，電源元器件很少保持在理想的環(huán)境溫度之下。

　　設(shè)計(jì)的這個(gè)階段沒有原型，很難仿真預(yù)計(jì)的額定電流和電壓。解決這個(gè)問題的最好方式是使用源測(cè)量單元，它可以驅(qū)動(dòng)幾十安培的電流，生成可以測(cè)量的電壓。這有助于為應(yīng)用獲得實(shí)際I-V特點(diǎn)?？梢允褂孟嗤脑O(shè)備，測(cè)量開點(diǎn)狀態(tài)特點(diǎn)的小的差異，如柵極閾值電壓、增益和開點(diǎn)電阻。同樣，對(duì)低電流閉點(diǎn)狀態(tài)測(cè)量，如泄漏電流，可以使用儀器，提供高電壓，生成可以測(cè)量的電流。

　　對(duì)擊穿電壓，確保提供的電壓是器件工作電壓的幾倍，以便測(cè)量擊穿電壓。在簡(jiǎn)單的兩端子器件或比較復(fù)雜的三四端子晶體管上測(cè)量器件電容相對(duì)于電壓關(guān)系時(shí)，一定要使用能夠測(cè)試器件DC工作電壓整個(gè)范圍的電容測(cè)量系統(tǒng)。注意，傳統(tǒng)LCR儀表會(huì)告訴你電容，但不是在整個(gè)工作電壓中。

　　吉時(shí)利源測(cè)量單元可以作為四合一儀器：電壓/電流源、電壓/電流表、掃描分析儀、函數(shù)發(fā)生器，為這類測(cè)試提供了完美的解決方案。源表還包括可編程負(fù)載，可以測(cè)量元器件上的I-V特點(diǎn)，從幾µV到3 KV，從幾fA到100 A。一個(gè)很好的插件是IVy應(yīng)用，可以從Google Play下載，適用于安卓智能手機(jī)或平板電腦，您可以在元器件上無(wú)縫執(zhí)行電壓-電壓(I-V)特性分析。

　　IVy應(yīng)用可以從Google Play中為安卓設(shè)備免費(fèi)下載，可以方便地檢查元器件上的I-V特點(diǎn)。這是一個(gè)研討會(huì)鏈接，我們的專家介紹了怎樣分析和驗(yàn)證功率半導(dǎo)體的性能。

　　一旦選擇元器件，設(shè)計(jì)出原型，那么需要開機(jī)。在這一系列博文的下一篇博文中，我們將考察低壓DC電路開機(jī)測(cè)試，并提供多種小貼士，確保您能夠準(zhǔn)確地評(píng)估設(shè)計(jì)的性能。

　　原型制作是設(shè)計(jì)中比較激動(dòng)人心的步驟之一。在這個(gè)階段，在理想情況下，您已經(jīng)看到設(shè)計(jì)愿景就要變成現(xiàn)實(shí)，如果一切能夠照計(jì)劃進(jìn)行的話?？赡軙?huì)出現(xiàn)很多問題，如電路板布線、焊點(diǎn)、元器件貼裝和寄生電容等，因此在測(cè)試原型電源時(shí)，最好要審慎。

　　這是一種常見作法，但仍需指出的是，應(yīng)使用數(shù)字萬(wàn)用表檢查所有輸入和輸出階段是否有短路。同樣，還要檢查電路板上所有關(guān)鍵功率點(diǎn)，確保電路不會(huì)非故意短路。應(yīng)盡可能把低壓模擬電路和數(shù)字電路隔離成多個(gè)子電路，這在發(fā)生問題時(shí)有助于調(diào)試問題及控制損失。

　　電路板很可能至少有一個(gè)輔助電源。下一步是隔離這個(gè)電源，在有負(fù)載和沒負(fù)載的情況下測(cè)試輸出。這有助于分析電源本身的特性，幫助隔離存在的任何問題。可以使用精密萬(wàn)用表檢查電壓和紋波，如DMM 7510 (如上圖所示)，確保所有指標(biāo)都滿足規(guī)范。DMM7510的圖形界面也可以幫助您在屏幕上觀察高頻紋波。如果您想進(jìn)一步了解紋波測(cè)量，這里的應(yīng)用指南為您介紹了詳細(xì)的測(cè)量過程。

　　在隔離電源的同時(shí)，應(yīng)檢查機(jī)載電源供電的所有低壓電路。應(yīng)使用隔離DC電源，如吉時(shí)利2280S，為各個(gè)低壓子電路供電，而不是使用機(jī)載電源。這將有助于隔離與各個(gè)子電路有關(guān)的問題。

　　機(jī)載電源偶爾有多個(gè)輸出，您可以使用擁有多條隔離通道的DC電源。可以使用DC電源，同時(shí)顯示編程設(shè)置和實(shí)際被測(cè)輸出。您可以查看DC階段是否吸收太多的電流。另一個(gè)選項(xiàng)是在電源和被測(cè)器件之間連接一臺(tái)DMM，如DMM 7510，密切監(jiān)測(cè)吸收電流和功耗。在這個(gè)階段，您還應(yīng)根據(jù)需要測(cè)試每條子電路的待機(jī)電流和狀態(tài)電流。吉時(shí)利2280S精密測(cè)量電源提供了10 nA分辨率和0.05%精度，可以幫助您在現(xiàn)代高效設(shè)計(jì)中進(jìn)行超低電流測(cè)試。

　　最后，如果您需要為被測(cè)系統(tǒng)提供精密電壓，可以考慮使用4線遠(yuǎn)程傳感臺(tái)式電源。這種設(shè)備可以消除臺(tái)式電源與被測(cè)系統(tǒng)之間的導(dǎo)線中的任何電壓下跌產(chǎn)生的影響。

　　在下一篇博文中，我們將考察高壓AC電路開機(jī)。

　　本系列博文覆蓋了電源測(cè)試的全程，在本篇博文中，我們將介紹第一次遇到高電壓時(shí)進(jìn)行原型測(cè)試的各個(gè)步驟。此外，我們將為您推薦完成這些任務(wù)所需的最佳儀器。

　　在第一次開機(jī)過程中，我們先把高壓階段與低壓階段隔開。我們建議使用具有限流功能的AC電源。一旦選擇了AC電源，先從設(shè)計(jì)的最低AC電壓入手，這是一個(gè)關(guān)鍵步驟，有助于減少重大熔斷風(fēng)險(xiǎn)，如焊接不良、組裝差或PCB設(shè)計(jì)錯(cuò)誤等潛在問題導(dǎo)致的熔斷。

　　現(xiàn)在開始測(cè)量AC輸入電壓和電流。我們建議使用相應(yīng)等級(jí)的差分探頭和電流探頭。如果您使用鉗夾電流探頭測(cè)量未負(fù)載系統(tǒng)吸收的低AC輸入電流，實(shí)際上您會(huì)提高探頭看到的電流。為此，把線路導(dǎo)體簡(jiǎn)單地多次循環(huán)通過鉗夾。記住，要把電流讀數(shù)除以圈數(shù)。

　　現(xiàn)在準(zhǔn)備就緒，被測(cè)器件即將通電。但在通電前，應(yīng)在AC輸入上使用示波器或功率分析儀，并啟用記錄功能，確保捕獲涌入電流和瞬態(tài)事件。我們建議使用PA1000功率分析儀，這是為快速、高效、準(zhǔn)確地測(cè)量功耗而優(yōu)化的。這臺(tái)功率分析儀還提供了涌入電流模式，測(cè)試電流涌入期間的峰值。

　　如果您想記錄啟動(dòng)電流，可以使用擁有連續(xù)記錄功能的功率分析儀。在開機(jī)過程中發(fā)生災(zāi)難性故障時(shí)，這有助于保存數(shù)據(jù)，因此我們強(qiáng)烈推薦這種作法。

　　需要更多的洞察力？可以使用DPOPWR示波器軟件，其提供了全面功率分析套件，可以幫助您在開機(jī)過程中測(cè)量和調(diào)試輸入AC功率參數(shù)。

　　一旦檢查了各個(gè)項(xiàng)目，現(xiàn)在可以啟用低壓控制電路，全面了解相關(guān)信息。

　　敬請(qǐng)關(guān)注后續(xù)博文，了解檢查控制邏輯有關(guān)的各個(gè)步驟。

　　在這篇博文中，我們將向您介紹檢查電源設(shè)計(jì)控制邏輯的基礎(chǔ)知識(shí)。

　　毋庸置疑，這是設(shè)計(jì)最重要、也是最復(fù)雜的部分。在這個(gè)階段，您將執(zhí)行測(cè)試，以便獲得正確補(bǔ)償、電壓、定時(shí)和頻響，具體任務(wù)包括：

• 在開機(jī)過程中測(cè)量開關(guān)器件驅(qū)動(dòng)裝置上的調(diào)制信號(hào)，檢驗(yàn)不同負(fù)載下開關(guān)頻率、脈寬和占空比是否正確

• 通過使用控制環(huán)路中的寬帶變壓器注入掃頻信號(hào)，檢查環(huán)路頻響

• 使用頻響分析儀，測(cè)量電路的增益和相位

　　在這個(gè)時(shí)候，必需監(jiān)測(cè)輸入電壓和輸出電路及反饋或控制信號(hào)。這有助于確保環(huán)路響應(yīng)(如臨界阻尼)，而這正是輸入電壓和輸出負(fù)載變化期間您所預(yù)期的東西。

　　為檢驗(yàn)電路操作，如軟啟動(dòng)、短路保護(hù)、關(guān)斷和電流折回，您需要監(jiān)測(cè)輸入電壓和輸出電壓及控制信號(hào)。

　　對(duì)數(shù)控電壓，您需要捕獲模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)和串行總線控制信號(hào)的時(shí)間相關(guān)視圖。您可以查看系統(tǒng)操作，確保系統(tǒng)正確運(yùn)行。

　　對(duì)這些任務(wù)，一定要考察DPOPWR高級(jí)功率測(cè)量和分析軟件，其把泰克基于Windows的示波器轉(zhuǎn)換成完善的調(diào)試和分析工具。這個(gè)軟件可以為多項(xiàng)測(cè)量配備自定義設(shè)置。您還可以測(cè)量和分析開關(guān)器件中的功耗，分析磁性參數(shù)，所有這一切都從一次采集中獲得。

　　一旦全面調(diào)試設(shè)計(jì)的控制邏輯，應(yīng)檢查電源階段的開關(guān)特點(diǎn)。在下一篇博文中，我們將介紹怎樣檢查電源階段的開關(guān)特點(diǎn)。如需進(jìn)一步了解DPOPWR軟件，請(qǐng)參閱：http://www.tek.com/datasheet/dpopwr-datasheet-0。

　　在這篇博文中，我們將介紹在無(wú)負(fù)載、標(biāo)稱負(fù)載和全負(fù)載條件下測(cè)試開關(guān)特點(diǎn)的各個(gè)步驟。

　　在開始前，應(yīng)確保所有開關(guān)的啟動(dòng)、關(guān)閉、占空比和死區(qū)時(shí)間都符合預(yù)期，如MOSFETs和IGBTs。泰克示波器包括一種高分辨率模式，從根本上提高了垂直分辨率，因此可以使用最高精度計(jì)算啟動(dòng)和關(guān)閉時(shí)間。

　　盡管電源的幾乎所有組件都會(huì)發(fā)生能量損耗，但絕大部分損耗發(fā)生在開關(guān)晶體管從關(guān)閉狀態(tài)轉(zhuǎn)換到打開狀態(tài)（或反之）的時(shí)候。使用所有開關(guān)周期的啟動(dòng)損耗和關(guān)閉損耗的軌道圖(在DPOPWR軟件中提供)，可以更加全面地了解開關(guān)損耗，如下圖所示。

　　這時(shí)，要檢查所有 VGS 信號(hào)的噪聲和碰撞。這是一個(gè)重要步驟，因?yàn)檫@個(gè)端子上任何非預(yù)計(jì)的毛刺都可能會(huì)導(dǎo)致不想要的啟動(dòng)和擊穿。為保證不可能出現(xiàn)擊穿，應(yīng)檢查同步整流器或H橋接器的死區(qū)時(shí)間。

　　然后，檢驗(yàn)門驅(qū)動(dòng)器和相關(guān)儀器之間的定時(shí)關(guān)系，確保其與設(shè)計(jì)的計(jì)算結(jié)果相符。

　　為安全地測(cè)量非參考地電平的信號(hào)，我們建議使用相應(yīng)額定電壓的差分探頭。一定不要浮動(dòng)示波器，因?yàn)槠鋾?huì)導(dǎo)致不好的結(jié)果。您可以考慮TDP1000、TDP0500或P6251高壓差分探頭，具體視應(yīng)用而定。每種探頭都實(shí)現(xiàn)了高速寬帶采集和測(cè)量功能，提供了杰出的電氣性能、通用被測(cè)器件連接，而且都使用方便。

　　毫無(wú)疑問，很難測(cè)量浮動(dòng)門信號(hào)。我們建議在門驅(qū)動(dòng)器輸入上探測(cè)信號(hào)，這樣您可以檢驗(yàn)頂部FET與底部FET之間的死區(qū)時(shí)間。

　　在最低電壓轉(zhuǎn)換速率上測(cè)量電流也可以幫助您最大限度地減少串?dāng)_，改善精度。

　　如需了解開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗測(cè)試要點(diǎn)，請(qǐng)參閱本系列博文中的第6篇博文。

　　在電源測(cè)試系列的本篇博文中，我們將介紹測(cè)試電源開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的各個(gè)步驟。

　　記住，經(jīng)過電源開關(guān)和磁性器件的開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗對(duì)系統(tǒng)整體損耗有著巨大影響，正因如此，應(yīng)盡可能精確地使這些損耗達(dá)到最小，這一點(diǎn)至關(guān)重要。

　　首先，記住不要單純依賴產(chǎn)品技術(shù)資料，它們經(jīng)常會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)，特別是在計(jì)算開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗時(shí)。此外，它們沒有考慮工作條件和電路寄生信號(hào)，也沒有提供完善的損耗信息。

　　在測(cè)試時(shí)，首先應(yīng)檢查整流器開關(guān)，如電路活動(dòng)和負(fù)載時(shí)MOSFETs、IGBTs和磁性器件的損耗。由于大多數(shù)磁性器件采用定制設(shè)計(jì)，如開關(guān)器件，因此最好在工作狀態(tài)下測(cè)試磁性器件。這一步可以正確分析其特性。

　　在測(cè)量開關(guān)損耗時(shí)，我們推薦使用MS05000B示波器，并配備相應(yīng)的電壓探頭和電流探頭。為實(shí)現(xiàn)最好的精度和可重復(fù)性，在進(jìn)行任何測(cè)量前應(yīng)先校正探頭時(shí)延，為了保證確定周期內(nèi)結(jié)果的準(zhǔn)確性，應(yīng)使用濾波功能和平均功能。

　　在使用示波器測(cè)量開關(guān)損耗時(shí)，先把電壓乘以電流。然后取啟動(dòng)或關(guān)閉過程中得到的功率波形的中間值。當(dāng)然，功率分析軟件可以大大簡(jiǎn)化這個(gè)過程，因此我們強(qiáng)烈推薦使用功率分析軟件。

　　為動(dòng)態(tài)測(cè)試磁性功率損耗和磁性屬性，建議使用我們的DPOPWR軟件。這個(gè)軟件提供了自動(dòng)計(jì)算功能，在電路活動(dòng)時(shí)，可以測(cè)量高功率開關(guān)上的可重復(fù)開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗。

　　在一切就緒后，您可以轉(zhuǎn)向第7篇博文，其將介紹效率和規(guī)范測(cè)試。

　　在本篇電源測(cè)試博文中，我們將介紹電源指標(biāo)檢查。在這個(gè)部分，您要確保設(shè)計(jì)滿足效率標(biāo)準(zhǔn)和其他要求的規(guī)范，如線路和負(fù)載穩(wěn)壓、紋波、噪聲、短路保護(hù)、瞬態(tài)響應(yīng)和效率。

　　首先檢查負(fù)載穩(wěn)壓。我們建議在設(shè)計(jì)的輸入端子和輸出端子上直接使用高精度DMM。然后，從最小值到最大值掃描負(fù)載。記住，非常重要的一點(diǎn)是在測(cè)試過程中使輸入電壓保持恒定?，F(xiàn)在，記錄輸出電壓相對(duì)于負(fù)載的任何變化，確定負(fù)載穩(wěn)定。

　　其次，檢查線路穩(wěn)壓?？梢允褂妙愃频脑O(shè)置測(cè)試線路穩(wěn)壓，其中在恒定負(fù)載中測(cè)量輸出電壓，同時(shí)從最小值到最大值掃描輸入AC電壓。這種測(cè)試對(duì)通用輸入電源尤其重要。

　　第三，檢查全負(fù)載時(shí)的噪聲和紋波。對(duì)這項(xiàng)任務(wù)，我們推薦使用為高分辨率測(cè)量?jī)?yōu)化的示波器或高精度圖形采樣萬(wàn)用表。示波器一般會(huì)提供更高的帶寬，而萬(wàn)用表的精度則要更高。

　　吉時(shí)利DMM7510圖形采樣萬(wàn)用表是一個(gè)優(yōu)秀的備選方案。這臺(tái)儀器有一個(gè)18位1 MS/s數(shù)字化器，可以捕獲快速瞬態(tài)信號(hào)和小紋波。同時(shí)，它可以在5英寸大型觸摸屏界面上顯示結(jié)果。

　　在進(jìn)行規(guī)范檢查時(shí)，一定要使用功率分析儀記錄效率，同時(shí)掃描所有工作條件下的輸入電壓和輸出負(fù)載。我們最新推出的PA3000多通道功率分析儀提供了理想的解決方案，它提供了0.04%精度和10mW待機(jī)功率功能，可以從無(wú)負(fù)載到全負(fù)載準(zhǔn)確地進(jìn)行效率和功率測(cè)量。下圖是AC-DC電源效率測(cè)量的典型設(shè)置。

　　如果您打算使用示波器測(cè)量低電平電壓，如紋波，應(yīng)使探頭衰減達(dá)到最小(可能時(shí)采用1X或2X)。這將在示波器測(cè)量中提供最好的信噪比。此外，在線路或負(fù)載穩(wěn)壓測(cè)試中，永遠(yuǎn)不要依賴AC電源或電子負(fù)載讀數(shù)，而是應(yīng)在電源端子上直接使用精密儀器。這將提供更好的測(cè)量精度，最大限度地減少輸入電纜和輸出電纜中的電壓暫降。

　　最后，如果您打算測(cè)量高頻噪聲和紋波，應(yīng)使用低電感接地彈簧探頭適配器(或類似裝置)。標(biāo)準(zhǔn)探頭地線可以作為天線，從熒光燈和其他來(lái)源中撿拾環(huán)境噪聲，可能會(huì)在讀數(shù)中產(chǎn)生明顯誤差。

　　在第8篇博文中，我們將討論電源線一致性測(cè)試。

　　第一臺(tái)原型應(yīng)已經(jīng)能夠啟動(dòng)運(yùn)行。現(xiàn)在應(yīng)檢查設(shè)計(jì)，確保其滿足本地電源線標(biāo)準(zhǔn)。

　　在開始測(cè)試前，應(yīng)該指出，大多數(shù)AC-DC電源都是為使用AC墻上插座而設(shè)計(jì)的。因此，它們需要滿足嚴(yán)格的功耗和功率質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，如IEC 62301待機(jī)功率和IEC 61000-3-2電流諧波標(biāo)準(zhǔn)。應(yīng)一直在設(shè)計(jì)周期早期執(zhí)行一致性測(cè)試，以幫助您避免未來(lái)發(fā)生的問題。

　　在下面的視頻中，泰克工程師Seshank Malap介紹了怎樣使用泰克功率分析儀測(cè)量手機(jī)充電器的待機(jī)功率，以確保設(shè)計(jì)滿足IEC 62301。必需注意，在測(cè)量低的和失真的待機(jī)功率時(shí)，必需復(fù)核連接。一定要確保連接電流并聯(lián)源側(cè)的電壓表通道，從而不會(huì)測(cè)量經(jīng)過電壓表阻抗的電流。這一步非常關(guān)鍵，因?yàn)榫€序不正確可能會(huì)導(dǎo)致明顯錯(cuò)誤。

　　連接市電的幾乎所有電氣設(shè)備和電子設(shè)備，包括16A及以下的額定輸入電流，都必須滿足IEC 61000-3-2。在下面的視頻中，Seshank演示了使用PA1000功率分析儀及PWRVIEW軟件在標(biāo)準(zhǔn)微波爐上執(zhí)行諧波測(cè)試。

　　泰克為CE標(biāo)志、能源之星、IEC待機(jī)和諧波標(biāo)準(zhǔn)提供了經(jīng)濟(jì)的預(yù)一致性測(cè)試解決方案。對(duì)預(yù)算有限的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)，PA1000功率分析儀提供了理想的解決方案。這臺(tái)儀器擁有20 uA電流測(cè)量功能，可以測(cè)量最低5 mW的待機(jī)功率。

　　對(duì)一致性測(cè)試應(yīng)用，泰克接續(xù)盒是必備工具，它為負(fù)載測(cè)量和源側(cè)測(cè)量提供了兩個(gè)不同的端子。此外，接續(xù)盒使用方便安全，可以獲得準(zhǔn)確的低功率讀數(shù)，執(zhí)行待機(jī)功率測(cè)試。

　　本系列博文共10篇，第9篇將考察EMI調(diào)試和預(yù)一致性測(cè)試。另外，對(duì)高效應(yīng)用的多通道測(cè)試，歡迎品鑒我們最新的PA3000功率分析儀。

　　這一系列博文共10篇，本文是第9篇，將重點(diǎn)考察EMI和RFI 測(cè)試。由于測(cè)試難度和測(cè)試成本，這個(gè)階段經(jīng)常被忽略。但是，隨著設(shè)計(jì)期限的迫近，忽略這個(gè)步驟可能會(huì)導(dǎo)致意外事件和延遲。我們強(qiáng)烈推薦在設(shè)計(jì)早期測(cè)試EMC問題，以避免不必要的電路板返工和延期。

　　因此，您可以利用頻譜分析儀和預(yù)先確定的EMI一致性測(cè)試模板，在去測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行一致性測(cè)試之前找到這些討厭的EMI問題。

　　泰克RSA306B 頻譜分析儀是一個(gè)優(yōu)秀的選項(xiàng)。這種經(jīng)濟(jì)的基于USB的儀器提供了實(shí)時(shí)頻譜分析功能，同時(shí)可以確定持續(xù)時(shí)間很短的EMI突發(fā)。這臺(tái)儀器的長(zhǎng)記錄時(shí)間還可以捕獲偶發(fā)突發(fā)。

　　為了迅速找到EMI來(lái)源，我們建議使用混合域示波器(MDO)，其中內(nèi)置頻譜分析儀和近場(chǎng)探頭。憑借倍受信賴的MDO和示意圖，您可以簡(jiǎn)便地測(cè)量頻譜峰值，找到根本原因。

　　在評(píng)測(cè)MDO時(shí)，其他儀器很難望MDO4000C的項(xiàng)背，因?yàn)樗梢栽谝慌_(tái)儀器上同時(shí)查看設(shè)計(jì)的時(shí)域性能和頻域性能。MDO4000C配備強(qiáng)大的觸發(fā)、搜索和分析工具，可以找到模擬和數(shù)字異常事件。通過這臺(tái)儀器，您可以解碼串行總線和波形，隨時(shí)查看RF頻譜。最后，儀器標(biāo)配的SignalVu-PC軟件可以對(duì)Wi-Fi和藍(lán)牙無(wú)線信號(hào)執(zhí)行全面分析和調(diào)試。

　　如需操作指引及了解怎樣執(zhí)行EMI測(cè)試和調(diào)試，可以下載實(shí)用EMI調(diào)試應(yīng)用指南。

　　在這一系列博文的最后一篇博文中，我們將考察設(shè)計(jì)驗(yàn)證，幫助您面向下一輪設(shè)計(jì)做好準(zhǔn)備。