下面簡單介紹一下Conducted spurious emissions when transmitting（處于發(fā)射狀態(tài)的傳導雜散）的測試。

測試意圖：在EUT工作的狀態(tài)下，通過EUT上的天線連接器使用傳導方式連接到測試系統(tǒng)上，檢測EUT處于發(fā)射時的雜散信號。

測試搭建簡圖：

測試方法：
1）用射頻線按上圖進行功分器（POWER SPLITTER）的連接，并使用信號源和頻譜儀（Spectrum Analyzer）測量5515C到EUT和EUT到頻譜儀這兩條路徑的損耗，然后記錄損耗值。
2）測量完損耗后按照簡圖將EUT與E5515C、頻譜儀連接到功分器，把功分器衰減較大的一端接到頻譜儀上。
3）在E5515C上調整信道號和路徑損耗的補償，然后按照下列表格中的參數(shù)設置E5515C。

4）EUT與E5515C之間建立呼叫連接，然后將E5515C參數(shù)調到all up bits的功率控制模式，使EUT以最大功率輸出。
5）在頻譜儀上設置好路徑損耗的補償，然后按照以下表格根據(jù)頻率分段測試傳導雜散，所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規(guī)定的限值，并記錄測得的數(shù)據(jù)。

6）然后按照以下表格重新設置E5515C的參數(shù)。

7）EUT與E5515C重新建立呼叫連接，把E5515C參數(shù)設置為0和1交替的功率控制模式。
8）按照以下表格重新設置頻譜儀，根據(jù)頻率分段測試傳導雜散，所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規(guī)定的限值，并記錄測得的數(shù)據(jù)。

以上是對CDMA終端傳導雜散測試的簡單介紹, 此后我們將分批分期的對其它涉及CDMA部分的射頻測試進行一一闡述, 敬請關注。