真正流過的電流由電流注入處裝置的共模阻抗決定，而在低頻下這幾乎完全由EUT和電纜裝置另一端所連接的相關(guān)設(shè)備對地的阻抗決定。一旦電纜長度達(dá)到四分之一波長，阻抗的變化就變得十分重要，它可能降低測試的可重復(fù)性。此外，由于電流注入探頭會(huì)帶來損耗，因而需要較大的驅(qū)動(dòng)能力才能在BUT上建立起合理的干擾水平。盡管如此，BCI法還是有一個(gè)很大的優(yōu)點(diǎn)，那就是其非侵入性，因?yàn)樘筋^可以簡單地夾在任何直徑不超過其最大可接受直徑的電纜上，面不需進(jìn)行任何直接的電纜導(dǎo)體連接，也不會(huì)影響電纜所連接的工作電路。BCI測試法應(yīng)在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行，以獲得正確的測試結(jié)果。一般BCI測試法所適用的頻率范圍為1～400MHz（或延伸至1000MHz）。BCI法測試配置如圖所示。

　　圖 BCI法測試配置圖

　　1一被測設(shè)各；2一被測設(shè)各的測試線束；3一負(fù)載仿真器，4一被測設(shè)備仿真與監(jiān)視系統(tǒng)；

　　5一電源供應(yīng)器；6一人造電源網(wǎng)絡(luò)；7一光纖；8一射頻儀器；9一射頻監(jiān)視夾具；

　　10一射頻注人夾具；11一接地平面測試桌；12一絕緣物，13一屏蔽室